книги из ГПНТБ / Зубов В.А. Методы измерения характеристик лазерного излучения
.pdfобеспечить преемственность эталона длины, Международ ное бюро мер и весов приняло рекомендацию, что все дальнейшие определения должны быть согласованы
с цифрой 6438,4696 Л для длины волны красной линии кадмия [77]. В 1958 г. Международное бюро приняло решение о введении нового эталона длины, в качестве которого принята длина волны оранжевой линии изотопа криптона с массовым числом 86, соответствующая пере
ходу между уровнями 2р10 и Ы5 (Хпаі.=6057,802105 А) [78,‘ 79].
Длины волн других линий определяются по отноше нию к эталону длины.
Международный астрономический союз определил большое число вторичных стандартов (нормалей) длин волн. Эти вторичные стандарты — линии, длина волны которых сравнена с красной линией кадмия интерферо метрическими методами. Линия принималась в качестве стандарта только в том случае, если измерения для нее были выполнены не менее чем в трех лабораториях и по лученные результаты совпадали [76]. Эти линии располо
жены приблизительно через 50 Â во всем диапазоне ви димого спектра. Большинство линий вторичных стандар тов являются линиями дугового спектра железа. Это обусловлено тем, что спектр этот легко получается и, кроме того, богат линиями. Условия получения спектра строго определены: «дуга работает при напряжении от 110 до 220 в и силе тока от 5 я и меньше; используется центральная зона дуги длиной от 12 до 15 мм и шириной 1—1,5 мм под прямым углом к оси дуги; верхним элек тродом является железный стержень диаметром 6—7 мм, а нижним электродом — шарик из окиси железа». Между народным' астрономическим союзом принято в качестве вторичных стандартов 306 линий спектра железа в ин
тервале 6677—2447 Â. Оценено, что значения длин волн
этих линий верны с точностью до 0,001—0,002 Â. В ка честве вторичных стандартов принято также 20 линий спектра неона (5852—7032 А) и 20 линий спектра крип тона (4273—6456 А). Точность измерений оценивается в 0,0001 А.
Утверждены третичные стандарты— линии, длины воли которых получены интерполированием на приборах с ди фракционными решетками. К ним относятся 312 линий спектра железа (3371—6750 А) [80].
80
Более подробно вопросы стандартов длин волн рас смотрены в [75].
В других областях спектра линии измерены с меньшей надежностью, поэтому они не приняты в качестве стан дартов.
Если не требуется очень большой точности определения длины волны, например, в случае отождествления спектра, то можно пользоваться значительно большим набором линий; длины волн таких линий содержатся в атласах (например, [81—83]). Очень удобны в этом отношении стандартные спектрограммы железа [84], причем для удобства использования желательно, чтобы эти спектры были получены на том же приборе, на котором произво дится работа.
Два замечания касаются градуировки приборов, пред назначенных для измерений в инфракрасной области спектра. Градуировка в этой области может проводиться по линиям некоторых спектров поглощения [85, 86]. например, полосы воды могут использоваться для гра дуировки в области 5,0—7,9 мкм, полосы аммиака — в области 7,9—14,0 мкм, полосы двуокиси азота — в об ласти 13,8—15,4 мкм. Эти полосы достаточно хорошо промерены на приборах с дифракционными решетками.
В более далекой инфракрасной области можно поль зоваться для градуировки полосами селективного отра жения кристаллов различных солей [87]. Положение этих полос промерено на приборах с дифракционными
решетками. |
Соответствующие |
значения |
приведены |
|||
в табл. 14 [74]. - |
|
|
|
|
||
|
|
|
|
Т а б л и ц а |
14 |
|
|
|
Длина волны |
|
|
Длина'волны |
|
Вещество |
полосы селектив |
Вещество |
полосы селек |
|||
ного отражения, |
тивного отра |
|||||
|
|
ліклс |
|
|
жения, ЛСКЛІ |
|
MgO |
|
21 |
|
КВг |
79 |
|
LiF |
|
26 |
|
КІ |
92 |
|
NaF |
|
34 |
|
СаВг, |
122 |
|
BaF, |
|
34 |
|
Т1С1 |
130 |
|
|
45 |
|
ТІВг |
145 |
|
|
NaCl |
|
53 |
|
155 |
|
|
KCl |
|
65 |
|
|
|
|
6 Зубов в. |
|
А. |
|
|
|
81 |
Другой метод градуировки инфракрасных приборов заключается в следующем. В качестве стандартов бе рутся линии видимой области спектра или близкой инфра красной. При работе на приборах с дифракционными решетками эти линии в высоких порядках дифракции налагаются на более длинноволновые линии. Так, на пример, длина волны 0,6 мкм в спектре 10-го порядка налагается на длину волны 0,75 мкм в спектре 8-го по рядка, на длину волны 1 мкм в спектре 6-го порядка, 1,5 мкм в спектре 4-го порядка, 2 мкм в спектре 3-го по рядка, 3 мкм в спектре 2-го порядка и 6 мкм в спектре 1-го порядка. Длина волны, которую нужно определить, измеряется с помощью интерполяции между набором реперов такого рода. Этот метод дает вполне удовлетво рительную точность.
В атласах и таблицах длипы волн спектральных ли ний обычно приводятся для воздуха. Определить длину волны в вакууме можно, пользуясь соотношением Хоак=
= Хв0:)7г, |
где п — коэффициент преломления воздуха, ко |
||
торый |
с достаточной |
точностью может быть рассчитан |
|
по формуле [75] |
|
|
|
|
(п — 1) • 10е = |
272,599 + |
0,01318 |
|
|
где длина волны выражена в мкм. Соотношение относится к случаю нормального давления и температуре 15 °С. Знание длины волны, определенной в вакууме, важно при переходе к частотам или волновым числам (единицам, принятым в спектроскопии). Волновое число определяет число длин воли, укладывающихся в 1 cat, т. е. ѵ—
==108/X]mK cat-1, где \ ак выражено в Л.
§ 2. Съемка и измерение спектров
Для измерения длин волн в каком-нибудь спектре фотографическим методом с использованием, скажем, вторичных стандартов, на фотопластинку снимают иссле дуемый спектр и стандартный спектр. Для правильной расшифровки спектра необходимо, чтобы эти спектры ие были смещены один относительно другого по частотам или длинам воли. В практической работе приходится для этого принимать ряд мер предосторожности
[66, 68, 71, 75, 88].
82
Чтобы избежать нежелательного сдвига при съемке двух указанных спектров, кассету спектрального при бора с фотографической пластинкой не двигают. Съемка производится с помощью диафрагмы Гартмана, позволяю щей получить два спектра, расположенных рядом. Диа фрагма должна легко передвигаться перед щелью, с тем чтобы при передвижении ие сдвинуть щель, так как это приведет к смещению спектра. На фотоснимке, получен ном с помощью диафрагмы Гартмана, границы спектров несколько заходят друг за друга. Это удобно при даль нейшем промере спектрограммы.
Следует обратить внимание на расположение иссле дуемого и стандартного источников: оба эти источника должны располагаться по возможности одинаково по от ношению к оси спектрального прибора. Если один из источников несколько смещен от оси, то это может вы звать смещение линий хотя бы из-за того, что линза коллиматора освещается по-разному. При практических измерениях это смещение всегда следует иметь в виду. Чтобы избеяшть неточностей, можно рекомендовать пос ле съемки одного источника его удалить, точно на его место поставить другой и вновь произвести съемку. Правда, зачастую даже такая замена не может обеспечить одинаковости освещения, так как источники могут сильно различаться по своей геометрии, например, разрядная трубка и дуговой разряд. В этом случае следует тщательно
проверить, одинаково |
ли |
заполнение прибора светом |
от обоих источников. |
Как |
более удобная разновидность |
указанного метода может использоваться система, в ко торой оба источника установлены, а меняется направле ние света с помощью поворотной призмы или зеркала.
При длительных временах экспозиции и при точных съемках следует иметь в виду, что смещение спектров может быть вызвано изменением температуры, измене нием давления и т. и. В качестве меры предупреждения используется термостатирование приборов и помещений. Следует еще раз подчеркнуть, что эти смещения сущест венны при длительных временах экспозиции и при точ ных измерениях._ Очень заметными могут быть всевоз можные механические воздействия, вибрация, толчки и т. п. Они могут вызвать смещение фотопластинки в кас сете, смещение самой кассеты, смещение диспергирую щего элемента и т. д. Единственным средством преду преждения является аккуратность в работе.
6* 83
Следует отметить некоторые особенности спектро скопии излучения ОКГ, обусловленные главным образом *такими его характеристиками, как высокая направлен ность и когерентность. Высокая направленность излу чения ОКГ требует обязательного использования кондепсорных систем, обеспечивающих заполнение апертуры спектрального прибора. Недостаточное заполнение при водит к тому, что диспергирующие элементы работают неполностью. Это в свою очередь приводит к снижению разрешающей способности. Высокая когерентность из лучения приводит к тому, что на всех апертурных диа фрагмах и, в частности, на щелях получаются сложные картины дифракции, достигающие больших угловых раз меров. Особенно сильно дифракция сказывается па ре зультатах при работе в условиях, близких к предельным для данного спектрального прибора. Это обстоятельство заставляет в некоторых случаях использовать рассеива тели, несколько нарушающие когерентность излучения.
Следующий этап, естественно после химической об работки фотопластинки, — это промер спектров. Эта опе рация осуществляется на приборах, называемых ком параторами. Точность отсчета хороших компараторов 1 мкм. На практике чаще всего используется компаратор следующего устройства. Измеряемая фотопластинка уста навливается на каретке, которая может перемещаться. На той же каретке помещается шкала высокой точности. Спектр на фотопластинке наблюдается в микроскоп. В другой микроскоп, отсчетный, или измерительный, наблюдается шкала. Наблюдательный и отсчетный микро скопы жестко скреплены с помощью крестовины, причем температурный коэффициент расширения этой кресто вины и шкалы делается одинаковым. Это позволяет избежать погрешностей из-за влияния температуры. Ка ретка с фотопластинкой и шкалой передвигается микро метрическим винтом, так что любую спектральную ли нию можно подвести под перекрестие наблюдательного микроскопа. С помощью измерительного микроскопа де лается отсчет. Заводским прибором такого типа является компаратор ИЗА-2.
Несколько реже используется компаратор с одним наблюдательным микроскопом. Отсчет на таком компа раторе Делается по шкале микрометрического винта. Первый тип приборов предпочтительнее, так как для них существенно меньшую роль играет износ микро
84
метрического винта, дающий одну из главных ошибок измерений на приборах второго типа.
Для отождествлений спектров по стандартным спектро граммам, а также для относительно грубого промера спектров используются спектропроекторы [74, 75]. В этих приборах спектр в увеличенном виде проекти руется на стол, на котором могут быть размещены из мерительные инструменты или диаграммы спектров. При боры такого типа ПС-18, СПП-2, ДСП-2 предназначены для работы со спектрограммами, имеющими размеры, доходящие до 13x18 см. Диаметр поля зрения прибо ров 15—18 мм. Объектив с фокусным расстоянием 30 мм и относительным отверстием 1 : 3,5—1 : 4,5 обеспечивает разрешение ~0,010—0,015 мм и дает увеличение по рядка 20 раз.
§ 3. Призменные спектральные приборы
Основные характеристики призменных диспергирую щих систем [71, 74, 75, 89]. Наилучшие условия для получения изображения спектра при прохождении света через призму достигаются в том случае, когда через
призму |
проходит |
парал |
|
|
|
|
|
|
||||
лельный |
пучок |
лучей, |
|
|
|
|
|
|
||||
щель |
параллельна |
|
пре |
|
|
|
|
|
|
|||
ломляющему |
ребру |
приз |
|
|
|
|
|
|
||||
мы, лучи света параллель |
|
|
|
|
|
|
||||||
ны |
главному |
сечению |
|
|
|
|
|
|
||||
призмы и проходят |
через |
|
|
|
|
|
|
|||||
призму [симметрично, |
что |
|
|
|
|
|
|
|||||
соответствует |
|
минималь |
|
|
|
|
|
|
||||
ному углу отклонения лу |
Рис. 22. Ход лучей через призму. |
|||||||||||
чей. Практически эти ус |
|
|
Ход |
лучей |
через |
|||||||
ловия |
выполняются |
приближенно. |
||||||||||
призму |
изображен |
на рис. |
22. |
Угол отклонения |
луча |
|||||||
|
0 = <Рі + |
= (h — *і) + |
(іа — гв) = іг + |
iz — а, |
|
|||||||
где а — преломляющий угол |
призмы. |
В |
дальнейшем |
|||||||||
будет |
принято, |
что |
призма |
работает |
в |
минимуме |
угла |
|||||
отклонения |
(симметричный ход |
лучей), |
т. е. г1= г2= г0, |
|||||||||
г1= ц = і0- Простые |
геометрические |
соображения |
дают |
|||||||||
соотношение между углами для этого случая |
і0=(Ѳ -j- а)/2, |
85
r0= cc/2. На основании закона преломления получается выражение
_ sin K6 + g)/2] sin (a/2)
Мерой отклонения лучей различных длин воли дис пергирующей системой является угловая дисперсия dO/dА, где dB — разность углов отклонения для двух лучей, длины волн которых отличаются на d~k. Угловая
дисперсия измеряется обычно в радІА. или в градІА. В случае призмы угловая дисперсия определяется соот ношением dBld^=(dBldn) (dn/dl). Величина dB/dn опре деляется из выражения для коэффициента преломления
dO |
__ |
2 sin (a/2) |
|
||
dn |
\/j — n 2 |
sin 2 |
(a/2) |
|
|
Величина dn/d~k находится из формулы Гартмана |
[90] |
||||
|
11= по+ |
|
> |
|
|
откуда |
d n __ |
|
|
|
|
|
|
С |
|
|
|
|
Ж — |
|
\йу- > |
|
|
где ?г0, А0 и С — постоянные, или из формулы Коши |
[91] |
||||
|
|
и I |
В |
|
|
|
n = A-\--jT, |
|
|
||
которая дает |
|
__ |
2В |
|
|
|
dn |
|
|
||
|
~ d l ~ ~ |
U |
’ |
|
где А и В — постоянные. Угловая дисперсия, выражаю щая разность углов отклонения двух лучей, частоты которых отличаются на dv, будет отличаться множителем dnldv и имеет вид dB/dv=(dB/dn) (dn/dv). С учетом фор мулы Гартмана имеем
dn СА2
~ 1 7 ~ |
( А — А 0) 2 ’ |
где А0 и С — постоянные. Угловая дисперсия в этом случае измеряется обычно в рад/см-1 или град/см_1.
86
Линейная дисперсия dlldX определяет пространствен ное разделение длин волн в фокальной плоскости. Здесь dl — расстояние между двумя спектральными линиями, которые отличаются друг от друга на dX. Линейная дис
персия измеряется в см/А или мм/А. На практике упо требляется величина dX/dl, обратная линейной дисперсии
и измеряемая в А/мм. Если фокусное расстояние фоку сирующей системы F, то линейная дисперсия связана с угловой дисперсией соотношением
dl |
р dO |
1 |
dX |
d\ |
cos ß .' |
Множитель 1/cos ß отражает тот факт, что плоскость фотопластинки наклонена к оптической оси камерного объектива для компенсации хроматической аберрации.
Существенной характеристикой всякой диспергирую щей системы является разрешающая способность (раз решающая сила) (0£=Х/ЪХ. Теоретическое ограничение разрешающей способности обусловлено явлением ди фракции на апертурной диафрагме, при этом монохромати ческое изображение щели размазывается. По Рэлею условие разрешения двух дифракционных изображений линий заключается в том, чтобы главный максимум одного из них попадал на ближайший к главному макси муму минимум другого (при равной интенсивности макси мумов). Рассмотрение, основанное на учете дифракции на апертуре шириной h, дает для 1-го минимума h sin «= =кХ (к=1), где <р — угловое расстояние между главным максимумом и 1-м минимумом, выражающее угловое разрешение прибора 8Ѳ. Для малых углов разрешающая способность а% дается выражением
■ & = X/bX = hMßX = hdü/dX.
Из этого выражения можно рассчитать теоретическую разрешающую способность при известной угловой дис персии. В случае призмы теоретическая разрешающая способность
(2%=А |
d6 |
dn |
dn |
dn |
dX |
dX |
определяется размером основания призмы t и дисперсией материала dn/dX.
87
'Практически монохроматическое изображение щели бывает уширено также из-за дефектов оптики прибора, зернистости пластинок и т. д. Распределение энергии, получаемое на выходе спектрального прибора для беско нечно узкой спектральной линии, называется аппарат ной функцией спектрального прибора.
Следует остановиться иа методе увеличения дисперсии для призмы. Метод основан на том, что призма выво дится из положения, соответствующего минимуму угла отклонения [92, 93], т. е. ход лучей через призму стано
|
|
вится несимметричным. |
За |
|||||||
|
|
висимость |
угла |
отклонения |
||||||
|
|
и угловой дисперсии призмы |
||||||||
|
|
для |
разных |
углов |
падения |
|||||
|
|
лучей |
иа |
призму |
представ |
|||||
|
|
лена иа рис. 23. При выводе |
||||||||
|
|
призмы |
из |
положения, |
|
соот |
||||
|
|
ветствующего углу |
наимень |
|||||||
|
|
шего |
отклонения, |
в |
сторо |
|||||
|
|
ну меньших |
углов |
падения |
||||||
|
|
(і |
іо) |
угол |
отклонения лу |
|||||
|
|
чей увеличивается ( 0 |
|
ѲШ1ІІ), |
||||||
Рис. 23. Зависимость угла от |
угловая дисперсия |
возраста |
||||||||
клонения и угловой |
диспер |
ет ((<2ѲШ). > |
(а!О/сА)J . |
Од |
||||||
сии призмы от угла |
падения. |
нако |
наряду с ростом |
угло |
||||||
|
|
вой |
дисперсии |
уменьшается |
||||||
разрешающая способность |
$1 — |
|
Это ВИДИ0 из того, |
что при уменьшении угла падения работает только часть призмы, т. е. величина основания для работающей части призмы уменьшается (f. < і,о). Кроме того, вывод призмы из положения, соответствующего углу наименьшего от клонения, увеличивает потери света за счет отражения от граней призмы [94]. Условия работы таковы, что угол приближается к углу Брюстера. Практически в случае спектральных приборов, имеющих систему призм, вывод из положения, соответствующего минимуму угла откло нения, производят таким образом, чтобы ход лучей через всю систему был симметричным, при этом вполне реально увеличение дисперсии приблизительно в 10 раз без за метного ухудшения качества изображения, но яркость изображения уменьшается.
В заключение нужно отметить, что спектральные ли нии, зарегистрированные на спектрограмме призменного
88
прибора, имеют искривление [75, 89]. Это обстоятельство иаглядно можно представить следующим образом. Лучи, идущие от концов щели, проходят по наклонному сече нию призмы, что соответствует большему преломляющему углу. Эти лучи больше отклоняются, поэтому изображение щели искривляется. Так как угловая дисперсия увели
чивается в сторону коротких длин волн (dn/d^ ~ |
1 / X2), |
то искривление спектральных линий коротких |
длин |
волн больше. |
|
Обработка спектрограмм. Приборы небольшой диспер сии предназначены главным образом для качественных и полуколичественных измерений. Часто в приборе уста навливается шкала, которая может быть зафиксирована на фотопластинке. Шкала градуируется или в процессе изготовления прибора, или в процессе работы по какомунибудь эталонному спектру. Точность отсчета в приз менных приборах меняется с длиной волны, поскольку
дисперсия |
призмы уменьшается с |
ростом |
длин волн. |
Это видно |
из выражения dQ/d'k или- |
точнее, |
dn/d'k. |
Для приборов более высокой дисперсии или в случае ис следования спектров, обладающих широкими спектральны ми полосами, пользуются методом графической интерполя ции [66]. В этом случае можно получить реальную точность 1—0,1 А. Следует заметить, что этот метод це лесообразен, если требуется измерять большое число линий, в противном случае вряд ли будет оправдан труд, затраченный на построение градуировочного графика. Сущность метода графической интерполяции состоит в том, что по промеренному стандартному спектру строится график зависимости длины волны X от величины отсчета на компараторе. Чтобы обеспечить хорошую точность, следует строить график в большом масштабе. Например, если отсчет на спектрограмме делается с точностью 0,001 мм, то на графике эта величина должна иметь за метную величину, во всяком случае не меньше 0,1 мм, т. е. 1 см на пластинке соответствует 1 м на графике. Только в этом случае^ не будет практически снижаться точность измерений из-за грубости отсчетов по графику. При практической работе, когда длина спектра на фото пластинке достигает нескольких сантиметров, на одном бланке размером, например, 1 ліХІ м наносят несколько графиков, точнее, несколько участков одного графика. Точность по длинам волн на графике должна быть 0,1 — 0,01 Â на 0,1 мм графика, т. е. на 1 м графика прихо
S9