Статистика распределения интенсивностей
Применяется, чтобы установить наличие или отсутствие центра симметрии.
Чаще всего используются N(z)- тест или его варианты.
Строится статистика распределения интенсивностей по величине sinθ. Чаще всего используют интервалы sinθ, кратные 0.1 или 0.2. Внутри каждого интервала считается средняя величина интенсивности и ищется отклонение от нее (%) для каждого рефлекса.
Для центросимметричного кристалла:
N(z) = -exp(-z), z – дробный коэффициент
(1/2, 1/3 и т.д.) N(z) = erf(1/2z)-1/2
Erf – функция ошибок (отклонений, ее вид может быть почти любой)
Решение структуры
Решить структуру можно ничего не зная о ней, однако в общем случае должен быть известен химический состав.
Методов решения структур чрезвычайно много. Поэтому и количество данных, которые необходимы для решения структуры, зависит от метода.
Основные методы:
1.Метод Паттерсона
2.Прямые методы
3.Изоморфное замещение
4.Charge flipping (букв. перевод - инверсия (обращение) заряда)
5.Монте-Карло
Модель структуры может быть получена сразу или же атомы могут выявлены методом последовательных приближений.
Полученную после решения структуры модель надо уточнить.
Решение структур, продолжение
Модель, полученная после решения, имеет представление в виде двумерных или, чаще, трехмерных Фурье-карт (Фурье-синтезов).
Первый Фурье-синтез, выявлено
только положение атома Si Пятый синтез Фурье-синтез, выявлены все атомы
Уточнение структуры
Зеленые точки (Q) – максимумы на картах
Уточнение структуры
Чтобы уточнить структуру, необходимо, зная данные о координатах атомов, построить трехмерную дифракционную картину. Поскольку на интенсивность дифракции заметное влияние оказывает и тепловые колебания атомов, то нужно учитывать и их.
Модель теплового движения атома – тензор анизотропных смещений (3x3), графически он представляется в виде эллипсоида.
Форма эллипсоидов, близкая к изометрической показывает, что позиции всех атомов выявлены верно.
Для атомов H используется только изотропный параметр смещения (их вклад в рассеяние мал).