Маслов Введение в физику ноноструктур 2011
.pdfЕсли |
энергия |
отсчитывается |
не |
от нуля, |
а от |
Ec, |
то |
есть |
|
ε(kG) = |
=2kG2 |
+ E , то: |
|
|
|
|
|
|
|
|
2m |
|
c |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
m |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
g(ε) = L2 |
θ(ε − E ), |
|
|
|
|
|
см. рис. 3.4. |
2π=2 |
c |
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
g(ε) |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
0 |
|
Ec |
ε |
|
|
|
Рис. 3.4. Плотность электронных состояний двумерного свободного электронного |
|||||||||
|
|
|
газа с законом дисперсии ε(kG) = =2kG2 / 2m + Ec |
|
|
|
Таким образом, в “двумерии” плотность состояний свободных электронов при ε > Ec является не зависящей от энергии константой. На рис. 3.5 изображены кривые g(ε) для одномерного, двумер-
ного и трехмерного свободного электронного газа с законом дис- |
||
персии ε(kG) ==2kG |
2 / 2m, где k |
– волновой вектор в пространстве |
соответствующей |
мерности. |
Заметим, что g (ε) ε(d −2) 2 для |
d-мерного свободного электронного газа.
Используя выражение для g(ε), можно найти зависимость концентрации n электронов в двумерном свободном электронном газе от волнового вектора Ферми (а значит, и от энергии Ферми). По-
21
εF
скольку Nel = 2 ∫ g(ε)dε, то, вычисляя интеграл, получим
−∞
n = Nel L2 = kF2 2π, в соответствии с приведенной выше формулой.
g(ε)
3D
2D
1D
0 |
ε |
Рис. 3.5. Сравнение плотности электронных состояний для одномерного (1D),
двумерного (2D) и трехмерного (3D) свободного электронного газа с законом дисперсии ε(kG) = =2kG2 / 2m
Полная энергия всей системы электронов при T = 0 (энергия ос-
ε |
|
1 |
|
|
новного состояния) равна E0 = 2 ∫F |
εg(ε)dε = |
εF Nel . Видно, что при |
||
2 |
||||
−∞ |
|
|
увеличении мерности системы средняя энергия, приходящаяся на один электрон, увеличивается. Это связано с изменением вида зависимости плотности состояний g(ε) от энергии.
Температурная зависимость химического потенциала μ находится из условия на число электронов:
Nel = 2 ∞∫ f (ε,T )g(ε)dε, ,
−∞
где f(ε,T) – функция распределения Ферми–Дирака. Этот интеграл вычисляется точно. При kBT << εF получим:
22
μ(T ) ≈ εF 1− kεBFT exp − kεBFT .
Обращает на себя внимание тот факт, что зависимость химического потенциала μ от температуры гораздо более слабая, чем для свободного одномерного и трехмерного электронного газа.
|
|
∞ |
|
|
|
|
|
|
Для полной энергии E(T ) = 2 ∫ εg(ε) f (ε,T )dε двумерного сво- |
||||||||
|
|
−∞ |
|
|
|
|
|
|
бодного электронного газа при kBT << εF |
получим: |
|||||||
|
|
|
2 |
|
|
2 |
||
E(T ) ≈ E0 |
1 |
+ π |
|
|
kBT |
|
. |
|
|
|
|||||||
|
|
3 |
εF |
|
|
|
||
|
|
|
|
Зависимость E(T) приведена на рис. 3.6. Как и в одномерном (и в трехмерном) свободном электронном газе, величина E увеличивается с ростом T квадратично по T, но с другим коэффициентом пропорциональности.
E
E0
|
|
|
|
0 |
kB |
T |
εF
Рис. 3.6. Температурная зависимость полной энергии E двумерного свободного электронного газа при kBT << εF
23
4. Полупроводниковые квантовые ямы. Энергетическая диаграмма. Энергетический спектр электронов и дырок. Плотность состояний. Граничные условия на границе раздела двух полупроводников с разными эффективными массами
Полупроводниковой квантовой ямой называется двумерная наноструктура, представляющая собой тонкий (как правило, толщиной 1 – 10 нм) слой одного полупроводника (А) с шириной запрещенной зоны EgA, окруженный с обеих сторон толстыми слоями другого полупроводника (B) с шириной запрещенной зоны EgB > EgA, см. рис. 4.1. Поперечные размеры всех слоев и толщина слоев полупроводника B являются макроскопическими, поэтому формально их можно считать равными бесконечности.
Рис. 4.1. Схематическое изображение полупроводниковой квантовой ямы из полупроводников A и B
Если квантовая яма изготовлена из собственных полупроводников, то при T = 0 валентные зоны обоих полупроводников полностью заполнены, а их зоны проводимости пусты. Выберем систему координат так, чтобы ось x (ось роста) была перпендикулярна границе раздела слоев, а плоскость yz – параллельна им. Тогда энергетическую диаграмму квантовой ямы можно изобразить в виде, показанном на рис. 4.2. Видно, что “лишний” электрон, добавленный в квантовую яму (например, из электрических контактов) будет занимать энергетические уровни в зоне проводимости полупровод-
24
ника А. Но при этом слои полупроводника В играют для такого электрона роль энергетических барьеров, высоты которых равны разрыву зон проводимости EC = ECВ – ECА. Поэтому электрон будет локализован в квантовой яме (в области, занимаемой полупроводником А) вдоль оси x, но делокализован в плоскости xy (параллельной границе раздела слоев). Точно так же дырка (образованная путем удаления из квантовой ямы одного электрона) будет локализована вдоль оси x и делокализована в плоскости xy. Высоты энергетических барьеров для дырки равны разрыву валентных зон
EV = EVA – EVB .
Рис. 4.2. Энергетическая диаграмма квантовой ямы, изготовленной из собственных полупроводников A и B с ширинами запрещенных зон EgA и EgB, соответственно (EgB > EgA). ECA – дно зоны проводимости полупроводника А, ECВ – дно зоны проводимости полупроводника В, EVA – потолок валентной зоны полупроводника А, EVB – потолок валентной зоны полупроводника B. EC = ECВ – ECА – разрыв зон проводимости, EV = EVA – EVB – разрыв валентных зон
Если полупроводник А занимает область 0 ≤ x ≤ a, то в приближении эффективной массы (метод огибающих) потенциальная энергия “лишнего” электрона в структуре с квантовой ямой равна:
U (rG) = E (rG) = ECA при 0 ≤ x ≤ a;
C ECB при x < 0 и x > a,
а уравнение Шредингера имеет вид:
− |
=2 |
∂2ΨG(2rG) |
+U (rG)Ψ(rG) = εΨ(rG). |
|
|||
|
2m * ∂r |
25 |
|
|
|
|
Принимая величину ECA за начало отсчета энергии и учитывая, что потенциальная энергия зависит только от x, получим:
0 при 0 ≤ x ≤ a;
U (x) =
EC при x < 0 и x > a.
Решение уравнения Шредингера ищем в виде: Ψ(r) = φ(x)χ(y)φ(z). Для функций ϕ, χ и φ получим:
− |
=2 |
|
∂2ϕ(x) |
+U (x)ϕ(x) = ε ϕ(x), |
||||||||
2m * |
|
∂x2 |
||||||||||
|
|
|
|
1 |
||||||||
|
− |
=2 |
|
|
∂2χ( y) |
= ε |
χ( y), |
|||||
|
2m * |
∂y2 |
||||||||||
|
|
|
|
2 |
|
|||||||
|
− |
|
=2 |
|
∂2φ(z) |
= ε |
φ(z), |
|||||
|
|
2m * |
∂z2 |
|||||||||
|
|
|
|
|
3 |
|
||||||
|
|
|
|
|
ε1 + ε2 +ε3 = ε. |
|||||||
Обозначим: ε2 = =2ky2 |
2m *, ε3 = =2kz2 2m *. Тогда для функций |
|||||||||||
χ(y) и φ(z) найдем: |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
χ( y) = C1 exp(iky y), φ(z) = C2 exp(ikz z),
где C1 и C2 – нормировочные константы. Для функции ϕ(x) потенциальная энергия имеет вид одномерной квантовой ямы глубиной EC (поэтому рассматриваемая наноструктура и называется квантовой ямой). В таком потенциале всегда имеется хотя бы одно связанное состояние с энергией ε1 < EC и локализованной в области
0 < x < a волновой функцией. Если яма глубокая (выполняется условие EC >> =2 / m * a2 ), то дискретных уровней в яме много. Обозначая энергии этих уровней εn, а соответствующие (нормиро-
ванные на единицу) волновые функции ϕn(x), где n = 1, 2, 3, … – |
|||||
номер уровня, получим: |
|
|
|
|
|
Ψ(rG) = S −1/2ϕn (x)exp(iky y +ikz z) = S −1/2ϕn (x)exp(ik||ρG), |
|||||
G |
=2 (ky2 + kz2 ) |
|
=2k||2 |
|
|
ε = εn (ky ,kz ) = εn (k|| ) = εn + |
|
= εn + |
|
, |
|
2m * |
2m * |
||||
|
|
|
|||
26 |
|
|
|
|
где S – площадь наноструктуры, ρ = yeGy + zeGz и k|| = ky eGy + kz eGz –
координата и импульс электрона в параллельном границе раздела слоев направлении.
Таким образом, энергетический спектр электронов в квантовой яме представляет собой набор зон, дно каждой из которых соответствует дискретному уровню энергии εn для движения электрона в перпендикулярном границе раздела слоев направлении, а закон дисперсии в каждой зоне такой же, как у электрона в двумерном свободном электронном газе, см. рис. 4.3. Эти зоны называются зонами (или подзонами) размерного квантования. Термин размерное квантование используется здесь по той причине, что квантование энергии электрона в поперечном направлении обусловлено малыми размерами слоя полупроводника А в этом направлении.
Рис. 4.3. Энергетический спектр электронов в полупроводниковой квантовой яме B/A/B. За начало отсчета принята энергия дна зоны проводимости
в полупроводнике А
Аналогичный вид имеют волновые функции и закон дисперсии для дырок в валентной зоне, см. рис. 4.4. Отличие заключается в том, что эффективная масса электрона заменяется на эффективную массу дырки, а высота энергетического барьера, определяющего
27
вид дискретного спектра в поперечном направлении, равна не EC, а EV.
Рис. 4.4. Энергетический спектр дырок в полупроводниковой квантовой яме B/A/B. За начало отсчета принята энергия потолка валентной зоны
в полупроводнике А
Плотность электронных состояний g(ε) в квантовой яме представляет собой сумму вкладов от всех зон размерного квантования:
g(ε) = S |
m |
|
∑θ(ε −εn ), |
2π= |
2 |
||
|
|
n |
где n – номер зоны. Она изображена на рис. 4.5. Аналогичный вид имеет и плотность состояний для дырок. По мере увеличения концентрации носителей в квантовой яме сначала заполняется первая зона размерного квантования, затем – вторая (первая при этом тоже продолжает заполняться) и т. д.
Строго говоря, рассмотренное выше уравнение Шредингера для электрона в полупроводниковой структуре с квантовой ямой справедливо лишь в том случае, когда эффективная масса электрона m* не зависит от координаты. Но в разных полупроводниках величина
m* |
разная. |
Так, |
например, |
для |
квантовой |
ямы |
Al0,3Ga0,7As/GaAs/Al0,3Ga0,7As имеем |
m* = 0,067m0 в GaAs и |
m* = 0,093m0 в Al0,3Ga0,7As, где m0 – масса свободного электрона. Если в гамильтониане
28
ˆ |
=2 |
∂2 |
G |
|
H = − |
|
G |
2 |
+U (r) |
|
2m * ∂r |
|
|
считать эффективную массу функцией координаты, то такой гамильтониан будет неэрмитовым, то есть не соответствующим физической величине (энергии), поскольку его собственные значения не являются действительными.
Рис. 4.5. Плотность электронных состояний в полупроводниковой квантовой яме B/A/B. Энергия отсчитывается от дна зоны проводимости полупроводника А
Можно показать, что гамильтониан, записанный в виде
ˆ |
=2 |
∂ |
1 |
|
|
∂ |
G |
|
H = − |
2 |
G |
|
|
G |
|
G |
+U (r), |
|
∂r m *(r) |
∂r |
|
является эрмитовым. При решении уравнения Шредингера следует учитывать, что граничные условия на границе раздела двух полупроводников для такого гамильтониана имеют вид (для случая, когда полупроводник А занимает область x < 0, а полупроводник В – область x > 0):
|
|
Ψ(x = −0) = Ψ(x = +0), |
|
||||
1 |
∂Ψ(rG) |
= |
1 |
∂Ψ(rG) |
|||
|
|
|
|
|
∂x |
. |
|
|
|
||||||
mA * |
∂x x=−0 |
|
mB * |
x=+0 |
В частном случае одинаковых эффективных масс мы приходим к обычным граничным условиям (непрерывность волновой функции и ее первой производной по координате).
29
5. Способы изготовления полупроводниковых квантовых ям. Полупроводниковые гетероструктуры. Наноинженерия. Сверхрешетки. Практическое использование полупроводниковых гетероструктур. Резонансно-туннельный диод
Для изготовления полупроводниковых квантовых ям используется, как правило, молекулярно-лучевая (молекулярно-пучковая) эпитаксия. Этот метод заключается в осаждении испаренного в молекулярном источнике вещества на кристаллическую подложку. Основные требования к установке эпитаксии следующие:
•В рабочей камере установки необходимо поддерживать сверхвысокий вакуум (около 10-8 Па).
•Чистота испаряемых материалов должна достигать как мини-
мум 99,999%.
•Необходим молекулярный источник, способный испарять тугоплавкие вещества (такие как металлы) с возможностью регулировки плотности потока вещества.
Особенностью эпитаксии является медленная скорость роста пленки (обычно менее 1000 нм в час). Изменяя набор испаряемых веществ и длительность их испарения, можно поочередно выращивать эпитаксиальные слои с заданными химическим составом и толщиной. Таким путем удается получить не только квантовые ямы (для изготовления которых требуется два полупроводниковых материала с различной шириной запрещенной зоны), но и гораздо более сложные полупроводниковые гетероструктуры. Профиль потенциальной энергии электронов (в зоне проводимости) и дырок (в валентной зоне) определяется толщиной слоев и разрывами зон проводимости и валентных зон полупроводников, из которых эти слои состоят, см. рис. 5.1. Очень важно, что можно заранее рассчитать требуемый для того или иного конкретного приложения потенциальный рельеф и изготовить гетероструктуру с соответствующими геометрическими и энергетическими характеристиками. Это позволяет существенно снизить затраты и сократить время на изготовление полупроводниковых гетероструктур. Появился даже специальный термин – наноинженерия (nanoengineering).
30