10.3.2. Рассеяние текстуры прокатки металлов с о. Ц. К. Решеткой

Общая закономерность - плоскость определяющего рассеяния перпендикулярна направлению прокатки. Распределение ориентировок зерен в указанной плоскости симметрично относительно поверхности листа. По мере увеличения суммарной деформации рассеяние в плоскости определяющего рассеяния уменьшается, однако начиная с деформации 80% при ее дальнейшем увеличении оно практически перестает изменяться.

10.3.3. Текстуры прокатки металлов с г. Ц. К. Решеткой

Текстуры холодной прокатки изучались на меди, алюминии, никеле, платине, золоте, серебре, α-латуни, бронзе. Литература по данному вопросу весьма обширна и мы, не имея возможности привести ее полностью, отсылаем к работе.

Эксперимент показывает, что главной ориентировкой является {110} <112>. Менее ярко выражена текстура {112} <111>. Возникновение преимущественных ориентировок зерен с точки зрения кристаллографии объяснил Калнан .

Растяжение приводит к установлению вдоль оси действия растягивающей нагрузки кристаллографического направления <111>, которое является результатом тройного скольжения в плоскости типа {111} вдоль соседних направлений <110>. Этот же механизм позволяет определить индексы плоскости, фиксируемой параллельно поверхности образца силой сжатия, в которой лежит кристаллографическая ось <111>. Наглядно геометрическое толкование этой деформации становится затруднительным.

10.3.4. Рассеяние текстуры прокатки металлов с г. Ц. К. Решеткой

На рис. 59 показана полюсная фигура - стереографическая проекция полюсной плотности {111} на плоскость прокатки. Она соответствует сплаву (50% Fe — 50% Ni), имеющему г. ц. к - решетку, после холодной прокатки с обжатием 99,9%. Крестиками показаны положения максимумов полюсной плотности, отвечающие текстуре (110) [1 2], а кружками - (112) [ 2]. Полюсная фигура получена количественным рентгеновским методом и в общем характерна для текстур холодной прокатки всех металлов и сплавов с данным строением кристаллической решетки. На полюсной фигуре нанесены линии равной полюсной плотности и для каждой из них интегральная интенсивность обозначена цифрами в относительных единицах.

Рассеяние ориентировок зерен максимально вблизи плоскости, перпендикулярной направлению прокатки и симметрично относительно поверхности образца.

Рис. 59. Полюсная фигура {111}, сплав 50% Fe — 50% Ni

Цифрами показаны интенсивности рентгеновских рефлексов в относительных единицах. Деформация 99,9%):

X - текстура типа (110) [11 ];

О - текстура типа (112) [1 ]

Однако, если в случае металлов с решеткой оцк. плоскость определяющего рассеяния точно перпендикулярна направлению прокатки, то в рассматриваемом случае она наклонена к ней под углом ~30 - 40° и симметрична относительно плоскости, перпендикулярной поверхности, в которой лежит поперечное направление.

Рассеяние в указанных двух плоскостях в наибольшей степени меняется при варьировании обработки. Остальные рассеяния меняются в меньшей степени.

Характерно, что, как и в случае металлов, имеющих решетку о. ц. к., в плоскостях определяющего рассеяния существует три максимума полюсной плотности (см. рис.59). Один из них лежит на вертикальном диаметре, а два других расположены симметрично. Как и раньше, с уменьшением суммарной деформации расстояние между максимумами увеличивается.

Заметим, что эта закономерность до сих пор не исследовалась ни с точки зрения кристаллографических причин, ни с точки зрения последующего влияния на текстуру рекристаллизации.

С увеличением деформации рассеяние текстуры в общем уменьшается сначала быстро, а затем все медленнее и, начиная с 90%, уже практически не меняется.

Особое преимущество рентгенографического определения текстур состоит в том, что его применяют для кристаллов очень небольших размеров.

Исторически сложившееся применение термина – текстура - связано с понятием о теле, имеющем анизотропную упорядоченную структуру составных частей, не являющуюся, однако, решетчатой. Кристаллографические текстуры относятся к числу распространенных явлений. Однако систематически изучать их начали только в последние годы.  Изучение текстур приобретает все возрастающее практическое значение. В настоящее время создание новых и улучшение качества существующих текстурованных материалов представляет серьезную народнохозяйственную задачу.

Эквивалентные кристаллографические оси зерен в текстурованном материале обладают определенной симметрией пространственного распределения, в соответствии с которой производится классификация текстур. Существуют ограниченные и неограниченные текстуры. К неограниченным относятся следующие: простые аксиальные, центрированные аксиальные, спиральная и кольцевая аксиальные текстуры.

Ограниченная текстура значительно сложнее текстуры волочения: если проволока имеет только одно главное направление, то в листе обнаруживается несколько главных элементов, а именно, направление прокатки (НП), поперечное направление (ПН) и третье главное направление – нормаль к листу (НН).

В методике исследований сделан существенный шаг вперед благодаря внедрению метода счетчика для количественного определения текстур. Успенский и Конобеевский обосновали теоретически связь между рентгенограммой и текстурой материала и тем самым доказали принципиальную возможность применения рентгеновских методов к исследованию текстуры. Далее с помощью фотографических рентгеновских, а также ряда других методов была изучена текстура в различных материалах. Но было ясно, что для полного описания текстур необходим точный учет статистического рассеяния ориентировок зерен. И Вефер воспользовался полюсными фигурами. Изучение формирования текстуры и полюсных фигур позволяет получить информацию о закономерностях, происходящих в материалах. А в послевоенные годы, когда в металлофизических исследованиях начали применять рентгеновские дифрактометры, точность измерений резко возросла, так как они обладают более высокой чувствительностью и большей экспрессностью.

Оказалось возможным наблюдать ряд новых закономерностей, и интерес к текстуре значительно повысился. Одновременно стали интенсивно развиваться и другие количественные методы текстурного анализа (оптический, магнитный и т.д.).