- •Введение
- •1. Классификация интегральных микросхем
- •2. Технология изготовления полупроводниковых имс на основе биполярных структур
- •2.1. Электрическая изоляция элементов
- •2.2. Планарно-диффузионные технологии с изоляцией элементов p-n-переходами и резистивной изоляцией
- •2.3. Планарно-эпитаксиальные технологии с изоляцией элементов p-n-переходами
- •2.4. Планарно-эпитаксиальные технологии с диэлектрической изоляцией элементов
- •2.5. Технология изготовления имс с комбинированной изоляцией
- •2.6. Биполярные технологии изготовления бис и сбис
- •2.7. Технология совмещенных имс
- •2.8. Конструкции элементов полупроводниковых имс на биполярных структурах
- •2.8.1. Интегральные биполярные транзисторы
- •2.8.2. Многоэмиттерный транзистор
- •2.8.3. Многоколлекторные транзисторы
- •2.8.4. Транзистор с барьером Шоттки
- •2.8.5. Супербета транзистор
- •2.8.6. Транзисторы p-n-p
- •2.8.7. Быстродействующие транзисторы с уменьшенными размерами элементов
- •2.8.8. Транзисторы с эмиттерами на гетеропереходах
- •2.8.9. Эволюция конструктивно-технологических вариантов биполярных транзисторов
- •2.8.10. Интегральные диоды
- •2.8.11. Интегральные резисторы
- •2.8.12. Интегральные конденсаторы
- •3. Технология изготовления полупроводниковых имс на основе мдп - структур
- •3.1. Конструкции элементов полупроводниковых имс
- •3.1.1. Интегральные мдп - транзисторы
- •3.1.2. Вспомогательные элементы мдп-имс
- •3.1.3. Интегральные мдп - конденсаторы
- •3.2. Технология производства мдп-имс
- •3.2.1. Базовая технология мдп-имс
- •3.2.2. Самосовмещенная мтоп - технология
- •3.2.3. Технология двойной диффузии (дмдп - технология)
- •3.2.4. Технология с многослойным диэлектриком
- •3.2.5. Технология комплементарных мдп-имс (кмдп - технология)
- •3.2.8. Технология мдп сбис полупроводниковых постоянных запоминающих устройств (мдп сбис ппзу - технология)
- •3.2.9. Технология имс на основе приборов с зарядовой связью (пзс - технология)
- •3.3. Некоторые конструктивно-технологические проблемы субмикронных мдп - структур
- •3.3.1. Короткоканальные эффекты
- •3.3.2. Проблемы масштабирования
- •3.3.3. Подзатворные диэлектрики
- •3.3.4. Формирование сток – истоковых областей
- •3.3.5. Формирование области канала
- •3.3.6. Формирование затвора
- •4. Технология производства биполярно-полевых полупроводниковых имс
- •4.1. Конструкции элементов биполярно-полевых имс
- •4.1.1. Полевые транзисторы
- •4.1.2. Биполярно-полевая структура с биполярным и V-птуп - транзистором
- •4.1.3. Структура с биполярным и птуп – транзистором, полученная применением ионного легирования
- •4.1.4. Биполярно-полевая структура с высоким коэффициентом усиления биполярного транзистора
- •4.1.5. Структура биполярно-полевой каскодной схемы
- •4.1.6. Биполярно-полевая структура с высоким быстродействием
- •4.1.7. Биполярно-полевые структуры инжекционно-полевой логики (ипл - структуры)
- •4.1.8. Биполярно-полевые структуры с мдп - транзисторами (би-мдп - структуры)
- •4.2. Технология изготовления биполярно-полевых структур
- •4.2.1. Технология биполярно-полевых имс
- •4.2.2. Технология биполярно-полевых имс с птуп
- •5. Технология изготовления имс на основе полупроводников aiiibv
- •5.1. Элементы имс на полупроводниках группы aiiibv
- •5.1.1. Диоды
- •5.1.2. Биполярные транзисторы с гетеропереходами
- •5.1.3. Полевые транзисторы
- •5.2. Современные тенденции формирования aiiibv-структур
- •6. Переход от микро – к нанотехнологиям
- •6.1. Физические основы нанотехнологий в микроэлектронике
- •6.2. Элементы на основе наноэлектронных структур
- •6.2.1. Резонансно-туннельный диод
- •6.2.2. Металлический одноэлектронный транзистор
- •6.2.3. Спиновой полевой транзистор
- •6.2.4. Элементы молекулярной электроники
- •6.2.5. Структуры на основе квантовых точек и проволок
- •6.2.6. Электронные элементы на основе нанотрубок
- •6.3. Зондовые сканирующие нанотехнологии
- •Заключение
- •Библиографический список
- •Оглавление
- •394026 Воронеж, Московский просп., 14
3.2.1. Базовая технология мдп-имс
Несмотря на большое число технологических методов изготовления МДП-ИМС базовой технологией остается процесс изготовления МДП-ИМС с каналом p- или n- типа. В этой технологии для формирования заданной структуры служат те же физико-химические процессы, что и в технологии биполярных ИМС.
Один из основных (базовых) вариантов технологии МДП-ИМС - изготовление МДП - транзисторной структуры с каналом p- типа.
Исходным материалом для получения такой структуры служит пластина кремния n- типа толщиной 200…250 мкм с ориентацией рабочей поверхности по плоскости (100), поскольку при такой ориентации плотность поверхностных состояний примерно на порядок ниже, чем при ориентации (111). Концентрация легирующей примеси в подложке см-3, ее удельное сопротивление 2,5-10 Ом·см.
Последовательность операций в этой технологии представлена на рис. 3.17.
После подготовки поверхности таких пластин (соответствующей очистки) термическим окислением создают маскирующий слой SiO2 (рис. 3.17, а), в котором методом фотолитографии формируют окна под области истока и стока (рис. 3.17, б). После этого проводят двухстадийную диффузию бора и тем самым создают высоколегированные области стока и истока глубиной 1-2 мкм (рис. 3.17, в). Затем проводят фотолитографию окон под тонкий диэлектрик (под затвором) и тщательную очистку поверхности кремния (рис. 3.17, г). Процесс окисления (рис. 3.17, д) под подзатворный диэлектрик толщиной 0,1...0,15 мкм проводится в тщательно очищенном и осушенном кислороде при 1100...1200°С; принимаются меры предосторожности, исключающие кристаллизацию окисла, возникновение в нем механических напряжений и уменьшающие заряд в окисле.
Рис. 3.17. Последовательность основных технологических операций производства p-канальных МДП - микросхем с алюминиевыми затворами: а - термическое окисление исходной кремниевой пластины для нанесения маскирующего окисла; б - фотолитография для вскрытия окон вод диффузию акцепторной примеси в области истока и стока; в - формирование областей истока и стока; г - фотолитография дли создания тонкого подзатворного окисла; д -выращивание тонкого окисла и сухом кислороде; е - фотолитография для вскрытия окон под контакты; ж - нанесение пленки алюминия; з - фотолитография по алюминиевой пленке для создания разводки
Далее проводят фотолитографию – вскрытие окон под контакты и металлизацию алюминия, аналогично металлизации при создании ИМС на биполярных транзисторах (рис. 3.17, е, ж).
Недостатком технологии является значительное (около 3 мкм) перекрытие электродом затвора областей истока и стока. Наличие такого перекрытия определяется тем, что область канала формируется с использованием трех фотолитографий, что заставляет закладывать в фотошаблоны запасы на технологические разбросы и ошибки при совмещении. Эта технология позволяет получать МДП-транзисторы с индуцированным каналом p-типа, работающие в режиме обогащения.
Технология МДП - микросхем на n-канальных транзисторах. Вначале усилия разработчиков и технологов были направлены на создание n-канальных приборов в связи с большей, чем у дырок, подвижностью электронов, т. е. возможностью достижения большего быстродействия. Промышленное освоение n-канальной технологии стало возможным после того, как научились строго контролировать и стабилизировать свойства границы раздела p-Si-SiO2. Эта n-канальная технология по последовательности и совокупности операций мало отличается от p-канальной за исключением того, что в ней используется подложка p-типа, а области истока и стока легируются примесью n-типа.