- •Ведение
- •1. Элементы биполярных интегральных схем
- •1.1.Биполярный полупроводниковый транзистор
- •1.1.1. Теория p-n-перехода в условиях равновесия
- •1.1.3. Вольт-амперная характеристика р - n-перехода
- •1.1.4. Качественный анализ работы биполярного транзистора
- •1.1.5. Статические характеристики транзистора в схеме с об
- •1.1.6. Статические характеристики в схеме с оэ
- •1.1.7. Статические параметры транзисторов
- •1.1.8. Биполярный транзистор как четырехполюсник
- •1.1.9. Особенности дрейфовых транзисторов
- •1.2. Интегральные резисторы
- •2. Полевые транзисторы на основе структур металл — диэлектрик –полупроводник (мдп)
- •2.1. Устройство мдп транзистора
- •2.2. Качественный анализ работы мдп транзистора
- •2.3. Уравнение для вольт-амперных характеристик мдп транзистора
- •Модуляция длины канала
- •Эффект подложки
- •Пробой в мдп транзисторах
- •2.4. Характеристики мдп транзистора
- •2.5. Статические параметры мдп транзистора Крутизна вольт-амперной характеристики
- •Внутреннее, или динамическое, сопротивление
- •Сопротивление затвора
- •2.6. Частотные свойства мдп транзистора
- •3. Соединения и контактные площадки
- •4. Базовые схемы логических элементов на биполярных и полевых транзисторах
- •5. Разработка топологии ис
- •6. Разработка фотошаблонов для производства имс
- •7. Технологический процесс
- •7.1. Эпитаксия кремния
- •Эпитаксия из газовой фазы
- •Легирование при эпитаксии
- •7.2. Формирование диэлектрических слоев
- •Маскирующие свойства слоев диоксида кремния
- •Термическое окисление кремния
- •Плазмохимическое окисление кремния
- •Покрытия из нитрида кремния
- •7.3. Диффузионное легирование в планарной технологии
- •7.4. Ионное легирование
- •7.5. Литографические процессы
- •7.6. Металлические слои
- •Методы распыления в вакууме
- •7.7. Основные этапы технологического цикла (Пример)
- •6. Разработка профильной схемы технологического маршрута имс.
- •7. Заключение.
- •8. Список цитируемой литературы.
- •Календарный план
- •Реферат
- •Примерный перечень тем курсовых проектов
- •Библиографический список
- •394026 Воронеж, Московский просп., 14
7.6. Металлические слои
Процесс металлизации заключается в нанесении металлической пленки для межэлементных соединений с низким сопротивлением и создании контактов с низким сопротивлением к высоколегированным областям p- и n- типа и слоям поликристаллического кремния.
Требования к металлизации
-хорошая адгезия металла на осаждаемой поверхности,
-отсутствие электромиграции,
-высокая коррозионная стойкость,
-стабильность на последующих стадиях процесса,
-простота изготовления.
Химическое осаждение из парогазовой смеси
Проводится химическое осаждение пленок из парогазовой смеси в реакторе пониженного давления. В технологии ИС этим способом в основном наносят пленки тугоплавких металлов, таких как W, Mo, Ta, Ti. Данные материалы используются как в качестве самостоятельных покрытий, так и как составную часть при формировании пленок силицидов, например, WSi2.
Реакции, лежащие в основе процесса металлизации, следующие:
2MoCl5+5H2---2Mo+10HCl (T= 800 C)
2TaCl5+5H2---2Ta+10HCl (T= 600 C)
TiCl4+2H2---Ti+4HCl (T= 500 C)
Нагрев происходит в реакторе с горячими или холодными стенками. В последнем случае проводят ВЧ нагрев подложек с подложкодержателем, а стенки реактора охлаждают. В реакторе с горячими стенками реакционная труба помещается в печь.
С хема реактора приведена на рис. 7.13.
1 - газораспределительная система,
2 - система сброса газов,
3 - печь,
4 - подложки,
5 - реактор,
6 - выход к насосу,
7 - вентили,
8 - измерители расхода газа. Рис. 7.13. Схема реактора
Преимущества метода: -хорошее качество пленки, воспроизводящей рельеф поверхности подложки
-возможность нанесения пленок на относительно большое количество подложек одновременно;
-простота оборудования.
Недостаток метода: - невозможность получения качественных пленок алюминия.
Методы распыления в вакууме
К таким методам относят термическое распыление, ионное и ионно-плазменное распыление. Рассмотрим получение металлических покрытий методом ионного распыления.
Процесс заключается в бомбардировке ионами Ar, ускоренными в электрическом поле, поверхности мишени или катода. За счет передачи импульса мишени приповерхностные атомы испаряются и переносятся в виде пара на подложки. Поток энергии можно видоизменять посредством независимой регулировки ионного тока и энергии ионов.
Для распыления диэлектриков (двуокись алюминия или кремния) необходимо использовать источники ВЧ-энергии. Проводящие материалы (Ti, Pt, Au, Mo, W, Ni, Co) легко могут быть распылены с использованием разряда постоянного тока.
Рис. 7.14. Схема нанесения металлической пленки катодным распылением. 1 – колпак; 2 – заслонка; 3 – катод; 4 – заземленный экран; 5 – подложка 6 - заземленный анод; 7 – нагреватель подложек; 8 – базовая плита; 9 – подводы газов; 10 – манометры.
Преимущества метода: - большее, чем в других способах, количество распыляемого вещества, достигающего поверхности подложек (реализовано за счет высокого вакуума);
-малая степень внедрения ионов остаточного газа в осаждаемую пленку;
возможность удаления окисных и других пленок во вскрытых областях подложки за счет ее ВЧ-обработки перед осаждением (ионное травление);
-возможность выравнивания поверхности перед металлизацией за счет ВЧ-обработки подложки при осаждении (распыление со смещением).
Недостатки метода: внедрение аргона (2 %) и фонового газа (1 %) в пленку;
-нагрев подложек (до 350 С);
-отсутствие возможности одновременного нанесения пленок на большое количество пластин;
-наличие проникающего излучения.