- •Глава 3 электрические переходы в полупроводниковых приборах
- •3.1. Электрические переходы
- •3.2. Электронно-дырочный переход в равновесном состоянии
- •3.2.1. Структураp-n-перехода
- •3.2.2. Образование p-n-перехода
- •3.2.3. Энергетическая диаграмма p-n-перехода в состоянии равновесия. Формула для контактной разности потенциалов
- •3.2.4. Распределение напряженности электрического поля и потенциала в р-n-переходе
- •3.3. Электронно-дырочный переход в неравновесном состоянии
- •3.3.1. Потенциальный барьер
- •3.3.2. Толщина р-n-перехода
- •3.3.3 Энергетические диаграммы р-n-перехода
- •3.4. Вольт-амперная характеристика идеализированного р-n-перехода
- •3.5. Вольт-амперная характеристика реального р-n-перехода
- •3.5.1. Учет генерации и рекомбинации носителей заряда в обедненном слое
- •3.5.2. Учет сопротивлений областей
- •3.5.3. Пробой р-n-перехода
- •3.6. Параметры и модель р-n-перехода в динамическом режиме
- •3.6.1. Дифференциальное сопротивление
- •3.6.2. Барьерная емкость
- •3.6.3. Диффузионная емкость
- •3.6.4. Малосигнальная модель p-n-перехода
- •3.7. Частотные свойства p-n-перехода
- •3.8. Импульсные свойства р-n-перехода
- •3.8.1. Переходные процессы при скачкообразном изменении полярности напряжения
- •3.8.2. Переходные процессы при воздействии импульса прямого тока
- •3.9. Контакт металл - полупроводник и гетеропереходы
- •3.9.1. Контакты металл полупроводник
- •3.9.2. Гетеропереходы
3.8.2. Переходные процессы при воздействии импульса прямого тока
И
мпульс
тока с амплитудойIпр
(рис. 3.28,а) может быть получен с помощью
генератора тока, в качестве которого
можно использовать импульсный генератор
напряжения с большим внутренним
сопротивлением или сопротивлением,
включенным последовательно с исследуемым
р-n-переходом.
Эти сопротивления должны быть много
больше прямого сопротивления р-n-перехода.
Д
о
включения генератора тока базовая
область (n-область)
находилась в состоянии равновесия (не
было избыточных дырок). После включения
генератора дырки будут переноситься
током из р-области в n-область.
Для получения установившегося
распределения и необходимого количества
дырок в n-области
требуется определенное время.
Установившееся распределение показано
кривой 4
на рис. 3.29. Кривые 3, 2 и 1
соответствуют распределению в предыдущие
моменты времени. Однако наклон всех
кривых (градиент dpn/dx)
при х
= 0
одинаков, так как он всегда должен
обеспечивать один и тот же диффузионный
ток Iпр
~
dpn/dx.
Так как после включения происходит рост
концентрации дырок pn
на границе (х
= 0)
обедненного слоя и в самой базе, то
одновременно происходит как плавный
рост прямого напряжения на переходе,
так и уменьшение объемного сопротивления
базы Rб,
на
котором ток создает падение напряжения.
Поэтому следует рассматривать два случая. Если Iпр мал и падением напряжения IпрRб можно пренебречь, то изменение прямого напряжения р-n-перехода будет соответствовать рис. 3.28,б. При этом устанавливается напряжение Up. После окончания импульса тока на р-n-переходе сохраняется прямое напряжение, пока избыточные носители базы (дырки) не рекомбинируют.
При больших токах Iпр необходимо учитывать падение напряжения Uб = IпрRб и его изменение, вызванное уменьшением Rб по мере накопления носителей в базе. Этому случаю соответствует рис. 3.28,в. Вначале наблюдается скачок напряжения Uб. Затем идет плавный рост напряжения (обычно быстрый) и далее начинается спад до установившегося значения Uпр. Спад связан с уменьшением Rб. После окончания импульса тока (I = 0) напряжение на диоде скачком уменьшается на IпрRб, а затем убывает, как на рис. 3.28,б, пока не рекомбинируют все избыточные дырки в базе.
Длительность процесса установления прямого напряжения р-n-перехода характеризуется временем установления прямого напряжения или прямого сопротивления tycт. Это время отсчитывается от момента включения импульса тока до момента, при котором напряжение достигает значения 1,1Uпр.
3.9. Контакт металл - полупроводник и гетеропереходы
3.9.1. Контакты металл полупроводник
О
ни
используются в полупроводниковой
электронике либо в качестве омических
(невыпрямляющих) контактов с областями
полупроводниковых приборов, либо в
качестве выпрямляющих контактов.
Структура и свойства таких контактов
зависят от взаимного расположения
уровня Ферми в металле и полупроводнике.
Мы остановимся кратко на выпрямляющих
контактах металла и полупроводникаn-типа.
На
рис. 3.30 показана зонная диаграмма
контакта для случая, когда работа выхода
полупроводника n
меньше работы выхода металла М,
отсчитываемых от уровней Ферми
Fn
и
Fm
до уровня вакуума. После контакта
слоев электроны n-полупроводника
из-за меньшей работы выхода переходят
в металл, поэтому вблизи границы с
металлом остаются нескомпенсированные
положительные ионы доноров, а границы
зоны проводимости и валентной зоны
искривляются вверх, как показано на
рис. 3.30. При этом в состоянии равновесия
уровень Ферми в обоих случаях должен
быть одинаковым.
Область искривления зон (ширина перехода) мала и составляет обычно 0,1...0,2 мкм. Качественные переходы металл-полупроводник в настоящее время получаются напылением металла на полупроводник в вакууме.
Потенциальный барьер в приконтактном слое, равный разности работ выхода металла и полупроводника (к = М – n на рис. 3.30), называют барьером Шотки, а диоды, использующие эти барьеры, – диодами Шотки или диодами с барьером Шотки (ДБШ).
Если в контакте металла с n-полупроводником внешнее напряжение приложено плюсом к металлу, а минусом к полупроводнику, то высота потенциального барьера понижается, приконтактный слой обогащается основными носителями (электронами) и его сопротивление уменьшается. Это напряжение является для перехода прямым.
Важной особенностью барьеров Шотки по сравнению с р-n-переходом является отсутствие инжекции неосновных носителей. Эти переходы «работают» на основных носителях, поэтому у них отсутствует диффузионная емкость, связанная с накоплением и рассасыванием неосновных носителей, и выше быстродействие.
Особенностью переходов с барьером Шотки является то, что их ВАХ ближе всего к экспоненциальной ВАХ идеализированного р-n-перехода, а прямое напряжение значительно меньше (примерно на 0,2 В), чем в р-n-переходах.
