- •Общие сведения об электронных приборах
- •1.1. Классификация
- •1.2. Режимы, характеристики и параметры электронных приборов
- •1.3. Модели электронных приборов
- •Электрофизические свойства полупроводников
- •2.1. Концентрация носителей заряда в равновесном состоянии полупроводника
- •2.1.2. Метод расчета концентраций
- •2.1.3. Условие электрической нейтральности
- •2.1.4. Концентрация основных и неосновных носителей в примесных полупроводниках
- •2.1.5. Положение уровня Ферми в полупроводниках
- •2.1.6. Распределение носителей заряда по энергии
- •2.2. Неравновесное состояние полупроводника
- •2.2.1. Неравновесная и избыточная концентрации носителей заряда
- •2.2.2. Плотность тока в полупроводнике
- •2.2.3. Уравнение непрерывности
- •Глава 3 электрические переходы в полупроводниковых приборах
- •3.1. Электрические переходы
- •3.2. Электронно-дырочный переход в равновесном состоянии
- •3.3. Электронно-дырочный переход в неравновесном состоянии
- •3.4. Вольт-амперная характеристика идеализированного р-n-перехода
- •3.5. Вольт-амперная характеристика реального р-n-перехода
- •3.6. Параметры и модель р-n-перехода в динамическом режиме
- •3.7. Частотные свойства p-n-перехода
- •3.8. Импульсные свойства р-n-перехода
- •3.9. Контакт металл - полупроводник и гетеропереходы
- •Разновидности полупроводниковых диодов
- •4.1. Классификация
- •4.2. Выпрямительные диоды
- •4.3. Стабилитроны и стабисторы
- •4.4. Универсальные и импульсные диоды
- •4.5. Варикапы
- •4.6. Туннельные и обращенные диоды
- •Технологии производства полупроводниковых диодов
- •Биполярные транзисторы Принцип действия биполярного транзистора. Режимы работы Общие сведения
- •Физические процессы в бездрейфовом биполярном транзисторе
- •Эффект Эрли
- •5.2. Электрическая модель биполярного транзистора в статическом режиме (модель Эберса - Молла)
- •5.3. Статические характеристики биполярных транзисторов
- •5.3.2. Схема с общим эмиттером
- •5.3.3. Влияние температуры на статические характеристики бт
- •5.4. Дифференциальные параметры биполярного транзистора в статическом режиме
- •Квазистатический режим биполярного транзистора в усилительном каскаде Графоаналитическое рассмотрение при большом сигнале
- •Биполярный транзистор в квазистатическом режиме как линейный четырехполюсник
- •5.6. Нелинейная и линейная динамические модели биполярного транзистора
- •5.6.1. Нелинейная динамическая модель биполярного транзистора
- •5.6.2. Линейная (малосигнальная) модель биполярного транзистора
- •Тиристоры
- •6.1. Транзисторная модель диодного тиристора (динистора)
- •6.2. Вольт-амперная характеристика динистора
- •6.3. Тринистор
- •6.4. Симметричные тиристоры (симисторы)
2.2.2. Плотность тока в полупроводнике
![]()
где индексы «др» и «дф» указывают на дрейф и диффузию.
Дрейфовым движением называют направленное движение носителей под действием напряженности электрического поля (градиента потенциала).
Плотность дрейфового тока в соответствии с общим определением
(2.48)
где
и
–
дрейфовая скорость электронов и дырок,
пропорциональная напряженности
электрического поля Е:
(2.49)
Коэффициенты
и
называютподвижностью
электронов и дырок.
Подставив (2.49) в (2.48), получим
(2.50)
Эти формулы часто записывают в виде
(2.51)
где
,
– удельные электрические проводимости,
вызванные электронами и дырками.
У германия
= 3900 см
/Вс,
=
1900 см
/Вс,
а кремния
=
1500 см
/Вс,
=
450 см
/Вс.
То, что подвижность электронов выше
подвижности дырок, имеет большое
практическое значение; у германия они
выше, чем у кремния.
Диффузионные компоненты плотности тока при одномерном рассмотрении определяются градиентами концентраций подвижных носителей, т.е.
(2.52)
где
и
– коэффициенты диффузии электронов и
дырок, зависящие от материала
полупроводника.
С
уществует
пропорциональность между коэффициентами
диффузии и подвижностью, называемаясоотношением
Эйнштейна:
(2.53)
где
(2.53а)
называется
температурным
или тепловым
потенциалом.
При T=З00
К
=0,026
В.
2.2.3. Уравнение непрерывности
В общем случае концентрация носителей зависит от координаты и времени: n(x,t), p(x,t). Эти зависимости можно найти, решив уравнение непрерывности, записываемое в виде:
для неосновных носителей в р-полупроводнике
(2.54)
для неосновных носителей в n-полупроводнике
(2.55)
(2.56)
(2.57)
Эти уравнения учитывают процесс диффузии и рекомбинации и называются уравнениями диффузии.
В полупроводниковых приборах часто рассматривается стационарный режим, когда концентрации не изменяются во времени (dn/dt=0, dp/dt=0).
Рассмотрим p-полупроводник, в котором dn/dt=0. Тогда вместо (2.56) можно записать
(2.58)
где принято обозначение
(2.59)
Так как
– избыточная концентрация электронов,
то вместо (2.58) запишем
(2.60)
Решением этого дифференциального уравнения второго порядка является сумма экспонент:
(2.61)
а
коэффициенты
и
определяются из граничных условий.
(2.62)
Из выражения (2.62)
следует, что при
![]()
.
Характерную длину
,
на которой избыточная концентрация
электронов при диффузии уменьшается
из-за рекомбинации в е
=2,72 раза,
называют диффузионной
длиной электронов.
При х > 3
уже можно считать, что
,
т.е. состояние считается равновесным.
Аналогично (2.62) можно записать и закон изменения избыточной концентрации дырок в n-полупроводнике:
(2.63)
где, как и в (2.59),
(2.64)
– диффузионная длина дырок в n-полупроводнике.
Глава 3 электрические переходы в полупроводниковых приборах
3.1. Электрические переходы
Электрическим переходом называют переходный слой между областями твердого тела с различными типами электропроводности (n-полупроводник, р-полупроводник, металл, диэлектрик) или областей с одинаковым типом электропроводности, но с различными значениями удельной проводимости.
Электрические переходы могут создаваться как на основе полупроводников с одинаковой шириной запрещенной зоны, т.е. одинаковых материалов (гомопереходы), так и с различными значениями ширины (гетеропереходы).
