- •1.Основные понятия, термины и определения метрологии.
- •2. Анализ спектра сигналов. Краткая характеристика методов и способов анализа спектра.
- •3.Фильтровые и цифровые анализаторы спектра. Основные параметры и область применения.
- •4.Анализаторы гармоник. Регистраторы формы сигнала.
- •5. Измерение параметров модуляции. Основные виды модуляции и измеряемые параметры
- •6. Измерение коэффициента амплитудной модуляции, девиации частоты и индекса частотной модуляции
- •7. Измерение нелинейных искажений гармонических и модулированных колебаний. Измерение интермодуляционных искажений.
- •8. Параметры сетей телекоммуникаций, имеющие случайный характер. Основные вероятностные характеристики случайных сигналов и их оценки.
- •9. Измерение среднего значения, средней мощности и дисперсии стационарных эргодических сигналов.
- •10. Анализ распределения вероятностей стационарных эргодических сигналов. Измерение корреляционных функций.
- •11. Анализ спектров случайных сигналов. Цифровые измерители характеристик случайных сигналов, особенности их работы.
- •12. Радиопомехи и нормы для них. Классификация методов и приборов для измерения напряжённости поля и помех.
- •13.Электромагнияная совместимость радиоэлектронных средств (Седельников ю.Е. Электромагнитнаяя совместимость радиоэлектронных средств 2006)
- •14.Основные методы измерения поля. Индикаторы поля. Измерители напряженности поля и измерительные приемники.
- •15.Измерение псофометрического напряжения помех. Псофометр (измеритель относительного уровня шумов линии связи и радиопередачи) (ст 334 Хромой)
- •16.Виды затухания четырёхполюсников: собственное , рабочее, вносимое
- •17) Методы измерения затуханий и усиления четырехполюсников. Измерение собственного затухания четырехполюсников.
- •2) Метод сравнения
- •3) Компенсационный метод
- •4) Метод холостого хода и короткого затухания
- •18)Измерение собственного затухания и усиления четырехполюсников методами известного генератора, z и сравнения
- •19)Панорамные методы измерения частотных характеристик рабочего затухания
- •20) Виды методов измерения расстояния до мест повреждения на линиях связи и их особенности. Импульсный метод измерения.
- •21 Импульсные рефлектометры с зондирующим импульсом и единичным перепадом напряжения. Параметры и характеристики импульсных рефлектометров.
- •22 Методики измерений расстояний до мест повреждений на линиях с использованием импульсных рефлекторов. Идентификация неоднородностей линий связи по полученным рефлектограммам
- •2.1.1 Сущность метода импульсной рефлектометрии
- •23 Характеристики и параметры свч устройств и линий связи. Анализ методов и средств измерений и их классификация
- •24 Измерение параметров двухполюсников. Измерительные линии. Конструкция, принцип действия, методики измерений и параметры
- •27. Измерители s параметров гомодинного и гетеродинного типа.
- •31. Измерение уровней оптических сигналов. Оптические измерители мощности.
- •32 Измерение затухания оптических кабелей с использованием метода измерения разностей уровней оптических сигналов, метода «обламывания» и вносимых потерь
- •Метода «обламывания»
- •И вносимых потерь
- •36) Сигнатурный анализ. Принцип и схема формирования сигнатуры из тест-последовательности. Сигнатурные анализаторы. Особенности и обл.Применения.
- •37)Измерение с помощью сигнатурных анализаторов. Обнаружение ошибок. Примеры реализации и использование сигнатурных анализаторов.
- •38) Методика диагностики и контроля устройств, содержащие микропроцессоры, с помощью логических и сигнатурных анализаторов.
36) Сигнатурный анализ. Принцип и схема формирования сигнатуры из тест-последовательности. Сигнатурные анализаторы. Особенности и обл.Применения.
Перспективным направлением в повышении обслуживаемости микропроцессорной аппаратуры и микро ЭВМ являся сигнатурный анализ, предполагающий использование циклических избыточных кодов для сжатия длинных двоичных кодов — реакций аппаратуры на тестовые последоиагельносгн в короткий, обычно 4-. 5-разрядный шестнадцатиричный код который просто индицируется н сравнивается с указанным в документации для каждой контролируемой точки контрольным кодом (сигнатурой)
При сигнатурном анализе используется следующий принцип сжатия данных. Двоичный вектор может быть представлен полиномом G(x) с двоичными коэффициентами. Например, двоичному вектору 110011 соответствует полином x5+x4+x+l. Суммирование, умножение и деление двоичных полиномов выполняется путем операций суммирования по модулю 2 над двоичными коэффициентами, т.е. без переноса между соседними разрядами. Деление двоичных полиномов может производиться с помощью сдвиговых регистров с линейными обратпымн связями. Коатролируемая двоичная последовательность или, другими словами, полином G(x) поступает с проверяемого выхода схемы на сдвиге выП регистр, в котором выполняется деление полинома хк G(х) (где k —число разрядов сдвигового регистра) на порождающий полином Р(х) степени k. Результатом деления является остаток R(x), получающийся в сдвиговом регистре после приема входной последовательности. Эго и есть сигнатура. Рассматриваемый процесс описывается формулой
x kG{x) = Q(x)P(x)+R{x),
где Q(x) — частное; R(x) — остаток. Вид порождающего полинома Р(х) определяется схемой обратных связей регистра.
Для сжатия длинных двоичных последовательностей и получения кодов сигнатур используется сигнатурный анализатор (рис. 9.1), основу которого составляет сдвиговые регистр с линейными обратными связями, замыкаемыми через сумматор по модулю 2, на вход которого также поступает последовательность бит, снимаемая с контролируемой точки схемы. Сдвиговый регистр снабжается индикаторами, указывающими содержимое регистра (сигнатуру) в шестнадцатеричном коде. При этом для облегчения восприятия сигнатуры шестнадцатеричные цифры изображаются следующими символами: 0, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, Л, С, F, Н, Р, U.
37)Измерение с помощью сигнатурных анализаторов. Обнаружение ошибок. Примеры реализации и использование сигнатурных анализаторов.
Для проверки устройства щуп сигнатурного анализатора присоединяется к контролируемому выходу схемы. На входы контролируемой схемы поступает последовательность тестов( вектор-стимулов). Каждому вектор-стимулу соответствует 1 бит в выходной последовательности (выходном векторе), снимаемой с контролируемого выхода.
Подача последовательности тестовых векторов, снятие с контролируемой точки последовательности бит, подача их на вход сумматора по модулю 2 и работа сдвигового регистра синхронизируются одной и тон же серией тактовых сигналов.
Процесс получения сигнатуры предполагает задание некоторого фиксированного интервала времени—«окна*, соответствующего определенному числу тактовых сигналов, а следовательно, и такому же числу вектор-стимулов и вызываемых ими бит в выходной последовательности, поступающей на вхол сигнатурного анализатора. Анализатор содержит схему формирования «окна», на входы которой поступают сигналы ПУСК, ТАКТ, СТОП. После закрытия «окна» (остановки сигнатурного анализатора) на сдвиговом регистре остается 16-битный остаток, который индицируется на 7-элементных индикаторах в виде четырех шест- надцатеричиых цифр. Полученная на индикаторах сигнатура сравнивается с эталонной, указанной в документации для данной контролируемой точки.
Эталонные сигнатуры могут быть получены путем проверки с помошью сигнатурного анализатора заведомо исправных схем или расчетным путем на ЭВМ.
При выполнении диагностической процедуры оператор последовательно просматривает в тестовом режиме сигнатуры на выходах устройства и при обнаружении расхождения с указанными в документации сигнатурами переходит к просмотру сигнатур в точках неисправной цепи, двигаясь от выхода к входу, пока не найдет неисправный элемент. При использовании сигнатурного анализа поиск неисправностей в микропроцессорной аппаратуре становится похожим на обслуживание телевизора, когда мастер, ремонтирующий его, с помощью тестера и щупа сравнивает сигналы в данной цепи с сигналом, указанным на чертеже схемы, и при обнаружении расхождения для определения места неисправности выполняет просмотр сигналов при движении от выхода к входу схемы.
Введение контрольной цифровой информации (сигнатур) в техническую документацию на цифровую аппаратуру очень удобно, так как для этой аппаратуры не представляется возможным документировать признаки правильной работы схем в виде параметров напряжений, токов или даже форм сигналов.
Метод сигнатурного анализа обладает высокой достоверностью, которая в данном случае определяется вероятностью того, что различающиеся двоичные векторы имеют неодинаковые сигнатуры. Любая одиночная ошибка в выходном двоичном векторе обнаруживается с вероятностью, равной единице. При числе ошибок более одной вероятности обнаружения ошибок равна 1 — 1/2n,
где n — число разрядов сигнатурного анализатора. При я=16 вероятность равна 0,99998. Это означает, что прн не- одиночиой ошибке в выходной последовательности можно ожидать, что не более 0,002 % различных последовательностей будут иметь одинаковые сигналы.
При необходимости тестирования достаточно сложной микромашинной аппаратуры для повышения достоверности результатов сигнатурного анализа можно увеличить длину сдвигового регистра сигнатурного генератора. Например, уже при л = 20 вероятность обнаружения неисправности, порождающей многократную ошибку в проверяемой двоичной последовательности, составляот 0,999999.
Совпадение сигнатур возможно только в том случае, когда при формировании сигнатуры последующие ошибки в выходном векторе компенсируют влияние предыдущих ошибок (искажений). Можно показать, что при двойной ошибке компенсация имеет место, когда эти ошибки разделены 2n—1 нулями, что является маловероятным событием.
Точки съема сигналов обратной связи в сдвиговом регистре выбираются из условия получения наибольшей достоверности результата.
Чтобы можно было использовать сигнатурный анализатор для локализации неисправностей, необходимо при разработке микропроцессорного устройства предусмотреть в нем средства хранения или генерации тестовой последовательности (тестовой программы), а также формирования синхронизированных с выдачей тестов (вектор-стимулов) сигналов ПУСК, ТАКТ и СТОП для управления анализатором. Могут потребоваться и средства разрыва цепей обратных связей в схемах устройства во избежание неоднозначности сигнатур.