- •Лекции 1-й семестр Лекция № 1 (11.09.06)
- •Цели и задачи контроля в гап.
- •Контроль качества продукции (ккп)
- •Лекция № 2 (18.09.06)
- •Классификация измерительных преобразователей.
- •Основные требования, предъявляемые к датчикам:
- •Классификация систем пассивного контроля
- •Альтернативный метод контроля
- •Лекция № 3 (25.09.06)
- •Точные системы позиционирования
- •Устройства и системы активного контроля
- •Лекция №4 (2.10.2006) Особенности измерения и контроля в гпс (кап)
- •Требования к датчикам
- •Функции гибкой ячейки для токарной обработки
- •Лекция №5 (2.10.2006) Особенности контроля в режиме реального времени в производственных условиях
- •Лекция №6 (2.10.2006) Содержание отчета к дз1
- •Лекции 7-9
- •1. Метрологическое и схемотехническое моделирование для иик гпс.
- •2. Измерение
- •2.1 Классификация измерений
- •2.2 Классификация методов измерений
- •3. Техническая диагностика-
- •3.5 Этапы при разработке систем диагностирования
- •4. Методы и средства неразрушающего контроля
- •4.4 Приборы неразрушающего контроля
- •4.4.1 Техническое исполнение приборов
- •4.4.2 Классификация приборов по виду контролируемых параметров
- •4.5 Дефекты
- •4.6 Стадии
- •4.7 Эффективность применения неразрушающего контроля
- •Лекции 10-12 Методы и средства неразрушающего контроля
- •Классификация методов неразрушающего контроля.
- •Классификация средств неразрушающего контроля.
- •Стадии неразрушающего контроля.
- •Эффективность применения неразрушающего контроля.
- •Методы контроля проникающими веществами
- •Капиллярные методы.
- •Методы течеискания.
- •Методы испытания на герметичность.
- •Газовые методы.
- •Газо-гидравлические методы.
- •Гидравлические методы.
- •Лекция 13 (4.12.06) Информационно-измерительный канал с вихретоковым преобразователем
- •Модель преобразования в простейшем виде
- •Типы втп
- •Простейшая схема включения втп в измерительную цепь
- •Лекция 14 (11.12.06) Включение в мостовую измерительную схему (вихретоковый преобразователь)
- •Режимы работы иик
- •Проявление влияющих воздействий
- •Погрешности измерений и обработка результатов
- •Лекции 2-й семестр Лекция 1
- •Лекция 2
- •Лекция 3
- •Р ежимы работы иик
- •Лекция 4
- •Лекция 5
- •Лекция 7
- •Программы колибровки датчиков.
- •2.Программы колибровки размеров
- •3.Программы контроля инструмента
- •Лекция 8
- •Лекция 9
- •Лекция 13
- •1. Вибрационные методы неразрушающего контроля.
- •1.1 Виды процессов
- •1.2 Вибрации
- •1.3 Преобразователи для изменения вибраций.
- •1.3.1 Параметрические преобразователи. Вихретоковый преобразователь.
- •1.3.2 Генераторные преобразователи. Пьезопреобразователь.
- •Лекция 14
- •2. Радиационные методы контроля.
- •2.1 Контроль радиационными методами.
- •2.2 Используемые излучения и его источники.
- •2.3 Детекторы излучения.
- •2.4 Классификация методов радиационного контроля.
- •2.4.1 Радиографические методы контроля.
- •2.4.2 Радиоскопические методы контроля.
- •2.4.3 Радиометрические методы.
Устройства и системы активного контроля
Устройства активного контроля осуществляют управление технологическим процессом, имеют выход на технологическое оборудование и принимают решения по результатам контроля.
Активный контроль может производиться до, во время и после обработки. Он так же может решать задачу обеспечения качества и надежности работы технологической системы.
Виды активного контроля
Блокировочный контроль
Блокирующие устройства – наиболее простые устройства активного контроля.
Пример:
Блокирующие устройства ставятся на автоматических линиях между токарными и шифовальными станками. Они не влияют на размерную точность деталей, но обеспечивают безаварийный процесс обработки.
Контроль в процессе обработки
Устройство контроля в процессе обработки посылает сигнал на прекращение обработки, как только достигается заданный диапазон размеров изготавливаемой детали. При этом осуществляются прямые или косвенные измерения.
Подналадочный контроль
Подналадчики – измерительные устройства, которые через цепь обратной связи изменяют настройку станка, когда значение контролируемого параметра выходит за допустимые пределы. Они не определяют размеры детали, а поддерживают с той или иной точностью настройку станка для получения детали с заданными размерами.
Рис. 4 Пример системы подналадочного контроля
В данном случае (Рис. 4) присутствует систематическая погрешность – износ шлифовального круга.
Рис. 5
Подналадчик не реагирует на изменение размеров в диапазоне А (Рис. 5). При достижении области σ (зоны риска) дается команда на подналадку равную по величине подналадочному импульсу.
Недостаток такой методики в слабой помехозащищенности.
Это можно исправить, изменив методику, т.е. подналадчик переключается только после n (n=2, 3, …) изделий, размеры которых вышли в зону риска.
Лекция №4 (2.10.2006) Особенности измерения и контроля в гпс (кап)
ИИК в технологической системе.
Требования к датчикам
Требования определяются условиями их использования и основные из них следующие:
Точность(погрешность).
Чувствительность.
Перегрузочная способность(отношение предельного допустимого значения входной величины к номинальному ее значению).
Стойкость в агрессивных средах.
Стойкость к воздействию СОЖ и к загрязнениям.
Малая чувствительность к неинформативным параметрам входной величины.
Малая чувствительность к влияющим воздействиям.
Малая масса.
Миниатюризация.
Простота конструктивных решений.
Высокая надежность.
Высокая технологичность и экономичность
Функции гибкой ячейки для токарной обработки
Лекция №5 (2.10.2006) Особенности контроля в режиме реального времени в производственных условиях
Неэлектрические параметры контролируются в зоне протекания технологического процесса или непосредственно на работающем оборудовании.
Влияющие воздействия на датчик в условиях ГПС, как правило, на порядок сильнее, чем на вторичный преобразователь.
Измеряемые неэлектрические величины необходимо преобразовывать в электрические сигналы.
Влияющие воздействия неопределенны как по величине, так и по физической природе.
Высокие требования по точности измерения контролируемого параметра.
Ограничение по точности контролируемого параметра
Т – трудоемкость, А – допуски на параметр.
=*А
- погрешность
- коэффициент
=0,1…0,45
Замечание о точности и надежности ИИК
Конструктивные решения в современных датчиках имеют тенденцию к усложнению и к размещению все большего числа элементов(деталей) в уменьшающемся объеме.
Эта тенденция неизбежно ведет к снижению надежности, если не предусматриваются одновременно новые решения в области ее повышения.
Завышение точности также недопустимо.
Примеры контроля
Контроль инструмента
Измерение заготовки(детали)
Этапы преобразований в ИИК
1 этап: преобразование неэлектрической величины в электрический параметр.
2 этап: вторичное преобразование электрических сигналов(АЦП, детектирование, фильтрация, масштабирование, калибровка).
Решаются задачи:
Достижение требуемой мощности сигнала.
Достижение требуемой чувствительности канала ИИК.
Достижение требуемой точности.
Пример ИИК для системы активного контроля при шлифовании
1-инструмент
2-деталь
3-измерительный электрод
Вывод: без элемента связи с генератором параметрический измерительный преобразователь работать не может. Если правильно не выбрать элемент связи с генератором, то при наличии хорошего датчика, можно получить очень плохой ИИК; при плохом преобразователе правильный выбор элементов параметрической цепи может обеспечить приемлемое решение.