Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Дмитриев.doc
Скачиваний:
30
Добавлен:
23.09.2019
Размер:
3.71 Mб
Скачать

2.1.1.2 Дисперсность и методы ее определения [19].

Сажа относится к дисперсным материалам, состоящим из большого количества очень маленьких частиц (10-300 нм). Поверхность дисперсных материалов довольно велика. Количественно дисперсность характеризуется следующими показателями: диаметром частиц, составляющих единицу массы материала; удельным числом частиц, равным количеству частиц в единице массы сажи. Чем мельче частицы, тем выше дисперсность и, наоборот, чем крупнее частицы, тем меньше дисперсность.

Для отдельной частицы монодисперсного материала удельная поверхность Аг равна:

(2.1)

где - площадь поверхности частицы;

- вес частицы;

- плотность технического углерода.

(2.2)

Технический углерод является полидисперсным материалом. Такие системы характеризуются среднеарифметическим диаметром Dса:

(2.3)

где Ni-число частиц с диаметром Di.

;

;

Среднеарифметический диаметр недостаточно полно характеризует систему. Поэтому наряду с ним вводятся также среднеповерхностный и среднечастичный диаметры. Формула (2.1) для полидисперсной системы приобретает вид:

(2.4)

;

(2.5)

Сопоставляя (2.5) и (2.2) можно установить, что значение Dr соответствует выражению ( ) полидисперсной системы. Это выражение названо среднеповерхностным диаметром (Dr):

(2.6)

Удельное число частиц (в 1 г технического углерода):

(2.7.)

Для монодисперсной системы

(2.8.)

Для полидисперсной системы

Тогда

(2.9.)

Сопоставляя (2.8.) с (2.9.), видим, что соответствует .

Корень кубический из последнего выражения назван среднечастичным диаметром

(2.10.)

Методы определения дисперсности.

Метод электронной микроскопии.

Электронная микроскопия является единственным инструментальным методом, позволяющим наблюдать и измерять размеры частиц. Специально подготовленная сажа наносится на объектодержатель, который помещается в поле ''зрения '' электронного луча. Оператором выбирается объекты для наблюдения, измерений и фиксируются на фотопластинки. По фотографиям измеряются диаметры частиц, видимых более, чем на половину окружности. Подсчитываются количества частиц Ni для каждого диаметра Di. В результате получают гистограмму распределения частиц по размерам и на ее основании рассчитывают Dса, Dr, D, удельную геометрическую поверхность Аг и удельное число частиц Nуд.`

Основным недостатком этого метода является трудоемкость, длительность, использование дорогостоящего оборудования. Метод электронной микроскопии применяется исключительно в исследовательских целях [31] .

Кинетический метод.

В основу кинетического метода определения удельной геометрической поверхности положено экспериментально установленное явление, заключающееся в том, что скорость образования пироуглерода (углерода, образующегося на нагретой поверхности из углеводородов в газовой фазе) прямо пропорциональна величине геометрической поверхности, находящейся в зоне реакции [32,33]. Определение заключается в том, что на заданное время в реакционную зону, в которой поддерживается постоянная температура и скорость потока углеводорода, вводят две равные навески сажи: исследуемой и эталонной. Отношение привесов этих навесок после опыта равно отношению их удельных геометрических поверхностей. Удельная поверхность эталонной сажи должна быть предварительно определена на основе электронной микроскопии. Кинетические измерения проводят при термическом разложении бензола в смеси с азотом (15% бензола) в печи при температуре 800 оС. Образцы сажи по 100-200 мг помещают в фарфоровые лодочки. Время одного опыта 30 мин. Вместо бензола можно применять метан или природный газ. В этом cлучае температура в реакционной зоне поддерживается на уровне 920-930 оС. Практически проводятся три последовательных определения. Первое производится для покрытия саж 1-2 монослоями пироуглерода. В расчет берутся второе и третье определения. Этот метод нашел широкое распространение в лабораторной практике благодаря простоте, достаточной точности и воспроизводимости.

Недостатком является то, что природа и удельные поверхности эталонной и исследуемой саж должны быть близкими. По этой причине использование рассматриваемого метода для определения Аг новых типов сажи не представляется возможным.

Оптические методы.

Оптические методы определения удельной геометрической поверхности Аг. основаны на функциональной взаимосвязи яркости сажи и ее дисперсности, либо между дисперсностью сажи и оптической плотностью ее (сажи) водной суспензии.

В лабораторной практике распространен метод определения удельной геометрической поверхности называемый колорометрическим [34,35]. По этому способу на фотоэлектроколориметре ФЭК-56 при длине волны L = 313 нм измеряется оптическая плотность сажевой суспензии QL. Путем ряда таких определений для образцов с известной удельной поверхностью находят зависимость Аг=f(QL). Такая зависимость имеет нелинейный характер, и каждому виду технического углерода соответствует отдельный участок кривой, который в узком интервале можно считать прямым, изменяющимся по закону

Aг=B+C*QL (2.11.)

Где В и С - постоянные для данного типа технического углерода. Этот метод широко используется в лабораторной практике заводов-изготовителей и потребителей технического углерода при работе с однотипной продукцией.

Наряду с колорометрическим применяется экспресс-метод определение удельной геометрической поверхности на приборе ФПК-3, разработанным в НИИ технического углерода [36,37]. Принцип работы прибора основан на зависимости яркости образца сажи Е от его дисперсности.

Е=5.1*Dr 0.73 (2.12.)

Прибор позволяет оценить Аг в интервале 10-110 м2/г при продолжительности одного испытания 1-2 мин. Высокая экспрессность и простота измерений обусловили широкое использование прибора для оперативного контроля дисперсности сажи в процессе его получения. К недостаткам метода следует отнести то, что он имеет ограничения по коэффициенту шероховатости Кш, который не должен превышать 1,3, а также по удельной геометрической поверхности Аг. Она должна быть не выше 110м2/г. Кроме этого для настройки прибора необходимо иметь набор эталонных образцов [38].