
- •Введение.
- •1. Кремний.
- •2. Методы получения монокристаллических материалов.
- •2.1. Получение кристаллов из твёрдой фазы.
- •2.2. Получение кристаллов из жидкой фазы.
- •Выращивание кристаллов из расплавов.
- •Выращивание кристаллов из растворов.
- •2.3. Получение кристаллов из газовой фазы.
- •3. Материалы, использующиеся при производстве монокристаллического кремния методом Чохральского.
- •3.1. Легирующие примеси.
- •3.2. Основные конструкционные и технологические материалы.
- •4. Пооперационное описание технологии выращивания монокристаллического кремния методом Чохральского.
- •Подготовка и компоновка сырья.
- •Чистка камеры печи.
- •Сборка оснастки печи.
- •Вакуумирование камеры и проверка на герметичность.
- •Расплавление загрузки и выдержка расплава.
- •Затравление и разращивание прямого конуса.
- •Выращивание цилиндрической части слитка.
- •Приостановка процесса роста.
- •Выращивание обратного конуса.
- •Охлаждение слитка и выгрузка из камеры печи.
- •Контроль качества выращенного слитка и доводка до готовой продукции.
- •5. Технологические неоднородности состава кристаллов и методы их уменьшения.
- •6. Оборудование, используемое при выращивании монокристаллического кремния методом Чохральского.
- •7. Управление технологическим процессом выращивания монокристаллического кремния методом Чохральского.
- •Выбор управляющих воздействий.
- •8. Статистический анализ процессов.
- •Диаграмма Ишикавы.
- •Диаграмма Парето.
- •8.1. Подбор оптимального режима выращивания монокристаллов кремния.
- •8.2. Корректировка режимов при переходе на новую технологическую оснастку.
- •Основные результаты и выводы.
2. Методы получения монокристаллических материалов.
Все методы получения монокристаллических материалов можно разделить на три группы:
- получение кристаллов из твёрдой фазы;
- получение кристаллов из жидкой фазы;
- получение кристаллов из газовой фазы.
2.1. Получение кристаллов из твёрдой фазы.
Твёрдофазные процессы превращения, сопровождающие рост кристаллов из твёрдой фазы, могут протекать как без изменения симметрии кристаллической решетки (рекристаллизация), так и с образованием новых структур с решеткой другой симметрии (перекристаллизация).
Основными методами получения монокристаллов из твёрдой фазы являются: рекристаллизация посредством отжига деформаций в твёрдой фазе и при спекании; перекристаллизация при полиморфных превращениях; перекристаллизация из аморфного состояния и из насыщенного твёрдого раствора.
К достоинствам твёрдофазных методов выращивания монокристаллов можно отнести следующие. Появляется возможность проводить процессы при температурах существенно ниже температуры плавления материала, что упрощает технологию получения монокристаллов; упрощается получение кристаллов необходимого профиля, так как форма растущего кристалла задается заранее; вследствие низких температур выращивания и соответственно малых коэффициентов диффузии распределение примесей в выращиваемом монокристалле сохраняется таким же, как и в исходном материале.
Недостаток твердофазных методов выращивания кристаллов заключается в высокой плотности потенциальных центров твёрдофазной кристаллизации, в трудностях управления зародышеобразованием и соответственно выращивания крупных монокристаллов.
Эти методы находят широкое применение для получения тонких эпитаксиальных слоев в технологии полупроводниковых и микроэлектронных приборов, но не применимы для получения слитков монокристаллического кремния.
2.2. Получение кристаллов из жидкой фазы.
Все технологические методы выращивания монокристаллов из жидкой фазы можно разделить на две группы: из собственных расплавов и из растворов.
Выращивание кристаллов из расплавов.
В настоящее время это наиболее распространенный промышленный процесс, так как по сравнению с другими он обладает следующими достоинствами:
1. Наивысшей производительностью, потому как в однокомпонентных расплавах, т. е. системах, не содержащих посторонних примесей (либо содержащих их в незначительном количестве), диффузионные процессы в кристаллизующейся среде не являются лимитирующей стадией процесса. Благодаря этому, выращивание кристаллов из расплавов в однокомпонентных системах позволяет получить достаточно чистые кристаллы с высокими скоростями роста, более чем в 100 раз превышающими скорости роста кристаллов при выращивании их другими методами.
2. Гибкостью технологии, т.е. возможностью менять режимы с целью достижения требуемых свойств. Рост из расплава является сравнительно простым процессом применительно к материалам, которые плавятся конгруэнтно, т. е. дают расплав того же состава, что и кристалл, а также к материалам, имеющим невысокое давление паров при температуре плавления. В противном случае методика выращивания и аппаратура процесса значительно усложняются.
3. Возможностью получения кристаллов больших размеров и с высоким структурным совершенством.
4. Лёгкостью легирования.
С другой стороны, использование максимально возможных температур роста, что в ряде случаев может создавать проблемы в контролировании температурных градиентов, необходимых для выращивания кристаллов высокого структурного совершенства. Высокие температуры процесса требуют применения установок большей мощности и способствуют загрязнению расплава, если он содержится в тигле.
Для выращивания монокристаллов из расплава используются различные методы. В основе всех их лежит направленная кристаллизация расплава, при которой зарождение и рост кристалла при наличии переохлаждения (Т) и градиента температуры в расплаве осуществляются на одной фазовой границе, и теплота от фронта кристаллизации отводится преимущественно в одном направлении. Это позволяет кристаллизовать расплав в виде одного монокристалла. Методы направленной кристаллизации можно разделить на три группы:
- расплавляют всю заготовку и затем кристаллизуют её с одного конца;
- кристаллизацию расплавленной заготовки осуществляют путём вытягивания из неё монокристалла;
- последовательно в каждый момент времени расплавляют, а затем кристаллизуют только одну зону заготовки.
Первую группу методов называют методами нормальной направленной кристаллизации, вторую – методами вытягивания кристаллов из расплава, третью – методами зонной плавки или зонной перекристаллизации.
Методы нормальной направленной кристаллизации расплавов.
Общим для всех этих методов является рост кристалла в контакте со стенками контейнера (тигля), содержащего расплав. Кристаллизация в этих методах осуществляется перемещением тигля с расплавом относительно нагревателя, создающего тепловое поле с градиентом температуры, либо перемещением нагревателя относительно тигля. Возможно проведение процесса кристаллизации и без механического перемещения тигля или нагревателя, за счет охлаждения тигля с расплавом в тепловом поле с температурным градиентом.
Процесс нормальной направленной кристаллизации может проводиться без применения специальной затравки. В этом случае весь кристаллизуемый материал в начале процесса находится в расплавленном состоянии, а при охлаждении в области тигля, оказавшейся при температуре ниже температуры плавления вещества, образуется, как правило, несколько центров кристаллизации. Для уменьшения объема первоначально кристаллизуемого вещества и увеличения в результате этого вероятности образования одного центра кристаллизации одному концу тигля придается форма конуса.
Размеры кристаллов, получаемых данным методом, в ряде случаев превосходят размеры кристаллов тех же материалов, получаемых другими методами.
Основным недостатком рассмотренного метода является трудность получения совершенных кристаллов из-за всегда имеющихся различий в температурных коэффициентах линейного расширения выращиваемого кристалла и тигля. Это не позволяет применять данный метод для получения солнечного кремния.
Методы вытягивания кристаллов из расплавов.
Данные методы в настоящее время являются наиболее распространенными при промышленном производстве больших монокристаллов полупроводниковых и диэлектрических материалов с контролируемыми и воспроизводимыми свойствами. Принцип метода вытягивания кристаллов из расплавов впервые был предложен Чохральским в 1916г. Сейчас уже существует значительное количество различных модификаций данного метода, однако всех их объединяют под общим названием «метод Чохральского».
Суть кристаллизационных процессов довольно проста. Обычно рассматривается система из двух фаз: жидкой и твердой (или расплав-кристалл). Границу раздела расплав-кристалл называют фронтом кристаллизации. Если наблюдается равенство тепловых потоков из расплава в кристалл и обратно, то на фронте кристаллизации будет иметь место подвижное равновесие, когда число возникающих из жидкой фазы и растворяющихся в ней кристаллических зародышей одинаково. Для роста кристалла необходимо, чтобы возникающие из жидкой фазы кристаллические зародыши не растворялись, а росли. Это возможно при нарушении симметрии тепловых потоков, когда в жидкой фазе возникает переохлаждение. В реальных условиях это переохлаждение в процессе создается за счет того, что столбик расплава, который тянет за собой затравочный кристалл, попадает в более холодную зону над поверхностью расплава. Кристаллизация расплава, при которой тепло отводится от фронта кристаллизации преимущественно в одном направлении (в отличие от кристаллизации, где тепло отводится от объема расплава во все стороны), получила название направленной. Направленная кристаллизация лежит в основе кристаллизационных процессов, применяемых в технологии полупроводниковых материалов при выращивании объемных кристаллов для очистки их от вредных примесей, равномерного легирования требуемыми примесями, создания по длине кристалла заданного распределения примеси. Только что названные эффекты возможны при кристаллизации расплава за счет того, что примеси, которые присутствуют в расплаве (попавшие туда с исходным кремнием – шихтой или добавленные в качестве лигатуры) переходят в твердую фазу не полностью. Соотношение концентрации примеси в твердой и жидкой фазах называют коэффициентом распределения (kо). На практике наиболее распространен случай, когда kо меньше единицы. То есть кристалл содержит меньше примеси, чем исходный расплав.
Суть метода Чохральского заключается в следующем. Исходный материал в виде порошка или кусков поликристаллов, прошедший стадию тщательной очистки, загружают в тигель и нагревают до расплавленного состояния. Процесс проводится в герметичной камере в вакууме или в нейтральной (инертной), окислительной или восстановительной атмосфере. Затем затравочный кристалл размером в несколько миллиметров, установленный в охлаждаемый кристаллодержатель и ориентированный в нужном кристаллографическом направлении, погружается в расплав. После частичного оплавления конца затравки и достижения определенного температурного режима начинается вытягивание таким образом, чтобы кристаллизация расплава происходила от затравочного кристалла. Диаметр кристалла регулируют подбором скорости вытягивания или нагревом расплава, а также обоими факторами одновременно.
Для выращивания монокристаллов разлагающихся полупроводниковых и диэлектрических соединений расплав покрывают слоем герметизирующей жидкости (толщиной 10 – 15 мм), которая препятствует испарению летучего компонента. Вытягивание кристалла производят из-под слоя этой жидкости, над которой дополнительно еще создают повышенное давление инертного газа. Величина этого давления в 1,5 – 2,5 раза должна превышать равновесное давление пара летучего компонента при температуре плавления соединения. Герметизирующая жидкость должна иметь плотность, меньшую плотности расплава, и не должна реагировать с материалом тигля и расплавом выращиваемого кристалла. Желательно, чтобы она была прозрачной, и можно было следить за фронтом кристаллизации растущего кристалла.
Преимущества методов вытягивания кристаллов из расплава по сравнению с методами нормальной направленной кристаллизации следующие:
1) кристалл растет в свободном пространстве, не испытывая никаких механических воздействий со стороны тигля, при этом размеры растущего кристалла можно достаточно произвольно изменять в пределах конструкции установки;
2) имеется возможность визуально наблюдать за процессом роста вытягиваемого кристалла, что позволяет сопоставлять результаты исследования получаемых кристаллов с условиями их выращивания и производить оптимизацию технологического процесса, что и обуславливает широкое применение этих методов для выращивания электронного кремния.
Методами вытягивания из расплава в настоящее время также выращивают монокристаллы большинства полупроводниковых материалов, имеющих не слишком высокие давления паров летучего компонента (как, например, у нитридов полупроводниковых соединений группы А3В5).
Альтернативным для метода Чохральского является метод бестигельной зонной плавки.
Методы зонной плавки.
Наряду с широким применением методов зонной плавки для глубокой очистки материалов эти методы являются важными и для выращивания монокристаллов полупроводников и диэлектриков. Одним из достоинств данных методов является возможность одновременно с выращиванием кристаллов достаточно просто осуществлять их однородное легирование.
Выращивание кристаллов методами зонной плавки осуществляется с использованием монокристаллической затравки, которая размещается в одном из концов тигля. В начальный момент процесса расплавленная зона создается на границе «затравка – исходный материал». При этом производится частичное расплавление монокристаллической затравки. Перемещение расплавленной зоны через исходный материал от затравки к другому концу тигля обеспечивает рост монокристалла.
К числу важных достоинств кристаллизации методом зонной плавки относится возможность выращивания кристаллов без использования тиглей – методом плавающей зоны. В этом случае не происходит загрязнения расплава за счет растворения в нем материала тигля, а также в выращиваемом кристалле не возникают дефекты вследствие различия коэффициентов линейного расширения кристалла и стенок тигля. Метод плавающей зоны широко применяется при выращивании особо чистых монокристаллов полупроводников и диэлектриков, а также материалов с высокой температурой плавления, обладающих в расплавленном состоянии высокой реакционной способностью.
Перспективным вариантом бестигельной зонной плавки является метод выращивания монокристаллов с пьедестала (часто его называют гарнисажным методом Чохральского).
Данный метод заключается в создании расплава на верхнем торце переплавляемого стержня большого диаметра (пьедестала) и вытягивания из него кристалла на затравку. По сравнению с бестигельной зонной плавкой в этом случае расплав более устойчив. Однако при выращивании кристаллов большого диаметра в данном методе трудно обеспечить необходимую глубину расплава. Кроме того, из-за трудности управления тепловыми полями в данном методе очень сложно управлять фронтом кристаллизации выращиваемого кристалла и вследствие этого выращивать бездислокационные кристаллы. Достоинством этого метода является возможность получения монокристаллов с высокой однородностью распределения примеси по длине и по поперечному сечению.
Рассмотренные бестигельные методы выращивания монокристаллов имеют особенно важное значение для тугоплавких полупроводниковых и диэлектрических материалов
Одним из вариантов данного метода является расплавление вершины затравочного кристалла в пламени. С помощью нескольких кислородно-водородных горелок на верхнем торце вертикально расположенной затравки, закрепленной на вращающемся штоке, создается тонкий слой расплава. Затравочный кристалл с образовавшимся в пламени слоем расплава опускают с небольшой скоростью, нижние слои расплава кристаллизуются на затравку, в результате формируется монокристалл. При этом толщина расплава в течение процесса остается примерно постоянной.
Данный метод часто называется методом Вернейля, так как был впервые им применен для выращивания монокристаллов сапфира. Метод пламенного плавления применяется для выращивания кристаллов материалов, химически стабильных в условиях пламени; в настоящее время он существенно модифицировался. Так, для выращивания кристаллов материалов, химически неустойчивых в пламени, применяются радиационный и плазменный виды нагрева; для стабилизации потока исходной шихты иногда используется не смесь порошков, а газообразная или жидкая смесь исходных компонентов, например в виде их металлоорганических соединений.
Основными недостатками этого метода являются трудность управления распределением температур вдоль слитка и наличие высоких градиентов температуры вблизи фронта кристаллизации, приводящих к достаточно большой концентрации дефектов в результате высоких остаточных напряжений.
Рассмотренный метод в настоящее время используется для выращивания кристаллов сапфира, рубина, рутила, оксида циркония, оксида иттрия, никелевого феррита и других материалов.