- •Ответи на гос по технології тонких плівок та покриттів Ден 2008р..Docx
- •31Рівноважний тиск пари
- •32 Розподіл атомів пари за швидкостями
- •33,1Випаровування матеріалів електронно-променевими методами
- •33.2 Іонне розпилення
- •33.3 Реактивне розпилення
- •34 Мікрозважування
- •34,1 Метод кварцового резонатора
- •34,2 Оптичні методи
- •35 Чотири стадії росту плівки
- •35.1 Утворення острівців
- •35.2 Коалесценція острівців
- •35.3 Утворення каналів
- •35.4 Утворення суцільної плівки
- •36 Утворення дефектів у процесі росту плівки
- •36.1 Дислокації
- •37 Утворення дефектів у процесі росту плівки
- •37,1 Межі зерен
- •38 Нанокристалічні та аморфні матеріали
- •39 Внутрішні макронапруження в конденсатах
- •39.1 Вплив температури підкладки
- •39.2 Причина виникнення макронанружень у плівках
- •39.3 Вилив товщини плівок, швидкості конденсаціїта термообробки
- •39.4 Розрахунок величини
- •39.5 Методи вимірювання
- •40 Процес старіння в тонких плівках
34 Мікрозважування
Розглянемо більш детально, як визначається маса плівки в методі мікрозважування, який є різновидом вагового методу. Основним робочим елементом пристрою є крутильні мікротерези, що дозволяють визначати вагу мо-ноатомної плівки площею ~1см2. Плівка осаджується на слюдяну фольгу, яка підвішується вертикально на нитці. У результаті осадження плівки приводиться в рух невелике дзеркальце, зв'язане з коромислом терезів, на яке потрапляє промінь світла. За зміщенням світлового зайчика на шкалі можна визначити зміщення коромисла, тобто визначити масу. Як правило, в мікротерезах передбачена компенсація зміщення коромисла за допомогою електромагніту. У цьому випадку терези можуть використовуватися як прилад з нульовим відліком.
34,1 Метод кварцового резонатора
Суть методу базується на вимірюванні зміни частоти кварцу при осадженні на нього тонкої плівки. Пристрій для і вимірювання товщини складається із кварцового генератоі pa, кварцового еталона частоти, вимірника частоти (типу ЧЗ-34А), самозаписувача, стабілізатора температури квар-I нового кристала генератора. Кварцовий кристал встанов-I пюється в тримачі так, що одна спеціально зрізана грань І залишається відкритою для потоку атомів випаровуваної речовини. Конденсація плівки зменшує резонансну частоту і порівняно з опорною частотою (~1Гц) прямо пропорційно І масі сконденсованої речовини
(1.15)
І де С - стала приладу.
У зв'язку з тим, що частота змінюється при нагріванні або охолодженні, застосовують охолодження тримача кристала проточною водою.
Вибір частоти залежить від діапазону товщин плівок.
При вимірюванні малих значень товщини слід використовувати більш чутливі високочастотні кварци. Але якщо діапазон товщин широкий, то для забезпечення лінійності І кривої градуювання краще брати кварци з малою часто Автори із власного досвіду знають, що розглянутий І метод вимірювання товщини надзвичайно складний для практичного втілення. Основні його недоліки пов'язані з 1 нспередбачуваною поведінкою частоти кварцу та необхідністю його градуювання. Для побудови кривої градуювання необхідно користуватися прямими методами вимірювання товщини. Із розглянутого вище випливає, що до таких методів належать мікрозважування і методи оптичної І інтерференції.
34,2 Оптичні методи
У технології тонких плівок метод оптичної інтерференції з його модифікаціями застосовується найбільш ши-моко. Це пов'язано з тим, що товщина плівок має величинупорядку довжини світлової хвилі. На рисунку 1.15 схематично показано хід променів у найбільш простому (дво-променевому) інтерферометрі. Цей метод буде досить ефективним за умови, що відбивання променів на межах ваку-ум-плівка та плівка-підкладка несильне. Тоді інтерференційна картина формуватиметься двома променями (1 та 2). Але в цьому випадку різкість інтерференційних смуг буде слабкою, і відповідно це призведе до великої похибки у визначенні товщини. Цей недолік відсутній у більш громіздкому методі багатопроменевої інтерференції. Для його реалізації необхідно, щоб відбивання променів на межах .
розділу було дуже інтенсивним (це досягається штучно за допомогою скляних пластин, одна з яких є підкладкою з нанесеною на неї напівпрозорою плівкою срібла).
Багатопроменева інтерферометрія має два різновиди: вимірювання смуг Фізо (метод Толанського) та використання смуг рівного хроматичного порядку. Ці методи дозволяють вимірювати товщину з точністю Ad= ±0,1 нм.