- •Оптика, основы квантовой механики, физики твердого тела и ядерной физики.
- •Печатается по решению
- •Лр № 020449 от 31.10.97. Подписано в печать
- •394017 Воронеж, пр. Революции, 19
- •Оптика Лекция 1. Интерференция света
- •1.2. Интерференция света
- •1.3. Интерференция от двух источников
- •1.4. Интерференция в тонких пленках. Интерферометры
- •С учетом подстановки
С учетом подстановки
S2 = .
Необходимо учесть, что луч I отражается от более плотной среды (фаза меняется на ), поэтому
.
Как и ранее при .
Из рисунка видно, что лучи I и II приходят в разные точки экрана (необходимо в одну), поэтому луч I будет участвовать во взаимодействии с лучом аналогичным II, но полученным из соседних с Д – лучей.
Е сли тонкую пластину освещать рассеянным монохроматичес-
ким светом (лучи падают под разными углами i1 i2), то интерференционная картина на экране зависит только от углов падения и представляет собой чередующиеся темные и светлые полосы, причем каждой из них соответствует свой угол (ii). Это полосы равного наклона. В белом свете - на экране наблюдается
система разноцветных полос рав-
ного наклона.
Если пластина выбрана в виде
клина (b const), то I луч ин-
терферируют в т. P, а II – P | и на экране возникает система светлых и темных полос (полосы равной толщины) – для монохроматического света.
Ч астным случаем полос равной толщины являются кольца Ньютона.
Явление интерференции используется в ряде весьма точных измерительных приборов, называемых интерферометрами (интерферометры Жамена, Майкельсона, микроинтерферометр). Интерференционные методы широко используются для сравнения и проверки точности изготовления технических эталонов длины, точных измерений коэффициентов линейного расширения, определения качества изготовления линз, исследования свойств твердых тел (показатель преломления, толщина, состояние поверхности и т.д.).