
- •Глава 1. Введение в физику полупроводников.
- •1. Энергетические уровни твердого тела.
- •2. Зонная структура полупроводников и типы проводимости.
- •Законы распределения носителей в зонах полупроводника.
- •Концентрация носителей в собственном и примесном полупроводниках.
- •С ростом температуры, когда примесный полупроводник постепенно превращается в собственный, уровень Ферми смещается к середине запрещенной зоны.
- •Подвижность носителей.
- •6. Электропроводность.
- •7. Рекомбинация носителей.
- •8. Законы движения носителей в полупроводниках.
- •9. Кинетика носителей заряда в полупроводниках.
- •10. Эффект поля.
- •Глава 2. Электронно-дырочные переходы.
- •1. Основные определения.
- •2. Классификация p-n переходов.
- •3. Структура p-n перехода.
- •4. Анализ перехода в равновесном состоянии.
- •5. Анализ перехода в неравновесном состоянии.
- •6. Контакт металл-полупроводник.
- •Глава 3. Полупроводниковые диоды.
- •1.Исходные предпосылки.
- •3. Характеристические сопротивления.
- •4. Обратная характеристика реального диода.
- •5. Эквивалентная схема диода по постоянному току при обратном смещении.
- •Пробой p-n перехода.
- •7. Прямая характеристика реального диода.
- •8.Барьерная и диффузионная емкости диода.
- •9. Классификация диодов.
- •1) По технологическим методам создания электрических переходов и диодных структур
- •2) По выполняемой функции диодов.
- •1.Выпрямительные низкочастотные диоды. Они используются в источниках питания для выпрямления переменного тока.
- •3. Импульсные диоды. Предназначены для работы в импульсном режиме, т.Е. В устройствах формирования и преобразования импульсных сигналов, ключевых и цифровых схемах.
- •Глава 4. Биполярные транзисторы.
- •1. Введение.
- •2. Способы включения транзистора.
- •3. Распределение носителей в базе.
- •4. Модуляция толщины базы.
- •5. Статические характеристики транзистора.
- •6. Статические параметры транзистора.
- •7. Динамические параметры транзистора.
- •2. Коэффициент переноса. Для определения коэффициент переноса воспользуемся нестационарным уравнением диффузии:
- •8. Характеристики и параметры транзистора при включении с общим эмиттером.
- •9. Схема с общим коллектором
- •10. Разновидности дискретных транзисторов
- •Глава 5. Полевые транзисторы.
- •Введение.
- •2. Полевой транзистор с управляющим p-n переходом.
- •Крутизна характеристики:
- •Выходное сопротивление
- •3) Коэффициент усиления:
- •Цепь затвора характеризуется входным сопротивлением транзистора:
- •2. Полевые транзисторы с изолированным затвором.
- •2. Эквивалентные схемы полевых транзисторов.
- •Глава 6. Элементы интегральных схем.
- •3. Особенности устройств цифровых интегральных схем на биполярных транзисторах.
- •Глава 1. Усилительные каскады на биполярных транзисторах.
- •1.1. Усилительный каскад с общим эмиттером.
- •Расчет усилительного каскада по переменному току.
- •1). Средние частоты.
- •2). Нижние частоты.
- •3). Верхние частоты.
- •Глава 2. Усилители на полевом транзисторе с управляющим p-n-переходом и n-каналом.
- •1.1. Расчет усилительного каскада по постоянному току.
- •2.2. Расчет усилительного каскада по переменному току.
- •Сопротивление .
- •1). Основные расчетные соотношения в области средних частот.
- •2) Основные расчетные соотношения в области нижних частот.
- •3) Основные расчетные соотношения в области верхних частот.
Законы распределения носителей в зонах полупроводника.
Разрешенные зоны содержат огромное количество уровней (1022-1023 в см3), на каждом из которых могут находиться электроны. Фактическое же количество электронов зависит от концентрации доноров и от температуры. Чтобы оценить фактическую концентрацию носителей в полупроводнике, нужно знать распределение уровней и вероятность заполнения этих уровней.
Вероятность нахождения электрона на том или ином уровне дается распределением Ферми-Дирака:
,
(1.6)
где
– постоянная Больцмана,
–
абсолютная температура,
– энергия уровня, WF
- энергия,
называемая уровнем Ферми. С формальной
точки зрения энергия уровня Ферми
соответствует такому энергетическому
уровню, вероятность заполнения которого
равна 1/2.
Энергетические уровни распределены по высоте разрешенной зоны неравномерно. Вводят понятие плотности энергии – это число уровней, отнесенных к единице объема твердого тела и к единице энергии. Вблизи "дна" и "потолка" каждой из разрешенных зон для узких интервалов энергии плотность энергий определяется формулой:
(1.7)
где
– эффективная масса,
– постоянная Планка,
– полная энергия, которая отсчитывается
от
внутрь зоны. Величина
является
потенциальной энергией электрона или
дырки, так как на границах зон скорость
частиц, а значит и их кинетическая
энергия равна нулю.
В дальнейшем удобно выражать энергию не в Дж, а в электрон-вольтах (э-В) или просто в вольтах (В).
;
(1.8)
где
– потенциал Ферми,
– температурный потенциал.
Введем
следующие обозначения:
– потенциал "дна" зоны проводимости,
– потенциал "потолка" валентной
зоны (рис1.2). Тогда ширина запрещенной
зоны определяется как
(1.9)
В невырожденных полупроводниках уровень Ферми всегда лежит в запрещенной зоне, глубина его залегания определяется из условий:
.
(1.10)
Для
классических (невырожденных )
полупроводников вероятность заполнения
уровня
в зоне проводимости дается распределением
Максвелла-Больцмана:
,
(1.11а)
которое получается из (1.6) с учетом условия (1.10).
Вероятность не заполнения уровня в валентной зоне (т.е. наличия дырки на этом уровне) определяется функцией
.
(1.11б)
Обозначим
через
плотность уровней в зоне проводимости
вблизи уровня
.
Тогда
будет количеством уровней в диапазоне
.
Умножив это количество на вероятность
заполнения этих уровней
,
получим концентрацию свободных электронов
с энергиями от
до
+
.
Полную концентрацию свободных электронов
n
получим путем интегрирования по всей
ширине зоны проводимости. Если принять
зависимость
~
,
то
.
(1.12а)
Здесь Nc – так называемая эффективная плотность уровней (состояний) в зоне проводимости - это максимально возможная концентрация электронов в зоне проводимости в невырожденном полупроводнике.
Аналогичным методом получается выражение для концентрации дырок:
.
(1.12б)
Здесь NV – эффективная плотность уровней в валентной зоне, т.е. максимально возможная концентрация дырок в валентной зоне.
Используя формулы (1.12), определим уровень Ферми:
.
(1.13)