Методичка к лабораторным / Lab_3_05_new_Tech
.pdfЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА № 5
ДИФРАКЦИЯ ЛАЗЕРНОГО СВЕТА НА ДВУМЕРНОЙ РЕШЕТКЕ (СЕТКЕ). ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ СЕТКИ
О.С.Вавилова, Н.А.Кузьмина
ЦЕЛЬ РАБОТЫ В работе изучается дифракция лазерного света на сетках с различными размерами ячеек и на дифракционной решетке.
ЗАДАЧИ
1.Определение длины волны излучения лазера с помощью дифракционной решетки, период которой заранее известен.
2.Определение положения максимумов двухмерных решеток (сеток) с различным размером ячеек.
3.Определение размеров двухмерных решеток по положению дифракционных максимумов.
ВВЕДЕНИЕ Дифракцией света называют совокупность явлений, обусловленных волновой
природой света, наблюдающихся при его распространении в среде с резко выраженной
оптической неоднородностью и связанных с отклонением от законов геометрической оптики, например, при прохождении светом отверстия в непрозрачном экране, вблизи границ тел и т.д. При дифракции, так же, как и при интерференции, наблюдается
перераспределение интенсивности света в пространстве в результате суперпозиции когерентных волн.
Объяснение дифракции оказалось возможным на основе волновой теории с помощью принципа Гюйгенса–Френеля. Согласно этому принципу, все точки волновой
поверхности можно рассматривать как когерентные источники вторичных сферических волн, а перераспределение интенсивности колебательного процесса в пространстве объясняется интерференцией этих волн.
Рассмотрим дифракцию света в параллельных пучках (дифракцию Фраунгофера). Пусть на достаточно длинную щель шириной «а» падает нормально монохроматический свет с длиной волны λ (рис. 1). По принципу Гюйгенса–Френеля все точки волнового фронта, совпадающего с плоскостью щели, являются источниками вторичных сферических волн. Следовательно, по всем направлениям за щелью распространяются параллельные пучки. Они собираются линзой на экране в ее фокальной плоскости в точках пересечения оптических осей, параллельных пучкам, с фокальной плоскостью. Так как линза оптической разности хода не вносит, то все лучи
© Кафедра экспериментальной физики СПбГПУ, 2006
пучка, совпадающего с направлением распространения падающей на щель волны, Сходясь в точке «О», имеют одинаковую фазу и образуют так называемый центральный или нулевой максимум. Лучи пучков, распространяющихся под углом φ к первоначальному направлению, (этот угол называют углом дифракции), имеют зависящую от него разность хода. Результат суперпозиции волн в этих пучках можно оценить на основе метода зон Френеля. Метод зон Френеля заключается в том, что
открытый участок фронта волны по отношению к рассматриваемой точке пространства разбивают на участки (зоны) так, чтобы разность хода лучей, идущих от эквивалентных краев двух соседних зон, была равной λ/2. При таком условии пучки лучей от соседних зон приходят в точку наблюдения в противоположной фазе и гасят друг друга. Следовательно, результат суперпозиции волн будет зависеть от четности числа зон Френеля, на которое разбивается фронт волны в плоскости щели при данном угле дифракции. Если число зон четное, то в результате попарного гашения в данном направлении наблюдается минимум интенсивности света. При нечетном числе зон пучок от одной из зон, не имеющей пары, окажется непогашенным и в этом случае наблюдается относительный максимум интенсивности света. Установим условия максимумов и минимумов дифракции на щели. При угле дифракции φ (см. рис.1)
ширина зон Френеля в плоскости щели определяется выражением
x=λ/2sin(φ) (1)
Число зон, укладывающееся на ширине щели:
a/x=2a·sin(φ)/λ |
(2) |
Если это число зон четное, т.е. равно 2к, где к = 0,1,2,3…, то будет наблюдаться минимум интенсивности света; если же число зон нечетное, т.е. равно (2к + 1), где к = 0,1,2,3…, то наблюдается максимум. Таким образом, условия минимумов и
максимумов для щели имеют вид; |
|
|
2a·sin(φ)= |
k λ (min) |
(3) |
2a·sin(φ)= |
(2k+1)· λ/2 (max) |
(4) |
В центре экрана (точка «О») всегда наблюдается максимум освещенности, так как лучи, идущие в направлении падающей на щель волны, (угол дифракции φ =0), разности хода не приобретают. Этот максимум называется нулевым или центральным,
имеет наибольшую интенсивность и в два раза большую ширину по сравнению с остальными максимумами.
Система многих одинаковых параллельных щелей называется дифракционной решеткой. Дифракционные решетки выполняются в виде стеклянных или металлических пластин, на которые нанесены через строго определенные интервалы
© Кафедра экспериментальной физики СПбГПУ, 2006
параллельные штрихи. Основным параметром дифракционной решетки является величина d, называемая постоянной дифракционной решетки. Она равна сумме ширины прозрачного участка (щели) и непрозрачного (штриха). Общий размер решетки D = N·d, где N – число штрихов решетки. N может быть достаточно велико, до сотен тысяч. Наибольший интерес представляет дифракция на решетке при нормальном падении плоской монохроматической световой волны. Дифракционную картину наблюдают по методу Фраунгофера, т.е. в параллельных лучах, практически – в фокальной плоскости объектива. Каждая из щелей в отдельности в фокальной плоскости объектива давала бы дифракционную картину, показанную на рис.2. При некогерентном свете такие картины накладывались бы друг на друга, интенсивности при этом складывались бы, при N щелях получалась бы картина как от одной щели, но усиленная в N–раз. При использовании когерентного источника света дифракционная картина меняется, поскольку световые волны от всех щелей интерферируют друг с другом. Это явление приводит к появлению узких максимумов интенсивности. В центре картины, а также при углах дифракции φ, для которых оптическая разность хода
колебаний от соседних щелей равна целому числу длин волн, наблюдаются так называемые главные максимумы. Условие их получения для света с длиной волны λ:
d·sinφк= ± kλ, k= 0,1,2,... |
(5) |
Практический интерес представляют главные максимумы, они получаются тем |
|
более узкими и резкими, чем большее число штрихов |
N содержит решетка. При |
наклонном падении плоской волны на решетку, например, под углом φ0 к нормали, главные максимумы будут определяться условием:
d·(sin φk – sinφ0) = ±kλ, k = 0,1,2, ... |
(5а) |
Правило знаков для углов φк и φ0 при этом таково, что углы должны отсчитываться в одном направлении от нормали к решетке, например, по часовой стрелке.
Интенсивность главных максимумов, как показывает подробное рассмотрение вопроса, можно представить выражением,
|
I = I0 × |
Sin2 (δ |
2 |
) |
|
|
|
|
× |
||
|
(δ 2)2 |
|
|
||
где δ = 2πb( sin φ)/λ, |
b – ширина щели, |
|
|
|
|
γ = 2πb(sin φ)/λ, |
d – период решетки. |
|
|
|
Sin |
2 |
æ N ×γ |
|
ö |
|
|||
|
ç |
|
|
2 |
÷ |
|
||
|
|
è |
|
|
ø |
(6) |
||
Sin |
2 |
æγ |
|
ö |
|
|||
|
|
|
||||||
|
ç |
2 |
÷ |
|
|
|||
|
|
|
|
è |
ø |
|
|
Результат представлен на рис.3. Плавная функция (пунктир), определяемая первой дробью в функции (6), модулирует интерференционную картину от N щелей,
© Кафедра экспериментальной физики СПбГПУ, 2006
которую определяет вторая дробь в той же формуле. Практический интерес представляют главные максимумы, они имеют наибольшую интенсивность.
Двумерная плоская дифракционная решетка представляет собой совокупность двух прозрачных одномерных дифракционных решеток с периодами d1 и d2 , щели которых расположены взаимно перпендикулярно (рис.4). Плоская световая волна после
прохождения решетки с горизонтальными штрихами образовала бы дифракционный спектр, представляющий собой горизонтально расположенные линии в направлениях, отвечающих условиям возникновения максимумов для решетки с периодом d2. При наличии лишь одной решетки с вертикальными щелями наблюдался бы спектр, представляющий вертикально расположенные линии, удовлетворяющие условиям дифракционных максимумов для решетки с периодом d1. Условия возникновения максимумов для двумерной решетки:
d1·sin α = k1λ, d2·sin β = k2λ, (7)
где k1 и k2 – целые числа, определяющие порядок дифракционных спектров для решеток с периодами d1 и d2; λ – длина волны света. Главные максимумы наблюдаются только в направлениях, удовлетворяющих совокупности двух соотношений (7), причем каждой паре целых чисел k1 и k2 отвечает максимум определенного порядка. Дифракционная картина на двумерной дифракционной решетке изображена на рис.4.
Она представляет собой совокупность световых пятен на пересечении вертикальных и горизонтальных линий, соответствующих условиям дифракционных максимумов для решеток с вертикальными и горизонтальными штрихами.
Отметим, что применение в настоящей работе лазерного источника света, обладающего высокой когерентностью и малой расходимостью лучей, позволяет наблюдать дифракционную картину без использования объектива или линзы.
ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ УСТАНОВКА Схема установки для исследования дифракции света включает источник плоской
монохроматической световой волны (полупроводниковый лазер); оправу, в которую вставляются дифракционная решетка или двумерные дифракционные решетки (сетки); и экран, на котором закрепляется лист бумаги для зарисовки дифракционных картин. Все элементы установки собраны на оптической скамье, на которой помещена линейка для измерения расстояния L между оправой и экраном. Для проведения эксперимента используются:
1.Сетка с мелкими ячейками;
2.Сетка со средними ячейками;
3.Дифракционная решетка.
© Кафедра экспериментальной физики СПбГПУ, 2006
ИЗМЕРЕНИЯ И ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ
Внимание! Перед выполнением лабораторной работы, в которой в качестве источника излучения используется лазер, необходимо соблюдать следующие правила техники безопасности:
1.запрещается смотреть в луч лазера или его зеркальное отображение.
2.запрещается вносить в зону луча блестящие предметы, которые могут вызывать отражение луча и попадание его в глаза работающего.
1. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ДЛИНЫ ВОЛНЫ ИЗЛУЧЕНИЯ λ ЛАЗЕРА.
1.1.Поместить в кассету дифракционную решетку с известным периодом, который указан в справочных данных на установке.
1.2.Зарисовать на листе бумаги полученную на экране дифракционную картину и отметить на ней положение нескольких наиболее ярких максимумов, ближайших к центральному максимуму.
1.3.Измерить для нескольких (по указанию преподавателя) максимумов величину Хk и расстояние L от решетки до экрана. По формуле sin(αk)=k•λ/d, m=0,1,2,... учитывая малую величину углов дифракции α (sin α ≈ tg α ≈ α (в радианах)) определить по известной постоянной решетки d, порядку дифракции k и углу дифракции величину λ для нескольких измерений.
1.4.Сравнить полученное значение λ с характеристиками лазера.
1.5.Оценить случайную погрешность измерения длины волны излучения полупроводникового лазера по результатам многократных измерений.
2.ОПРЕДЕЛЕНИЕ РАЗМЕРОВ ДВУХМЕРНЫХ РЕШЕТОК (СЕТОК).
2.1.В кассету поместить сетку №1 (с мелкими ячейками).
2.2.Получить на экране дифракционную картину от сетки.
2.3.Измерить величины Хk для двух взаимно перпендикулярных направлений (см. рис. 5) Х и Y.
2.4.По измеренным значениям Хk определить значения d для направления Х – dх и для направления Y – dу, используя формулу Xk = k· λ L/d.
2.5.Определить среднее значение размера ячейки сетки.
3.Аналогичные измерения и расчеты произвести для сетки №2.
КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ
1.Что такое дифракция света?
2.В чем состоит принцип Гюйгенса–Френеля?
3.В чем заключается метод зон Френеля?
4.Что такое порядок дифракционного максимума и чем он определяется?
5.Напишите выражения, определяющие направления на главные максимумы дифракционной решетки.
6.Что представляет собой двумерная дифракционная решетка?
©Кафедра экспериментальной физики СПбГПУ, 2006