Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Методические указания к лабораторным работам.docx
Скачиваний:
55
Добавлен:
01.05.2015
Размер:
1.14 Mб
Скачать

Лабораторная работа №4 получение и исследование поляризованного света.

Вопросы для подготовки:

  1. Поляризация света. Степень поляризации.

  2. Поляризация света при отражении и преломлении. Закон Брюстера.

  3. Поляризация света при двойном лучепреломлении.

  4. Поляроиды и поляризационные призмы. Призма Николя.

  5. Способы получения линейно поляризованного света. Поляризатор и анализатор.

  6. Закон Малюса. Экспериментальная проверка закона Малюса.

44Equation Section (Next)

Приборы и оборудование:

Оптическая скамья, осветитель, поляризатор, анализатор, фотоприемник, микроамперметр.

Рис.1. Схема экспериментальной установки для изучения поляризации света.

1 – осветитель; 2 – светофильтр; 3 – поляризатор; 4 - анализатор; 5 – фотоэлемент; 6 – микроамперметр.


Цель: Используя законы волновой оптики, изучить явление поляризации света.

Выполнение работы

Задание 1. Проверка закона Малюса.

Рабочая формула:

где Imax максимальная интенсивность света, прошедшего поляризатор П и анализатор А; Ii – интенсивность света при различных углах α между поляризатором П и анализатором А.

Ход работы:

  1. Включить осветитель 1. Установить на поворотных лимбах поляризатора П и анализатора А – ноль градусов (00).

  2. Открыть заслонку фотоэлемента Ф. Вращая анализатор А, добиться максимального отклонения стрелки на шкале микроамперметра (при = 0; I = Imax).

  3. Последовательно изменяя положение оси анализатора А от = 00 до = 900 , измерить относительную силу света Ii/Imax через каждые 100.

  4. Данные занести в таблицу.

  5. Построить график теоретической зависимости и нанести на него экспериментальные значения (Ii /Imax) .

Таблица результатов: Проверка закона Малюса

,

град

00

100

200

300

400

500

600

700

800

900

cos

cos2

Ii, μа

Ii/Imax

График:

Вывод:

Задание 2. Определение степени поляризации линейно поляризованного света.

Рабочая формула:

где - Р – степень поляризации, максимальная интенсивность света, прошедшего поляризатор П и анализатор А; – минимальная интенсивность света, прошедшего поляризатор П и анализатор А;

Ход работы:

  1. Установить поворотный лимб поляризатора в положение 00.

Вращая анализатор, определить его положения, при которых микроамперметр будет показывать Imax и Imin.

  1. По рабочей формуле определить степень поляризации света.

Обработка результатов:

Вывод:

Лабораторная работа № 5

ИЗУЧЕНИЕ ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЕТКИ

Вопросы для подготовки:

  1. Природа света. Принцип Гюйгенса-Френеля.

  2. Дисперсия света. Поглощение света. Закон Бугера.

  3. Рассеяние света. Закон Рэлея.

  4. Интерференция света. Когерентность. Условия максимума и минимума.

  5. Дифракция света и ее виды.

  6. Дифракционная решетка, ее параметры. Главные максимумы, главные и побочные минимумы.

55Equation Section (Next)

Приборы и оборудование:

Осветитель, оптическая скамья, дифракционная решетка, линза, экран.

Схема экспериментальной установки для изучения дифракционной решетки

Цель: Используя волновые свойства света, изучить дифракционную решетку, неизвестную длину волны спектральной линии.

ВЫПОЛНЕНИЕ РАБОТЫ

Задание 1. Определение длины волны спектральной линии

Рабочая формула:

где – длина световой волны, d – постоянная дифракционной решетки, k – порядок спектра, - угол дифракции.

Ход работы:

  1. Определить углы дифракции для каждой спектральной линии (синей, зеленой, красной – по указанию преподавателя).

  2. Опыт повторить пять раз для разных положений дифракционной решетки.

  3. Для каждого опыта определить синус угла дифракции () с помощью теоремы Пифагора.

  4. Используя рабочую формулу, определить длину волны исследуемой спектральной линии.

  5. Данные занести в таблицу, определить погрешность измерений.

Таблица результатов: Определение длины волны спектральной линии

п/п

sin

,нм

,нм

,нм

, нм

ε, %

1

2

12

= м

Обработка результатов:

Вывод:

Результат: (нм) ε= %