Список використаних джерел
Миронов
В.Л. Основы сканирующей зондовой
микроскопии / Миронов
В.Л. –
М.: Техносфера, 2004.
– 143 с.
Володин
А.П. Сканирующая микроскопия
/ Володин А.П. –
М.: Наука, 1998.
– 114 с.
Неволин
В.К. Основы туннельно-зондовой технологии
/
Неволин
В.К.
– М.: Наука, 1996.
– 91 с.
Володин
А.П. Новое в сканирующей микроскопии
/ Володин А.П.–
М.: Наука, 1998.
– 42 с.
http://uk.wikipedia.org
http://www.ntmdt.ru
http://www.nanonewsnet.ru/blog/nikst/skaniruyushchaya-blizhnepolno-opticheskaya-mikroskopiya-sbom
http://www.semrock.com/surface-enhanced-raman-scattering-sers.aspx
http://www.ifkp.tu-berlin.de/menue/arbeitsgruppen/ag_maultzsch/forschung/
