Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Лебедев А.И. Физика полупроводниковых приборов

.pdf
Скачиваний:
751
Добавлен:
28.03.2015
Размер:
41.31 Mб
Скачать

452

Гл. 7. Опгпоэлектронные приборы

достигается при d = 0,1 мкм. При дальнейшем сужении активной области выход излучения за пределы оптического волновода уменьшает эффективность взаимодействия оптической волны сЕэлектронным возбуждением (коэффициент оптического ограничения Г) и пороговая плотность тока начинает возрастать. Для преодоления этих ограничений в современных лазерах создают более сложные структуры, которые мы обсудим ниже.

После разработки лазеров с двойной гетероструктурой, способных работать в непрерывном или квазинепрерывном режиме, возникла задача уменьшения площади активной области с целью понижения рабочих токов лазеров до уровней, используемых в традиционной электронике. На рис. 7.34 показаны две конструкции инжекционного лазера с полосковой геометрией.

 

 

 

вольфрамовая

 

 

металл

проволока

 

 

протоны

протоны

окисел

 

 

р+ -GaAs

 

p+ -GaAs

 

 

p-AIGaAs

 

p-AlGaAs

 

 

п- или p - GaAs'

 

п- или p-GaAs

 

 

 

/

 

(активный слой)

 

(активный слой)

^

тг-AIGaAs

 

n-AIGaAs

 

 

подложка

^ ^ ^ ^ ^ ^

г у Ь

 

 

 

/

\ У

подложка металл

 

 

металл

'

б

 

 

а

 

 

Рис. 7.34. Конструкции лазеров с двойной гетероструктурой и полосковой геометрией, созданной с использованием окисной изоляции (а) и путем бомбардировки незащищенной поверхности структуры протонами (б) [14]

Создать активную область в виде узкой полоски, перпендикулярной граням резонатора, можно либо ограничивая область электрического контакта к верхнему слою гетероструктуры с помощью окисной изоляции (см. рис. 7.34 а), либо сильно увеличивая удельное сопротивление верхнего слоя структуры за пределами активной области путем ее бомбардировки протонами (см. рис. 7.346). Кроме уменьшения порогового тока, полосковая геометрия необходима еще и для обеспечения одномодового характера генерации лазера, поскольку в лазерах с шириной активной области более ~ 2 0 мкм обычно одновременно возбуждаются

несколько мод колебаний, что снижает степень когерентности излучения лазера и увеличивает ширину спектра излучения

') Узкая линия излучения имеет первостепенное значение при использовании лазеров в волоконно-оптических линиях связи, Из-за дисперсии пока-

7.2. Светодиоды и полупроводниковые лазеры

453

Одним из способов преодоления ограничений, связанных с выходом излучения за пределы активной области в двойных гетероструктурах с d < < 0,1 мкм, является создание так

называемой структуры с раздель-

ным ограничением

(SCH — sepa-

р+ р р п

п+

rate

confinement

heterostructure

или,

 

 

что

то

же

са мое,

LOC

1a rge

 

 

optical

cavity) [330].

В этой

структу-

 

X

ре (см. рис. 7.35)

электронное возбуж-

 

 

 

дение локализовано в наиболее узко-

Рис. 7.35.

Энергетическая

зонной части структуры — квантовой

диаграмма,

профиль пока-

яме,

ширина

которой

может

достигать

зателя преломления и рас-

нескольких

десятков

ангстрем, а

вол-

пределение

мощности све-

товой волны в структуре с

новодом служит

область шириной по-

раздельным ограничением

рядка 1 мкм, ограниченная с двух сторон двумя наиболее широкозонными областями. Первый инжек-

ционный лазер с такой структурой и активной областью шириной 200 А был создан в [331]. Структура с раздельным ограничением позволяет еще сильнее снизить пороговую плотность тока (до ^ ~100 А/см2 в структуре с одной квантовой ямой [332]). Для уменьшения пороговой плотности тока в волноводной области структуры можно расположить не одну, а несколько квантовых

ям. Дальнейшее улучшение характеристик лазеров

достигает-

ся в структурах, в которых в области оптического

ограниче-

ния создается градиент показателя преломления (GRINSCH — graded index separate confinement heterostructure), Структура с раздельным ограничением имеет еще одно преимущество над двойной гетероструктурой: она характеризуется более высокой стойкостью по отношению к катастрофическим отказам, связанным с разрушением зеркал оптического резонатора при высокой мощности выходного излучения [330].

Дальнейшее развитие инжекционных лазеров связано с расширением круга используемых в гетероструктурах материалов. На рис. 7.36 показана зависимость ширины запрещенной зоны (и соответствующая ей длина волны) для ряда тройных твердых растворов соединений A i n B v со структурой сфалерита как

зателя преломления излучение с разной длиной волны распространяется по волокну с разной скоростью. При большой длине канала передачи это вызывает уширение принимаемого оптического импульса и может сделать невозможной высокую скорость передачи данных.

454

Гл. 7. Опгпоэлектронные приборы

параметр решетки, А

Рис. 7,36. Зависимость ширины запрещенной зоны и длины волны, отвечающей краю собственного поглощения, в тройных твердых растворах полупроводников группы A i n B v от параметра кристаллической решетки, Сплошные линии — прямозонные полупроводники, штриховые линии — непрямозонные полупроводники

функция параметра кристаллической решетки. Эта диаграмма позволяет найти Ед и параметры состава любой пары тройных твердых растворов, согласованных по параметру решетки, которые необходимы для создания лазера с требуемой длиной волны. Использование аналогичной диаграммы для четверных твердых растворов позволяет заметно расширить область поиска и рассчитать составы согласованной по параметру решетки гетеропереходной пары, которая может быть выращена на широко доступных подложках (например, на GaAs или InP). Так, взяв одним из материалов пары InP и подбирая параметры состава (ж, у) четверного твердого раствора In x Gai _ x As y Pi _ y , можно определить значения этих параметров, необходимые для создания лазеров с X — 1,3 и 1,55 мкм (на этих длинах волн в кварцевом волокне находятся минимумы коэффициента поглощения).

Разработанные к настоящему времени инжекционные полупроводниковые лазеры, работающие на межзонных переходах, перекрывают широкий диапазон электромагнитного спектра от ультрафиолетовой области (GaN, Х й О , 36 мкм) до средней инфракрасной области спектра (Pb[_x Snx Tei_y Sey , X « 46 мкм). Продвинуться в более длинноволновую область (до 130 мкм)

можно, используя квантово-каскадные

лазеры, которые рабо-

тают на переходах между уровнями

размерного квантования

в сверхрешетках [333].

 

7.2. Светодиоды и полупроводниковые лазеры

455

Инжекционные лазеры с вертикальным

резонатором.

Сильное уменьшение объема активной области, сопровождаемое существенным понижением порогового тока лазеров, удалось реализовать в разработанных в 1979 г. структурах с верти- кальным резонатором (VCSEL — vertical cavity surface emitting laser) [334] Пороговый ток в таких лазерах может составлять менее 10 мкА [335].

лазерное излучение

активная область

А

 

РБО p-AlGaAs

гг-GaAs

|

/

_ контакт

 

 

 

B^Si 02

подложка n-GaAs

Рис. 7.37. Конструкция лазера с вертикальным резонатором [336]

 

Одна

из

конструкций

VCSEL-лазера

показана

на

рис. 7.37

[336].

В

этой

конструкции активная

область

из

n-GaAs

толщиной

L = 2

мкм

располагается

между двумя

горизонтально

расположенными многослойными

«зеркала-

ми», которые изготавливаются из изотипных гетероструктур Alo.osGao.gsAs/Alo.ssGao^As р- и n-типа и одновременно служат широкозонными эмиттерами. При этом вывод излучения происходит в вертикальном направлении через верхнюю поверхность структуры. Из-за очень малой толщины активной области для получения низкого порога генерации в соответствии с формулой (7.48) необходимо, чтобы зеркала имели высокий коэффициент отражения R. В качестве зеркал в лазерах с вертикальным резонатором обычно используют распределенные брэгговские отражатели (РБО), построенные из чередующихся слоев материалов с заметно различающимся показателем преломления (GaAs/AlGaAs, GaAs/A^Oa, ZnSe/MgF2), каждый из которых имеет толщину Л/4. При числе слоев от 50 до 80 на таких зеркалах удается получить R > 99,95%.

! ) В отечественной литературе эти структуры также называют вертикально излучающими лазерами.

456

Гл. 7. Опгпоэлектронные приборы

Большое внимание, уделяемое в настоящее время VCSELлазерам, связано с тем, что сопряжение таких лазеров с оптоволоконным кабелем оказывается намного проще по сравнению с лазерами, в которых излучение выводится через боковую поверхность, Лазеры с вертикальным резонатором имеют более высокую надежность и более низкую стоимость. Низкие пороговые токи и близкая к планарной технология изготовления лазерных структур позволяют создавать из таких лазеров двумерные массивы излучателей, что невозможно при других конструкциях инжекционных лазеров. Наконец, из-за больших геометрических размеров области вывода излучения диаграмма направленности этих лазеров оказывается уже, чем для лазеров с боковым выводом излучения. Выходная мощность VCSEL-лазеров достигает 1,5 Вт [337].

Инжекционные лазеры на квантовых ямах, нитях и точ-

ках. В лазерных структурах с узкими квантовыми ямами дополнительному уменьшению пороговой плотности тока способ-

ствует и качественное

изменение энергетической

зависимости

плотности состояний

в двумерных структурах.

Об изменении

плотности состояний в структурах пониженной размерности мы уже говорили в п. 1.6.2.

Понять причину уменьшения Jnop при понижении размерности можно из анализа рис. 7.38 [338]. Для того, чтобы в полупроводнике могла возникнуть лазерная генерация, значение оптического усиления в максимуме спектра должно стать больше величины, определяемой потерями в резонаторе.

Чтобы этого достигнуть, в полупроводнике необходимо создать сильное электронное возбуждение, однако при этом, как следует из рис. 7.38 а, в объемном полупроводнике распределение электронов по энергиям таково, что большая часть возбужденных электронов никогда не будет давать вклад в оптическое усиление.

Иная ситуация складывается в двумерных структурах (квантовых ямах). Благодаря ступенчатой зависимости плотности состояний от энергии (см. рис. 7.386) в них значительная большая часть возбужденных электронов с энергией вблизи края подзоны дает вклад в оптическое усиление. То есть из-за более эффективного согласования энергетической зависимости плотности состояний со спектрами усиления для возникновения лазерной генерации в двумерных структурах требуется более низкий уровень возбуждения.

Для одномерных

(квантовые нити)

и нульмерных струк-

тур (квантовые точки)

энергетическая

зависимость плотности

7.2. Светодиоды и полупроводниковые

лазеры

457

 

3<

 

 

Z

ПЛОТНОСТЬ

потери в 8

волноводе 8

состояний и

 

::

усиление

 

II

 

I

 

 

м

 

_ А

о B0+ev+£n

Рис. 7.38. Условия возбуждения лазерной генерации в полупроводниковых структурах различной размерности [338]: а — объемный полупроводник, б — квантовая яма, в — квантовая нить, г — квантовая точка

состояний все лучше и лучше согласуется со спектрами оптического усиления, что приводит к уменьшению числа электронных состояний, которые надо заполнить для достижения требуемого усиления. Это позволяет ожидать существенного снижения плотности порогового тока в таких структурах. Таким образом, из рис. 7.38 следует, что лазеры на квантовых точках являются наиболее перспективным типом полупроводниковых лазеров. К достоинствам лазеров на квантовых точках следует также добавить возможность гибкого управления длиной волны излучения путем изменения размера квантовых точек.

Лазеры на полупроводниковых структурах пониженной размерности имеют еще одно преимущество по сравнению с лазерами на основе объемных полупроводников — более слабую температурную зависимость порогового тока, Основной причи-

ной

быстрого

увеличения

J n o p с ростом температуры

явля-

ется

тепловое

«размытие»

функций

распределения участвую-

щих

в излучательной рекомбинации

носителей, из-за

которо-

го для достижения необходимого значения коэффициента оптического усиления требуется инжектировать все большие концентрации носителей. Однако как показали Аракава и Сакаки [339], в структурах пониженной размерности из-за лучшего согласования энергетической зависимости плотности состояний

458 Гл. 7. Опгпоэлектронные приборы

и спектров оптического усиления влияние теплового размытия должно сильно ослабевать. Этот эффект, действительно наблюдающийся в эксперименте, позволяет заметно расширить диапазон рабочих температур инжекционных лазеров.

Для реализации потенциальных возможностей инжекционных лазеров на структурах пониженной размерности в конце 80-х годов были начаты работы по созданию таких лазеров. Первые опыты по созданию квантовых нитей с использованием фотолитографии, травления и последующего заращивания нитей позволили получить лазерные структуры, которые работали только при низких температурах, характеризовались заметной неоднородностью (связанной с разбросом поперечных размеров отдельных квантовых нитей) и в которых отсутствовали особенности, свидетельствующие об одномерном характере движения носителей. Первый работающий при 300 К лазер на квантовых нитях был создан в 1989 году в системе AIGaAs/GaAs [340]. В нем квантовые нити из GaAs, окруженные слоями из AlGaAs, выращивались в V-образных канавках, которые шли в направлении [011] и были получены путем избирательного травления подложек GaAs с ориентацией (100) (см. также с. 208). Невысокий коэффициент оптического ограничения Г, характерный для структуры с одиночной квантовой нитью, был впоследствии увеличен путем выращивания «стопки» из вертикально связанных квантовых нитей и созданием массивов квантовых нитей при выращивании короткопериодных сверхрешеток на вицинальных поверхностях GaAs или с использованием явлений самоорганизации при выращивании таких сверхрешеток на рассогласованных по параметру решетки подложках [341].

Дальнейший прогресс в создании лазеров на полупроводниковых структурах пониженной размерности был связан с развитием неожиданно открывшейся возможности формирования массивов практически одинаковых по размеру и форме квантовых точек.

Возможность образования маленьких островков полупроводника при субмонослойном покрытии подложки (то есть когда количества нанесенного на подложку вещества не хватает для образования одного монослоя) была известна давно, однако слишком большая дисперсия размеров островков делала их малоперспективными для исследований. В начале 80-х годов были найдены технологические режимы, позволявшие при выращи-

вании тонких

пленок

полупроводников,

сильно

отличавшихся

по

параметру

решетки

от

материала

подложки,

реализовать

как

режим роста двумерной

пленки, так и режим роста трех-

 

7.2. Светодиоды и полупроводниковые лазеры

459

мерных кластеров. В 1985 г. было обнаружено явление

само-

организации,

заключавшееся в формировании упорядоченных

в направлении роста цепочек квантовых точек при выращивании многослойных структур InAs/GaAs [342]. Несколько позже были найдены технологические условия, при которых в одном

слое образуются квантовые

точки приблизительно

одинакового

размера

и формы [343], а

затем

и условия

образования

этими

точками

практически регулярной

структуры

[344,

345].

Изоб-

ражение одного слоя такой структуры в электронном микроскопе и качественный вид образующейся структуры показаны на

рис. 7.39. Плотность островков в слое составляет

~ 5 • 10i0 с м - 2 .

Получающиеся островки представляют

собой

пирамидки

с характерным размером основания 100-150

А

и

высотой 30 -

70 А. При этом каждая пирамидка содержит от нескольких тысяч до нескольких десятков тысяч атомов. Вещество в пирамидке находится в когерентно напряженном состоянии, поскольку для островков небольшого размера такое состояние энергетически более выгодно, чем состояние, в котором упругие напряжения снимаются путем образования дислокаций несоответствия. Как было показано в работе [344], при определенных соотношениях между изменением поверхностной энергией при образовании пирамидки и энергией возникающих на ее ребрах упругих напряжений появляется некий оптимальный размер пирамидки, при котором ее термодинамическая энергия достигает минимума. Взаимодействие пирамидок посредством напряжений, создаваемых ими в подложке, может приводить к возникновению регулярной структуры. Поскольку размеры пирамидок достаточно малы и в них проявляется эффект ограничения движения носителей во всех трех измерениях, каждую из них можно рассматривать как квантовую точку.

Закрывая выращенный на поверхности подложки слой квантовых точек тонким слоем полупроводника, из которого из-

готовлена

подложка, и выращивая следующие слои кванто-

вых точек

последовательно друг за другом на расстоянии

~100 А, можно создать трехмерную пространственную структуру из вертикально связанных квантовых точек.

То, что образующиеся при самоорганизованном росте пирамидки имеют приблизительно одинаковый размер и форму, приводит к тому, что электронный спектр всех квантовых точек очень близок. Это позволило сделать следующий шаг в технологии инжекционных лазеров и наблюдать сначала лазерную генерацию при 300 К при оптическом возбуждении [346], а затем создать и первый инжекционный лазер на квантовых точках

460

Гл. 7. Опгпоэлектронные приборы

[010]

 

 

[100]

Л ?

Л ? / у

ZS?

Л ?

/ У

/ У

Л 7

20 нм

I I

а

Рис. 7.39. Электронно-микроскопическое изображение (с) и качественный вид

(б) упорядоченного массива когерентно напряженных островков InAs на подложке GaAs [345]

в системе InAs/GaAs [347, 348] 0. Уже сегодня в лазерах на квантовых точках достигнута рекордно низкая пороговая плотность тока 16 А/см2 при комнатной температуре [350]; выходная мощность таких лазеров достигла 7 Вт в импульсном режиме на длине волны 1,55 мкм [351].

Кроме квантовых точек в обсуждавшейся выше системе InAs/GaAs, в настоящее время получены и достаточно подробно исследованы квантовые точки и в других полупроводниковых системах: Ge/Si, CdSe/ZnSe и др. Помимо создания полупроводниковых лазеров с низким порогом и высокой температурной стабильностью, квантовые точки начинают использовать в люминесцентных концентраторах (см. подробнее с. 421) для увеличения к.п.д. солнечных элементов [352], в фотоприемниках [353], светодиодах.

О свойствах, методах получения и последних достижениях в области создания гетероструктур с квантовыми точками можно прочитать в обзорах [345, 354].

') Впервые лазерная генерация на квантовых точках наблюдалась в 1991 г, при оптическом возбуждении микрокристаллов CdSe, находящихся в стеклянной матрице [349].

ПР И Л О Ж Е Н ИЕ

Втабл. 1 приведены некоторые физические свойства диэлектриков, а в табл. 2 — физические свойства полупроводников, используемых при производстве полупроводниковых приборов. Сведения о других физических свойствах полупроводников можно найти в работе [306]. Сравнительно большой разброс данных для диэлектрической проницаемости в табл. 1 связан с тем, что ряд материалов может существовать в нескольких кристаллических модификациях, а низкосимметричные кристаллы к тому же могут обладать заметной анизотропией.

Т а б л и ц а 1, Некоторые физические свойства диэлектриков,

используемых

при производстве полупроводниковых приборов [ Т = 300 К)

(178, 355, 356]

Материал

эВ

£

P.

^проб»

Д Ec,

 

 

Ом •см

МВ/см

э В

Si02

9

3,9

10l4-I016

10

3,2

Si3N4

5,3

7 - 7,9

1014-1016

10

2,4

А]Г 03

8,8

9,5-12

>1014

3 - 5

2,8

Y2 O3

6

- 1 5

 

.

2,3

La203

 

~21

 

 

2,3

Ta2 05

4,4

23-28

>3 • 1012

4,5

0,36

тю2

3,0-3,2

60-170

10n ?

1

 

ZR02

5,7-5,8

12-25

 

 

1,4-1,5

ню2

5,7-6

16-30

 

8,5

1,5

ZrSi04

 

10-12

 

 

1,5

HfSi04

~6

10-25

 

 

1,5

BST*

 

~300

 

 

 

* Твердый раствор Вао.ббЗго.збТЮз.