Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Материалы электронной техники. Полупроводники. Проводниковые материалы. Магнитные материалы. Учебное пособие

.pdf
Скачиваний:
0
Добавлен:
12.08.2026
Размер:
1 Мб
Скачать

 

 

Окончание табл. 1.16

 

 

 

Номер варианта

Разность

Ширина запрещенной

x = EC – EF, эВ

зоны E, эВ

 

6

0,2

0,66

7

0,3

1,41

8

0,4

2,25

9

0,15

1,12

10

0,05

0,66

11

0,08

1,41

12

0,07

2,25

13

0,05

1,12

14

0,1

0,66

15

0,6

1,41

16

0,7

2,25

17

0,8

2,25

18

0,75

2,25

1.17. Вычислить собственную концентрацию носителей заряда в полупроводниковом материале при температуре T = 300 К, если эффек-

тивные массы электронов и дырок равны mn* y1 m0 и m*p y2 m0 соответственно, где m0 – масса свободного электрона.

 

 

 

 

 

Таблица 1.17

 

Варианты для задачи 1.17

 

 

 

 

 

Номер

 

Эффективная

Эффективная

Материал

масса электронов

масса дырок

варианта

 

y m*

/m

y2 m*p /m0

 

 

1

n

0

 

1

Ge

 

1,05

0,56

2

Si

 

0,95

0,53

3

Ge

 

0,97

0,51

4

Si

 

0,88

0,42

5

Ge

 

1,1

 

0,48

6

Si

 

0,85

0,57

7

Ge

 

0,8

 

0,42

31

 

 

 

 

Окончание табл. 1.17

 

 

 

 

Номер

 

Эффективная

Эффективная

Материал

масса электронов

масса дырок

варианта

 

y m*

/m

y2 m*p /m0

 

 

1

n

0

 

8

Si

 

0,75

0,56

9

Ge

 

0,9

 

0,53

10

Si

 

0,95

0,51

11

Ge

 

0,97

0,57

12

Si

 

0,88

0,42

13

Ge

 

1,1

 

0,56

14

Si

 

0,85

0,56

15

Ge

 

1,05

0,53

16

Si

 

0,95

0,51

17

Ge

 

0,97

0,57

18

Si

 

0,92

0,42

1.18. Определить положение уровня Ферми и концентрацию неосновных носителей заряда при T = 300 К в кремнии, легированном бо-

ром до концентрации N А, если известно, что эффективные массы электронов и дырок равны mn* y1 m0 и m*p y2 m0 соответственно, где m0 – масса свободного электрона.

Таблица 1.18

Варианты для задачи 1.18

Номер

Концентрация

Эффективная

Эффективная

масса электронов

масса дырок

варианта

акцепторов NА, м–3

y

*

 

*

/m0

 

 

m /m

y2 mp

 

 

1

n

0

 

 

 

 

 

 

 

0,56

 

1

1023

 

1,05

 

 

2

1023

 

0,85

 

0,57

 

3

1021

 

0,8

 

0,42

 

4

1020

 

0,75

 

0,56

 

5

1023

 

0,9

 

0,53

 

6

1021

 

0,95

 

0,51

 

7

1020

 

0,97

 

0,57

 

32

 

 

 

 

Окончание табл. 1.18

 

 

 

Эффективная

 

Номер

Концентрация

Эффективная

 

масса электронов

масса дырок

 

варианта

акцепторов NА, м–3

y

*

 

*

/m0

 

 

 

m /m

y2 mp

 

 

 

1

n

0

 

 

 

 

 

 

 

 

0,57

 

 

8

1021

 

0,85

 

 

 

9

1020

 

0,8

 

0,42

 

 

10

1023

 

0,97

 

0,57

 

 

11

1019

 

0,88

 

0,42

 

 

12

1020

 

1,1

 

0,56

 

 

13

1020

 

0,85

 

0,56

 

 

14

1021

 

0,97

 

0,57

 

 

15

1020

 

0,88

 

0,42

 

 

16

1023

 

1,1

 

0,56

 

 

17

1019

 

0,85

 

0,56

 

 

18

1020

 

0,97

 

0,57

 

 

1.19. Кристалл арсенида индия (InAs) легирован серой (S) так, что избыточная концентрация доноров составляет N NД NА. Можно

ли считать, что при температуре T = 300 ºC электрические параметры этого полупроводника близки параметрам собственного арсенида ин-

дия, если эффективные массы электронов и дырок равны mn* y1 m0 и

m*p y2 m0

соответственно? Здесь m0

– масса свободного электрона,

ширина запрещенной зоны

изменяется с

температурой по закону

E 0,462

T 3,5 10 4.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Таблица 1.19

 

Варианты для задачи 1.19

 

 

 

 

 

 

Номер

Избыточная

 

Эффективная

Эффективная

концентрация

 

масса электронов

масса дырок

варианта

доноров NД, м–3

 

y m*

/m

y2 m*p /m0

 

 

 

1

n

0

 

1

1,5 · 1022

 

 

0,025

0,41

2

1024

 

 

0,027

0,35

3

1023

 

 

0,031

0,37

33

 

 

Окончание табл. 1.19

 

 

 

 

Номер

Избыточная

Эффективная

Эффективная

концентрация

масса электронов

масса дырок

варианта

доноров NД, м–3

y1 mn* /m0

y2 m*p /m0

4

2 · 1022

0,015

0,38

5

3 · 1022

0,018

0,45

6

1,5 · 1022

0,022

0,42

7

4 · 1022

0,01

0,4

8

5,2 · 1022

0,013

0,35

9

1,8 · 1022

0,032

0,37

10

1022

0,023

0,38

11

1024

0,027

0,45

12

1023

0,031

0,42

13

2 · 1022

0,015

0,4

14

3 · 1022

0,018

0,35

15

1022

0,022

0,37

16

2 · 1024

0,01

0,38

17

1023

0,013

0,45

18

2 · 1022

0,032

0,42

1.20.В кристалле арсенида галлия (GaAs) на 107 атомов приходится

xатомов легирующей примеси (теллура). Найти положение уровня Ферми относительно середины запрещенной зоны при T = 500 К. Плот-

ность арсенида галлия 5,32 106 г/ м3. Эффективные массы электро-

нов и дырок равны mn* y1 m0 и m*p y2 m0 соответственно, где m0 – масса свободного электрона, а ширина запрещенной зоны изменяется с температурой по закону E 1,522 – (T 2 5,8 10 4)/(T 300).

1.21. Найти температурный интервал, в котором концентрация электронов постоянна и равна концентрации доноров. Оценить грани-

цы интервала для полупроводникового материала, содержащего NД доноров с энергетическим уровнем EД EC x эВ, если ширина за-

прещенной зоны изменяется по закону E (0,785 4 10 4T ). Фактор вырождения g = 2.

34

 

 

 

 

 

 

 

 

Таблица 1.20

 

 

Варианты для задачи 1.20

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Количество атомов примеси

Эффективная

 

Эффективная

Номер

 

масса

 

 

 

масса дырок

 

на каждые 10

7

атомов

 

варианта

 

 

электронов

 

y

 

m*

/m

 

основного вещества x, шт

*

 

 

2

 

 

 

 

 

y1 mn /m0

 

 

p

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

1

 

 

0,067

 

 

 

 

0,48

 

2

10

 

 

0,069

 

 

 

 

0,35

 

3

102

 

 

0,07

 

 

 

 

0,47

 

4

102

 

 

0,06

 

 

 

 

0,38

 

5

2 · 102

 

0,049

 

 

 

 

0,45

 

6

10

 

 

0,055

 

 

 

 

0,42

 

7

2

 

 

0,077

 

 

 

 

0,4

 

8

4

 

 

0,069

 

 

 

 

0,45

 

9

6

 

 

0,07

 

 

 

 

0,37

 

10

8

 

 

0,06

 

 

 

 

0,38

 

11

1

 

 

0,052

 

 

 

 

0,45

 

12

10

 

 

0,055

 

 

 

 

0,42

 

13

102

 

 

0,067

 

 

 

 

0,4

 

14

102

 

 

0,069

 

 

 

 

0,35

 

15

3

 

 

0,07

 

 

 

 

0,47

 

16

4

 

 

0,06

 

 

 

 

0,38

 

17

5

 

 

0,049

 

 

 

 

0,45

 

18

6

 

 

0,056

 

 

 

 

0,42

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Таблица 1.21

 

 

Варианты для задачи 1.21

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Номер

 

Материал

 

Концентрация доноров

 

 

Разность

 

варианта

 

 

NД, см–3

 

х =EС EД, эВ

1

 

Ge

 

2 · 1015

 

 

 

0,01

 

2

 

Si

 

3 · 1015

 

 

 

0,05

 

3

 

Ge

 

2,5 · 1015

 

 

 

0,03

 

4

 

Si

 

4 · 1015

 

 

 

0,03

 

5

 

Ge

 

3,5 · 1015

 

0,045

 

6

 

Si

 

8 · 1015

 

0,042

 

35

 

 

Окончание табл. 1.21

 

 

 

 

Номер

Материал

Концентрация доноров

Разность

варианта

NД, см–3

х =EС EД, эВ

7

Ge

3 · 1015

0,04

8

Si

1,5 · 1015

0,035

9

Ge

4 · 1015

0,037

10

Si

3 · 1015

0,01

11

Ge

2,5 · 1015

0,015

12

Si

4 · 1015

0,018

13

Ge

3 · 1015

0,01

14

Si

6,5 · 1015

0,05

15

Ge

7 · 1015

0,02

16

Si

3 · 1015

0,03

17

Ge

2,5 · 1015

0,01

18

Si

4 · 1015

0,05

1.22. Вычислить концентрацию дырок p и удельное сопротивление ρ кремния, легированного бором (концентрация легирующей при-

меси N А) при T1 = 300 К, если эффективная масса дырок равна m*p y m0 , подвижность дырок p . Фактор вырождения g = 1. Энергетический уровень бора в кремнии равен EА EV 0,01 эВ 0,045 эВ. Чему равна концентрация дырок при T2 = 30 К?

 

 

 

 

Таблица 1.22

 

 

Варианты для задачи 1.22

 

 

 

 

 

Номер

Эффективная масса

Концентрация

Подвижность

дырок

*

акцепторов

дырок,

 

варианта

y mp /m0

в базе NА, м–3

μр, см2/В·с

1

 

0,59

1017

100

2

 

0,61

2 · 1017

120

3

 

0,64

1,5 · 1017

200

4

 

0,7

2,5 · 1017

90

5

 

0,71

3 · 1017

80

6

 

0,55

1,2 · 1017

85

7

 

0,58

1,1 · 1017

130

36

 

 

Окончание табл. 1.22

 

 

 

 

Номер

Эффективная масса

Концентрация

Подвижность

*

акцепторов

дырок

 

варианта

дырок y mp /m0

в базе NА, м–3

μр, см2/В·с

8

0,6

2 · 1016

110

9

0,65

8,5 · 1016

105

10

0,68

2,5 · 1016

100

11

0,58

2,5 · 1017

120

12

0,56

3 · 1017

200

13

0,61

1,2 · 1017

90

14

0,64

1,1 · 1017

80

15

0,7

2 · 1016

110

16

0,71

8,5 · 1016

105

17

0,55

1017

100

18

0,58

2 · 1017

120

1.23. Германий легирован сурьмой и бором. Концентрация атомов бора равна N А, а степень компенсации NА / NД . Найти концентрацию

электронов при T = 25 К, если mn* 0,56 m0 , EД EC x эВ, фактор вырождения g = 2.

 

 

 

Таблица 1.23

 

Варианты для задачи 1.23

 

 

 

 

 

Номер

Концентрация

Степень

Разность

компенсации

варианта

акцепторов NА, см–3

x = EC EД, эВ

 

 

NА/NД

 

1

1016

0,5

0,01

2

2 · 1016

0,45

0,05

3

3,5 · 1016

0,4

0,04

4

2,5 · 1016

0,35

0,03

5

2,5 · 1017

0,3

0,035

6

3 · 1017

0,25

0,042

7

2 · 1016

0,28

0,04

8

7,5 · 1016

0,6

0,036

9

2,5 · 1016

0,65

0,039

37

Окончание табл. 1.23

Номер

Концентрация

Степень

Разность

компенсации

варианта

акцепторов NА, см–3

x = EC EД, эВ

 

 

NА/NД

 

10

2,5 · 1017

0,62

0,01

11

2,5 · 1017

0,58

0,015

12

3 · 1017

0,45

0,018

13

2 · 1016

0,4

0,01

14

8,3 · 1016

0,35

0,05

15

2,5 · 1017

0,3

0,02

16

3 · 1017

0,25

0,025

17

2 · 1016

0,5

0,015

18

7,6 · 1016

0,45

0,05

1.24. Вычислить положение уровня Ферми при T = 300 К в образце германия, содержащего в одном кубометре NД атомов мышьяка и N А

атомов галлия соответственно. Считать, что эффективные массы элек-

тронов и дырок равны

mn* y1 m0 и

m*p y2 m0

соответственно, где

m0 – масса свободного электрона.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Таблица 1.24

 

 

Варианты для задачи 1.24

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Концентрация

Концентрация

Эффективная

Эффективная

Номер

 

масса

 

 

 

масса дырок,

доноров

 

акцепторов

 

 

 

варианта

 

 

электронов,

y2 m*p /m0

NД, м–3

 

NА, м–3

 

 

*

 

 

 

 

 

 

y m /m

 

 

 

 

 

 

1

n

0

 

1

2,5 · 1022

 

9·1021

 

 

0,51

 

0,35

2

1,2 · 1022

 

1022

 

 

0,65

 

0,43

3

2,2 · 1022

 

1021

 

 

0,57

 

0,41

4

2,5 · 1022

 

1020

 

 

0,58

 

0,42

5

3 · 1022

 

1022

 

 

0,45

 

0,38

6

9 · 1021

 

1021

 

 

0,42

 

0,37

7

1,2 · 1022

 

2,2 · 1020

 

 

0,48

 

0,32

8

2,2 · 1022

 

4,2 · 1020

 

 

0,65

 

0,33

9

2,5 · 1022

 

8,2 · 1020

 

 

0,57

 

0,31

38

Окончание табл. 1.24

 

Концентрация

Концентрация

Эффективная

Эффективная

Номер

 

масса

 

 

 

масса дырок,

доноров

акцепторов

 

 

варианта

электронов,

y2

m*p /m0

NД, м–3

NА, м–3

y

*

 

 

 

 

m /m

 

 

 

 

 

1

n

0

 

 

10

3 · 1022

1021

 

0,48

 

 

0,32

11

2 · 1022

1020

 

0,45

 

 

0,28

12

5 · 1022

1022

 

0,42

 

 

0,27

13

2,2 · 1022

1021

 

0,4

 

 

0,22

14

4 · 1022

2,2 · 1020

 

0,75

 

 

0,43

15

3,5 · 1022

4,2 · 1020

 

0,72

 

 

0,21

16

2 · 1022

1022

 

0,68

 

 

0,2

17

1,2 · 1022

1021

 

0,45

 

 

0,18

18

2,2 · 1022

1020

 

0,42

 

 

0,17

1.25. Вычислить отношение полного тока через полупроводник к току, обусловленному дырочной составляющей: а) в собственном германии; б) в германии p-типа с удельным сопротивлением ρ =

= 0,05 Ом ∙ м. Подвижности электронов и дырок равны n и p со-

ответственно. Собственная концентрация носителей заряда при комнатной температуре ni .

Таблица 1.25

 

Варианты для задачи 1.25

 

 

 

 

 

 

 

Номер

Собственная

Подвижность

Подвижность

концентрация

электронов

варианта

2

 

ni, м–3

μn, м2/В·с

дырок μp, м

/В·с

1

2,1 ∙ 1019

0,39

0,19

 

2

3,1 ∙ 1019

0,35

0,23

 

3

2,8 ∙ 1019

0,37

0,21

 

4

4,1 ∙ 1019

0,38

0,2

 

5

1019

0,45

0,18

 

6

1,1 ∙ 1019

0,42

0,17

 

7

2,1 ∙ 1019

0,4

0,22

 

8

5,1 ∙ 1019

0,35

0,23

 

9

1,5 ∙ 1019

0,37

0,21

 

39

 

 

Окончание табл. 1.25

 

 

 

 

 

Номер

Собственная

Подвижность

Подвижность

концентрация

электронов

 

2

 

варианта

ni, м–3

μn, м2/В·с

дырок μp, м

/В·с

10

2,1 ∙ 1019

0,38

0,2

 

11

3,1 ∙ 1019

0,45

0,18

 

12

2,8 ∙ 1019

0,42

0,17

 

13

2,6 ∙ 1019

0,4

0,22

 

14

4,2 ∙ 1019

0,35

0,23

 

15

1019

0,37

0,21

 

16

1,1 ∙ 1019

0,38

0,2

 

17

2,8 ∙ 1019

0,45

0,18

 

18

4,1 ∙ 1019

0,42

0,17

 

1.26. Удельное сопротивление собственного кремния при T = 300 К равно ρ, собственная концентрация носителей заряда ni . Чему при

этой температуре равно удельное сопротивление кремния n-типа с концентрацией электронов n? Считать, что n / p 3 и это соотноше-

ние сохраняется как для собственного, так и для примесного полупроводника с заданным уровнем легирования.

 

 

 

Таблица 1.26

 

Варианты для задачи 1.26

 

 

 

 

 

Номер

Собственная

Концентрация

Удельное

сопротивление

варианта

концентрация ni, м–3

электронов n, м–3

собственного

 

 

 

кремния ρ, Ом ∙ м

1

1,5 ∙ 1016

1020

2000

2

1,7 ∙ 1016

2 · 1020

2100

3

2 ∙ 1016

1021

2150

4

1,4 ∙ 1016

2 · 1020

1950

5

1016

3 · 1020

1980

6

1,8 ∙ 1016

4 · 1020

1900

7

2,2 ∙ 1016

5 · 1020

1920

8

2,5 ∙ 1016

6 · 1020

2050

9

2,6 ∙ 1016

7 · 1020

2070

40

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]