- •Практические применения контактных явлений в полупроводниках
- •5.1. Полевые транзисторы
- •5.1.1. Мдп-транзисторы с изолированным затвором
- •5.1.2. Полевой транзистор с управляющим p-n переходом
- •5.1.3. Полевой транзистор с барьером Шоттки на основе арсенида галлия
- •5.1.4. Параметры полевых транзисторов
- •5.1.5. Частотные свойства полевых транзисторов
- •5.1.6. Влияние температуры на характеристики полевых транзисторов
- •5.1.7. Влияние подложки на характеристики полевых транзисторов
- •5.2. Физические процессы происходящие в системе с двумя p-nпереходами
- •5.2.1. Основные физические процессы в биполярных транзисторах
- •5.2.2. Биполярный транзистор в схеме с общей базой. Зонная диаграмма и токи
- •5.2.3. Модуляция ширины базы. Эффект Эрли
- •5.2.4. Дифференциальные сопротивления переходов биполярного транзистора
- •5.2.5. Коэффициент обратной связи
- •5.2.6. Биполярный транзистор в схеме с общим эмиттером
- •5.3. Модель Молла – Эберса биполярного транзистора
- •5.3.1. Вольтамперные характеристики биполярного транзистора
5.1.6. Влияние температуры на характеристики полевых транзисторов
Для МДП транзистора с индуцированным каналом и полевого транзистора с управляющим p-nпереходом графики управляющих характеристикIc=f(Uзи) имеют при разных температурах вид, изображенный на рис. 5.11,аиб, соответственно.
С ростом температуры крутизна характеристик транзисторов уменьшается. Такое уменьшение значений тока стокаIcприводит к отсутствию у полевых транзисторов вредного влияния саморазогрева, характерного биполярных транзисторов. Пороговое напряжениеU0и напряжение отсечкиUотсполевых транзисторов с ростом температуры изменяется по разному.
У МДП транзисторов с индуцированным каналом с ростом температуры величина порогового напряжения U0уменьшается по закону
Изменение температуры практически не влияет на ток затвора, который изолирован от канала. Ток стока зависит от температуры по следующим причинам.
Во-первых, при увеличении температуры уменьшается контактная разность потенциалов в p-nпереходе, возникшим между инверсионным каналом и подложкой. Это обстоятельство приводит к расширению проводящего канала. Поэтому пороговое напряжениеU0уменьшается до значенияU0′и ток стокаIcв интервале отU0′ доU0рпревышает значение тока при комнатной температуре (рис. 5.11,а).
Во-вторых, с ростом температуры Туменьшается подвижность носителей в канале по закону, гдеТ0– комнатная температура.
Вследствие этого возрастает электрическое сопротивление канала, и, как следствие, на участке напряжений на затворе вышеU0руменьшается ток стокаIc.
Таким образом, вследствие увеличения ширины канала ток стока возрастает, а из-за уменьшения подвижности μ ток стока снижается. Поэтому, при определенном значении рабочей величины напряжения на затворе U0рбудет происходить полная компенсация противоположно действующих факторов и ток стока становится независимым от температуры (рис. 5.11,а). Для МДП транзисторов центр области наилучшей температурной компенсации тока стокаIcоказывается смещенным относительно порогового напряжения на 1…2 В.
У полевых транзисторов с управляющим p-nпереходом при возрастании температуры напряжение отсечкиUотс, наоборот, увеличивается по закону:
В данном случае ток стока в интервале от Uотс′ доUотс р(рис. 5.11,б) превышает значение тока при комнатной температуре, поскольку при увеличении температуры резко возрастает обратный токp-n переходов истока и стока. Ток затвора увеличивается с температурой по закону удвоения:
.
В результате, для запирания канала следует подавать на затвор большее значение напряжения отсечки Uотс′ . Точка пересечения передаточных характеристик, полученных при различных температурах, является рабочей точкойUотс ртранзистора с управляющимp-nпереходом (рис. 5.11,б).
5.1.7. Влияние подложки на характеристики полевых транзисторов
У МДП транзисторов всех типов потенциал подложки относительно истока оказывает заметное влияние на характеристики и параметры транзистора.
Благодаря воздействию на проводимость канала подложка может выполнять функции затвора. Несмотря на то, что управляющее действие подложки в качестве второго затвора относительно невелико, это свойство используется в ряде схем.
Напряжение на подложке относительно истока должно иметь такую полярность, чтобы p-nпереход исток – подложка включался в обратном направлении (рис. 5.12,а). Это приводит к расширениюp-nперехода запирающего слоя канал – подложка. Соответственно, уменьшается проводимость и напряжение насыщения канала. При увеличении напряженияUпиуправляющие характеристики МДП транзистораIc=f(Uси) будут смещаться в сторону больших напряженийUзи(рис. 5.12,б).