Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Радиоизотопные приборы в промышленности строительных материалов

..pdf
Скачиваний:
1
Добавлен:
24.10.2023
Размер:
8.98 Mб
Скачать

торый должен быть постоянным в определенных грани­ ц а х , — э т о необходимо для правильного проведения тех­ нологического процесса и, следовательно, получения ма­ териала более высокого качества. Определяя плотность,

для получения результатов, мало зависящих от

фрак­

ционного состава,

желательно отбирать узкую

фрак­

цию исследуемого

материала.

 

Для выполнения этого требования пробу материала необходимо рассеивать после отбора из печи. Процесс отбора из слоя не должен искажать его структуру и нарушать технологический режим.

При измерении плотности материала частиц исполь­ зуют прямую зависимость насыпной объемной массы от плотности.

Порозность насыпного слоя узкой фракции материа­ ла можно считать постоянной с достаточной точностью (погрешность зависит от упаковки материала, формы частиц и от диапазона размеров частиц, входящих в вы­

деленную

фракцию). Эксперименты показывают [19,

24], что

при использовании

радиоизотопной

методики

для определения плотностей

слоев небольших

толщин до

200 мм измерения в узком пучке не имеют преимуществ перед измерениями в широком пучке. Характер ослаб­ ления излучения одинаков, степень ослабления излуче­ ния от плотности несколько меньше у широкого пучка. Однако отказ от коллимации пучка у-излучения упро­ щает установку, что немаловажно при создании про­ мышленных приборов контроля. Применение широкого пучка позволяет использовать источники у-излучения меньшей активности при получении одинаковой погреш­ ности результатов измерения.

Зависимость измеренного значения р м плотности ча­ стиц от степени ослабления излучения материалом про­ бы можно выразить следующим соотношением:

Мэффа (і — ад Плотность материала частиц в производственных ус­

ловиях по описанной методике измеряют в специальном пробоотборнике, частью которого и является установка

для

измерения плотности

материала, состоящая из

источника излучения

(изотоп

Cs 1 3 7 ) и сцинтилляционно-

го

счетчика [кристалл

N a l ( T l ) и ФЭУ-16].

При измерении просвечивают бункер 2 с материа­ лом 4. Источник / и счетчик 3 устанавливают с проти­ воположных сторон бункера (рис. 6.1, а).

Перед измерениями из отобранной пробы автоматиче­ ски выделяется узкая фракция, наиболее характерная

Рис. 6.1. Расположение счетчиков и источни­ ков излучения для измерения насыпной объ ­ емной массы и фракционного состава мате­ риала.

для контролируемого процесса. Такой фракцией, напри­ мер, является фракция 7—5 или 5—2 мм (см. табл. 6.2). Измерительный " бункер должен заполняться данной фракцией всегда больше определенной высоты, соответ­ ствующей диаметру кристалла сцинтилляционного счет­ чика, что необходимо для обеспечения нормальных ус­ ловий измерения.

Объем пробы, необходимый для контроля параметров слоя, должен обеспечивать ее представительность. С од­ ной стороны, проба должна быть невелика по сравне­ нию с количеством материала в слое. С другой стороны, необходимо иметь достаточное количество материала, чтобы измерения давали надежный результат с хорошей точностью при использовании радиоизотопной методики. Материал, поступающий на контроль, может иметь тем­ пературу до 100° С и находиться в различном физиче­ ском состоянии.

Учитывая эти факторы при создании установки, вы­ бирали материал бункеров и их размеры. Стальной бун­ кер высотой 150 мм (рабочая часть 100 мм) и квадрат­ ным сечением 90X90 мм удовлетворяет поставленным требованиям. На модели такого бункера провели испы­ тания описываемой методики. Результаты измерения ве­ совым и радиоизотопным методами сведены в табл. 6. 1.

Электронная схема измерения плотности проста. Она состоит из эмиттерного повторителя, смонтированного

Т а б л и ц а 6 . 1

 

Масса,

Скорость

 

Масса,

Скорость

Материал

счета,

Материал

счета,

г

10"

г

103

 

 

имп/сек

 

 

имп/сек

Клинкер

 

 

Щебень

 

 

фракций

 

 

фракций

 

 

1—3

мм

467,4

24,0

1—3

мм

289,9

31,7

3—'5

мм

491,8

23,2

3—5

мм

276,8

30,0

5—7

мм

500,0

23,0

5—7

мм

270,2

31,5

7—9

мм

542,8

21,3

7—9

мм

272,4

31,2

10

мм

550,7

22,0

10

мм

264,2

31,5

Аглопорит

 

 

Керамзит

 

 

фракций

 

 

фракций

 

 

1—3

мм

416,3

26,5

1—3

мм

267,0

31,5

3—5

мм

373,6

27,5

3—5

мм

232,6

32,0

5—7

мм

357,9

27,7

5—7

мм

215,4

33,0

7—9

мм

315,7

29,7

7—9

мм

196,0

33,3

10

мм

—.

10

мм

33,5

Шамот

 

 

 

 

 

 

фракций

 

28,3

 

 

 

 

1—3

мм

376,1

 

 

 

 

3—6

мм

335,0

29,7

 

 

 

 

5—7

мм

280,4

30,5

 

 

 

 

7—9

мм

270,7

30,0

 

 

 

 

10

мм

—•

 

 

 

 

вместе с делителем и схемой делителя питания дгінодов ФЭУ на его панельке, и усилителя импульсов, располо­ женного внутри пробоотборника.

Выходные сигналы (импульсы положительной поляр­ ности) амплитудой 5 в и длительностью 2 мксек могут быть поданы на интенсиметр с последующей записью ре­ зультатов самопишущим потенциометром С/7/ или на электронную схему для дальнейшей обработки.

§ 4. ВЫВОД И ИССЛЕДОВАНИЕ ФОРМУЛЫ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОРОЗНОСТИ СЛОЯ

Принимая во внимание формулы (6.3) и (6.4), мож­ но найти зависимость для вычисления и измерения порозности кипящего слоя:

I n - у - м-эфф ^ (1 —

е0 )

 

8 = 1

,

(6.5)

Щфф<* In —

где d' — толщина слоя материала в бункере пробоот­ борника; d — толщина кипящего слоя (диаметр просве­ чиваемого сечения печи); 1—во — концентрация мате­ риала в единице объема бункера, эту величину для ис­ следуемой фракции в каждом конкретном случае мож­ но считать постоянной; єо—порозность насыпного слоя.

По данной формуле и таблицам, приведенным в ра­

боте

[19], для широкого пучка

и изотопов_ С о 6 0

и Cs1 -3 7

были построены кривые зависимости средней

порозио-

сти є от плотности частиц

р м

(рис.

6.2).

Изотоп

С о 6 0

(пунктирные кривые)

использовали

при

вычислении

ослабления

кипящим

слоем

 

- у - ^ , а изотоп Cs.1 3 7

(сплошные

кривые) —для

вычисления

ослабления

при

измерении

плотности

материала

гранул

в диапазоне

1 —

3,5 г/см3 при порозности насыпного

материала,

равной

0,4

[ 5 ] . Изотоп Cs.1 3 7

использовали

для

просвечивания

кипящего слоя и для измерения плотности материала гранул при всех прочих равных условиях.

Из расчетов и графиков видно, что сплошные кри­ вые (см. рис. 6.2) имеют меньший наклон при более мяг-

ком

у и з л У ч е н и и источников,

устанавливаемых на

про­

мышленном агрегате

для просвечивания кипящего

слоя

и на

измерительном

бункере

пробоотборника. Это

при­

водит к уменьшению погрешностей измерения порозности.

I I

13

*- < \

-<Г=б,5

11

 

 

і

 

 

 

-

:

0,5

 

 

J

 

V

«- С

 

 

 

 

г

 

 

 

 

 

с—

 

 

 

0,7

 

 

 

 

? ;

V

>с

 

 

(

 

Г"

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

/,5

5,0

5,5

^ 0

 

J,5

4,0

4,5

Плотность

материала р,г/см3

 

Рис. 6.2. Зависимость ослабления у и з л У ч е н , І Я слоем от плотности частиц материала при раз­ личных значениях порозности слоя.

§ 5. УСТАНОВКА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СТРУКТУРНЫХ

ХАРАКТЕРИСТИК (РИП)

Для измерений структурных характеристик слоя (по­ розности) в производственных условиях на печи уста­ навливают контейнеры с источниками у-излучения и печь просвечивают по контролируемым направлениям. Исходя из симметрии слоя, выбрали одно направление просвечивания по диаметру печи и два — по хордам. Просвечивание по трем направлениям дает возможность качественно оценивать структуру слоя по сечению.

В этом же сечении устанавливают пробоотборник для отбора материала с заданной цикличностью. Цикл ра­ боты пробоотборника задают в каждом отдельном слу­ чае для конкретной печи и соответствующего ей техно­ логического процесса.

Ослабленное слоем излучение регистрируется сцинтилляционными счетчиками, установленными в том же сечении по диаметру и хордам. Сигналы со счетчиков

по кабелям поступают в электронно-измерительное усі 4 ройство, схема которого построена в соответствии с фор­ мулой (6.5). Структурная схема (см. рис. 6.4) состоит из двух ветвей: по одной измеряется плотность мате­

риала

частиц

(счетчик

 

СС1),

по

 

 

 

 

 

другой — степень

ослабления

излу­

 

 

 

 

 

чения

в

контролируемом

сечении

 

 

 

 

 

агрегата

(счетчик

СС2).

Резуль­

1,2

 

 

 

 

таты измерений с этих ветвей посту­

 

 

 

 

пают в схему деления СДЗ

согласно

 

 

 

 

 

формуле и затем

записываются.

1,0

 

 

/

/

При

обсуждении

 

структурной

 

 

 

 

схемы были

рассмотрены

возмож­

 

 

 

 

 

ные варианты, которые дают одно-

 

 

 

 

 

дящеи и простои в осуществлении

5.

 

 

 

 

оказалась

схема,

соответствующая

ь

 

 

 

 

следующему

построению.

Величи- (и '

 

\

 

 

ны /о, /, /'о, / '

вводятся

в логариф-

,|

 

 

 

мические преобразователи ЛИ2 для ^

 

 

 

получения

значений

l n / 0 , I n / ,

1 п / (

/ , ^ ^ ]

 

 

 

In Г,

которые

затем

вводятся в

пре­

 

 

 

 

 

образователи

(РС2,

 

РСЗ),

где

осу­

0,2

 

 

 

 

ществляется их вычитание: 1п/0 —1п/

 

 

 

 

и In I'o—In

 

далее

полученные ре­

 

 

 

 

 

зультаты

вводятся

 

в делительный

0.

 

 

 

 

преобразователь

 

СДЗ,

который

вы­

1000

 

10000

 

'100

 

дает значение

( 1 — є ) .

 

 

 

 

Частота входных

В

качестве

 

логарифмических

импульсов,Vгц

преобразователей

используют

лога­

Рис.

6.3.

Зависи­

рифмические

интенсиметры, собран­

мость

выходного

ные по схеме с параллельным вклю­

напряжения

лога­

чением «диодных

мензурок». Основ­

рифмического

ин-

ное требование

к схеме:

наилучшее

теноиметра

(1) и

приближение

к

 

логарифмическому

выходного

 

напря­

 

жения (2)

 

разно­

закону выходного сигнала в зависи­

стной

схемы

от

мости от частоты поступающих на

частоты

следова­

вход

импульсов. Схема

рассчитана

ния

входного

сиг­

согласно работе

 

[25]

и

опробована.

 

нала.

 

 

 

 

 

 

 

 

Зависимость напряжения логарифмического интенсиметра от частоты входных импульсов (рис. 6.3 кривая /) говорит о хорошем приближении к логарифмическому закону. Вычитание логарифмов интенсивностей выпол­ няется на мостовой схеме, собранной на двух эмиттер-

Рис. 6.4. Схема установки для контроля структурных характеристик кипящего слоя.

ных повторителях е общей нагрузкой. Эмиттерные повто­ рители собраны на транзисторах с противоположной

проводимостью. Операция логарифмирования

h

и /' 0

не выполняется, поскольку в процессе калибровки

схемы

постоянные напряжения, соответствующие In / 0

и

In /'о

вводятся на входе мостовых схем с помощью потенцио­ метров компенсации.

На рис. 6.3 показана зависимость выходного напря­ жения от частоты следования входных импульсов, полу­ ченная с помощью рассматриваемой схемы (кривая 2).

Операция деления постоянных токов в принципе мо­ жет быть выполнена с помощью поворотных трансфор­ маторов [26], однако эта схема довольно громоздкая, так как должна состоять из четырех поворотных транс­ форматоров, усилителя и исполнительного двигателя. С этой же целью применяют электронные схемы отно­ шения, которые сложны по своей структуре [27] . Ис­ пользование для деления токов мостовой схемы с эта­ лонным потенциометром [28] путем замены батареи, питающей реохорд, одним из сигналов — наиболее про­ стой вариант, он и был применен в данной установке.

Полная схема измерения порозности представлена на рис. 6.4, проведенные измерения подтвердили полную ее работоспособность.

Ожидаемая погрешность измерения не превышает 5% при ее оценке по выведенной формуле относительной по­

грешности измерения

порозности:

 

As _

^эффР

 

Ак

j _ ( I n к) ( х э ф ф D

Лк'

є

I n к' [хэфф

к

М-эфф

к' (In к ' ) 2

„,

7 0

п

d '

 

Г Д е к = т , к = - , D = T .

При необходимости иметь полную картину изменения объемной структуры слоя такие установки можно смон­ тировать в нескольких сечениях исследуемого агрегата (слоя).

§ 6. ОБОСНОВАНИЕ НЕОБХОДИМОСТИ КОНТРОЛЯ ФРАКЦИОННОГО СОСТАВА МАТЕРИАЛА

Отличительная черта обработки материалов в кипя­ щем или взвешенном слое — грануляция сырьевой смеси или ее фракционирование перед поступлением на основ­ ную технологическую линию. Операция грануляции ма-

7 Зак. 133

97

териала применяется в том случае, когда сырье пред­ ставляет собой пластичную массу (например, при полу­ чении клинкера, керамзита и др.), а операция фракцио­ нирования — выделение диапазона фракций, удовлетво­ ряющего условиям обработки в кипящем или взвешен­ ном слое применяется, когда сырье представляет собой сыпучую массу. Подготовленный таким образом мате­ риал позволяет лучше обеспечить необходимый контакт между отдельными компонентами и повысить скорость газов в кипящем или взвешенном слое, т. е. обеспечить высокую удельную производительность печи без суще­ ственного выноса материала из слоя.

Гранулометрический состав материала для более рав­ номерного кипения должен быть разнородным [29], но в то же время иметь некоторое постоянное соотношение фракций различного размера. Загружаемые сверху в печь частицы сырого материала в зависимости от их раз­ меров опускаются в слое до определенного уровня и за­ тем подбрасываются кверху. Этот процесс будет повто­ ряться. Мелкие частицы при этом проникают в слой на меньшую глубину, чем крупные. Время пребывания мел­

ких частиц

в кипящем

слое

может

быть

меньше,

 

 

 

чем

крупных,

и в

некото

 

Т а б л и ц а 6.2

 

р Ы Х

С Л у Ч а я х

недостаточ­

Диаметр гра­

 

 

ным для

завершения

тех­

Содержание,

%

нологического

процесса

нул, мм

 

 

 

[30].

 

 

 

 

 

 

 

Чем крупнее

частицы,

10

3

 

тем

меньше

равномер­

 

ность слоя и тем труднее

10—7

19

 

7—5

41

 

получить

кипящий

слой

5 - 2

35

 

более или менее

постоян­

2

2

 

ной

по высоте плотности,

 

 

 

в

котором

происходило

бы равномерное перемешивание. Поэтому для данной разновидности процесса обычно применяют зерна мате­ риала определенного гранулометрического состава.

Отклонения от оптимального гранулометрического состава обрабатываемой смеси приводят к нарушению нормального хода процесса, что либо понижает произво­ дительность агрегата, либо приводит к выпуску брако­ ванной продукции.

Именно поэтому практическое осуществление авто­ матического контроля гранулометрического состава об-

рабатываемого материала имеет существенное значение. Процесс грануляции поддается корректировке, следо­ вательно, его можно сделать управляемым при наличии соответствующей оперативной информации о его ходе. При производстве, например, цементного - клинкера рекомендуется фракционный состав гранул, приведен­

ный в табл. 6.2 [29].

§ 7. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ГРАНУЛОМЕТРИЧЕСКОГО СОСТАВА МАТЕРИАЛА

В настоящее время существует много методов опре­ деления гранулометрического состава материала. Веро­ ятно, наиболее точен весовой способ, при котором про­

водится рассев материала

на

фракции с последующим

их взвешиванием. Недостаток

этого метода — его боль­

шая продолжительность и

трудоемкость.

При использовании радиоизотопного способа опреде­ ления гранулометрического состава кокса отбирают про­ бу стандартной массы время-импульсным методом [31], измеряют интенсивность излучения, прошедшего через пробу. Недостаток такого способа определения грануло­ метрического состава — недостаточно точные данные о связи ситового состава материала с показаниями при­ бора.

Этим же недостатком обладает и способ контроля гранулометрического состава кускового материала на выходе из вращающейся печи посредством телевизион­ ной системы [32] .

Процессы в печах с кипящим или взвешенным слоем протекают значительно быстрее, чем в печах других ти­ пов. Чтобы контролировать гранулометрический состав

вслое, необходим метод, который позволил бы прово­ дить измерения в более короткие промежутки времени и

втяжелых производственных условиях. Непосредствен­ но в слое проводить измерения возможности нет. В уста­ новке РИП контроль ситового состава слоя осуществля­ ется с помощью измерительного пробоотборника (описа­ ние дано ниже). Материал отбирается из слоя без на­ рушения его структуры, охлаждается, автоматически рас­ сеивается на заданные фракции в равные по объему бун­ кера. Фракционный состав измеряют при помощи интенсиметрических радиоизотопных уровнемеров с точечны­ ми источниками излучения и протяженными детекторами

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ