книги из ГПНТБ / Деркач, В. П. Электроннозондовые устройства
.pdfМагнитное поле, создаваемое всеми соседними токами по отно шению к выбранному,
Н — lU LL ~ 2nrj = |
2лгрэлУ, |
|
|||
поэтому сила |
|
|
|
|
|
Fm = |
[ievH = 2nep3Jlrv2n, |
|
|||
где р, — магнитная проницаемость. |
|
|
|||
Отсюда получаем соотношение |
|
|
|||
которое показывает, что для |
нерелятивистских пучков Fm |
Fe, |
|||
т. е. происходит разбухание. |
При очень больших скоростях Fm не |
||||
значительно меньше Fe и разбухание отсутствует. |
|
||||
При слабом разбухании |
пучка можно считать, что Fe — та — |
||||
= const, а следовательно, |
ускорение а направлено по радиусу и |
||||
постоянно по величине: |
|
|
|
|
|
|
-> |
|
2ярэлег |
• |
|
|
а — |
т |
|
||
|
|
|
|
|
|
Радиус такого пучка
г = Л>+ ~o~at21
или
■ r = r0(u + Д'),
где величина А' = пе(>э.± . характеризует разбухание пучка.
тVq
Если использовать связь между рэл и плотностью тока пучка и фор мулу (6) для скорости электрона, можна А' выразить формулой
/ т \V
А' Л] ■ |
■г2, |
|
(2V„)' |
которая показывает, что разбухание увеличивается с возрастанием расстояния z, которое прошел пучок, увеличением плотности тока / и уменьшением энергии электронов.
Для борьбы с разбуханием принимаются специальные меры. Например, на пути пучка создается сопровождающее электроста тическое или магнитное поле или объемный заряд компенсируется путем введения в пучок зарядов противоположного знака.
Хроматическая аберрация возникает из-за различия начальных скоростей электронов, которое вызывает изменение показателя преломления, а значит, и преломляющей силы линзы для разных электронов (рис, 16). Вышедшие из одной точки объекта электроны
30
с энергиями eV и е (V — ДК) будут сходиться в двух разных плос костях изображения с соответствующей разностью фокусных рас стояний Д/хр. Для точки предмета, расположенной на оси, радиус кружка рассеяния бхр в пересчете на предметную плоскость для больших увеличений равен
бхр = |
О^Д/хр- |
|
В общем случае его выражают как |
|
|
бхР = &СКр ■у . |
(24) |
|
З де сь хар акте риз ует разброс |
энергий |
электронов; Схр—коэф |
фициент хроматической аберрации, который для каждой линзы
Быстрые
может быть определен либо теоретически, либо экспериментально (см. [15]); а — апертурный угол.
Выражение (24) определяет необходимую степень стабилизации
высоковольтного источника питания |
в электронном |
микроскопе |
с магнитными линзами, а также токов |
в магнитных |
линзах. При |
использовании электростатических линз требования к стабильно сти высокого напряжения менее жесткие, если ускоряющее на пряжение и напряжение линз строго синфазны.
Когда изображаемая точка предмета находится не на оси, а от стоит от нее на расстоянии г, то хроматическая дефокусировка Д/хр приводит к сдвигу изображения, который в пересчете на плос кость объекта равен Дг (эта аберрация называется хроматической вариацией увеличения). Для больших увеличений и параксиального пучка
Дг = ^ Д / х ,
В случае магнитных линз к смещению добавляется ещеповорот изо бражения, обусловленный их магнитным полем (хроматическая вариация поворота), и изображение как бы раскрывается вокруг некоторого центра.
Волновая природа электронов, а также использование в линзах конечных апертур для ограничения ширины пучка приводят к рас ходимости пучка, прошедшего объект, что вызывает дифракцион ную ошибку. Прошедший пучок состоит из узкого конуса лучей, падающих под слегка различными углами. Каждая компонента лу ча создает свою дифракционную картину (см. гл. II и III), и полная
31
дифракционная картина является наложением их друг на друга; некоторые детали изображения, предсказываемые расчетом для па раллельного пучка, могут отсутствовать. Изображение точки из-за дифракции электронов представляет собой диск, в пределах которого интенсивность падает от максимума до нуля. Радиус кружка нерез кое™, обусловленный дифракцией, выражается формулой Аббе, которая применительно к малым углам записывается так (см. [18]):
(25)
где X — длина волны де Бройля. Из формулы следует, что для умень шения бд нужно увеличивать апертурный угол а.
Противоречивость требований (23) и (25) означает, что при за данных Ссф и X существует оптимальная апертута а 0, при которой достигается наилучшее разрешение. Если считать, что а0 примерно соответствует равенству сферической аберрации и дифракционной ошибки, то
Имеются более точные выражения для а 0 и минимального разреша емого расстояния между двумя точками объекта бмин [191:
а 0 = 1,41 (Х/Ссф)!/‘,
6МИН= 0 , 4 3 О 3/*.
Глазер [15] определяет оптимальную апертуру методами волновой механики и отсюда рассчитывает предельное разрешение, а также показывает, что разрешение зависит от углового распределения про шедших сквозь тонкий объект электронов (см. гл. II), на которое оказывают влияние конструкция и режим работы осветительной системы.
В общем виде а0 и 6МИН записываются следующим образом:
а 0 = В'Х'^СГ/
сф >
^МИН
где А 'и В ' — константы.
Вопросы разрешения электроннозондовых пр,иборов будут рас смотрены в гл. III после изложения принципов их работы.
г л а в а II
ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ЭЛЕКТРОННОЗОНДОВОЙ ТЕХНИКИ
Получение информации об исследуемых объектах с помощью электроннозондовых устройств возможно на основе различных фи зических процессов и явлений, происходящих при облучении поверх ностей объектов ускоренными электронами. Здесь мы рассмотрим основные закономерности проникновения электронов в вещество, рассеяния и дифракции электронов, возникновения вторичных и обратно рассеянных электронов, возбуждения характеристического рентгеновского и катодолюминесцентного излучений, индуцирова ния проводимости в полупроводниках, а также закономерности не которых других явлений, нашедших наиболее широкое применение.
§1. ЗАКОНОМЕРНОСТИ ПРОНИКНОВЕНИЯ ЭЛЕКТРОННОГО ЗОНДА В ВЕЩЕСТВО
Проникновение электронов в вещество описывают законами рас сеяния, торможения и поглощения. Отправным моментом при этом является подразделение рассеяний электронов на упругие, при кото
рых |
электроны изменяют лишь направление своего |
движения |
|
и теряют пренебрежимо малые количества энергии, |
и неупругие — |
||
со |
значительными энергетическими потерями. |
|
-f- 107 эв, |
Для электронов средних и высоких энергий Е3 ~ |
104 |
||
достаточно широко используемых в электроннозондовых устройст вах, закономерности упругого рассеяния определяются главным образом рассеянием на ядрах атомов вещества, а энергетические потери — электрон-электронными соударениями.
Угловое распределение рассеянных электронов описывают диф ференциальным поперечным сечением о (0) d& отклонения в интер вал телесного угла dQ в направлении, образующем угол 0 с направ лением падения электрона. С различной степенью приближения сечение рассеяния вычисляют, пользуясь классическим или кванто во-механическим подходом.
Упругое рассеяние быстрого электрона в кулоновском поле по
ложительно заряженного ядра с |
зарядом Ze описывается класси |
|
ческой формулой Резерфорда [20, |
213: |
|
о(0) = -------*** е > |
(26) |
|
4mV sin4 -ц- |
|
|
3 4-829 |
33 |
|
где е, т, v — заряд, масса и скорость электрона соответственно, Z — атомный номер. Отклонение на малые углы формула не опи сывает (дает о (0) оо), поскольку оно происходит на больших рас стояниях от ядра, где поле атома меньше кулоновского поля ядра из-за становящегося существенным экранирования заряда ядра электронами атома. Этот эффект учитывается в первом приближении Борна, в котором волновые функции падающих и рассеянных элект ронов берутся как плоские волны и предполагается, что падающая волна заметно не искажается рассеивающим потенциалом, что приво дит к применимости теории возмущений к задаче рассеяния (см. [3, 20, 22, 23]). Критерием справедливости борновского приближения является требование, чтобы скорость падающих электронов была велика по сравнению со скоростью электронов атома. Формула диф ференциального поперечного сечения в этом случае имеет следующий вид:
о (0) = |
е* [Z — F ( 0) Р |
(27) |
|
4m2v* s i n 4 |
0 |
||
|
|
|
|
Влияние экранирования учитывается |
атомным фактором |
F (0), |
|
зависящим от скорости электрона и угла рассеяния. Выражение для F (0) задается на основании знания распределения заряда в ато ме. При больших 0 формула (27) переходит в формулу Резерфорда, что подтверждает вывод об обусловленности рассеяния электронов на большие углы неэкранированным полем ядра.
Анализ формулы (27) показывает, что а (0) является монотонно
убывающей функцией 0; рассеяния на |
малые углы |
оказываются |
|||
более вероятными. |
|
|
|
||
Некоторые попытки корректировать приближение Борна с целью |
|||||
получения сечений рассеяния для всех значений v и Z, |
без |
удовле |
|||
творения указанного выше критерия, допускают ряд |
неточностей |
||||
[24, |
25, |
26]. |
|
|
|
Метод разложения плоской падающей волны в ряд расходящихся |
|||||
сферических волн дает более общее выражение для а (0), |
пригод |
||||
ное и для медленных электронов. |
|
|
|
||
|
Поскольку падающая плоская волна eikx должна удовлетворять |
||||
уравнению Шредингера, а решение его |
может быть |
представлено |
|||
в виде ряда сферических волн, причем |
частным решением явля |
||||
ется |
|
|
|
|
|
фл = Ра (cos 0) — ga{r),
где Рп (cos 0) — полином Лежандра от cos 0, a gn (г) — решение урав нения
d2gn (r) |
, \иг |
п(п + |
1) |
ga(г)= о |
(л = 0, 1, 2, ...), |
drа |
"г Is |
г2 |
|
34
то разложение ее в ряд расходящихся сферических гармоник выра^ жается как
°° |
1 |
eikx _ eikr cos 0 _ ^ |
АпРп (cos 0) — gn(r), |
n=0 |
r |
где A n <— коэффициенты.
Представляя с помощью такой же методики возмущенную (ре зультирующую) волну и выполняя ряд математических операций (см. [23]), получают следующую формулу для дифференциального сечения рассеяния в единичный угол:
|
|
а |
= liF (а*> |
где |
|
|
|
|
во |
|
|
« ч = |
2 |
(2 n + |
1) ( c o s 2 ti„ — 1 ) P „ ( c o s 0), |
|
п=0 |
|
|
|
|
во |
|
6ti = |
2 (2п + 1) sin 2r}пРп (cos 0), |
||
цп = сдвиг фазы |
результирующей волны относительно падающей. |
||
Это выражение, во-первых, дает возможность свести вычисле ние сечения рассеяния к вычислению сдвига фаз между сферически ми компонентами падающей волны и возмущенной, а во-вторых, показывает не монотонную зависимость интенсивности рассеяния от угла 0, а с минимумами и максимумами, характерную для явле ний дифракции; кроме того, формула Борна оказывается предель ным случаем этого выражения при малых сдвигах фаз, выполняю щимся для легких атомов и быстрых электронов. Подробнее этот вопрос будет рассмотрен на примере дифракции электронов на кри сталлах в § 2 настоящей главы.
С учетом электронного обмена, при котором упруго рассеян ным электроном служит один из электронов атома, вылетевший вместо заместившего его падающего электрона со скоростью послед него, рассеяние, особенно на большие углы, увеличивается, но эта поправка существенна лишь для очень низких энергий (единицы —. несколько десятков электронвольт [27—32]).
Под воздействием поля падающего электрона может происхо дить, кроме всего, изменение распределения заряда в атоме (так называемый поляризационный эффект). Так как поле поляризован ного атома убывает с расстоянием медленнее, чем поле нормального атома, то этот эффект приводит к увеличению рассеяний на больших расстояниях от атома, т. е. рассеяний под малыми углами [33, 34].
Рассмотренные выше формулы рассеяния выведены в предполо жении, что падающий электрон отклоняется лишь один раз. Практи чески однократное рассеяние электрона в веществе возможно лишь в случае очень тонкого объекта, толщина которого значительно
3' |
35 |
меньше длины свободного пробега электрона. Средний угол одно кратного рассеяния выражается как (см. [35, 361)
0 |
= Ъ,1?иЕГ%1\ |
анаиболее вероятный угол —
о_ 0
вер~ у з '
Теоретическим и экспериментальным исследованиям однократного и кратного (до 20) рассеяний посвящено большинство работ по рас сеянию электронов, поскольку это типичные процессы для такого популярного электроннозондового устройства, как просвечивающий электронный микроскоп'.
С увеличением толщины объекта количество столкновений электрона зонда с атомами увеличивается. Когда энергия электрона достаточно высока (на практике не ниже 30 кэв), а толщина объекта еще не настолько велика, чтобы происходили значительные потери энергии, теория рассматривает последовательные акты рассеяний как независимые. Характеризующие этот случай многократные рас сеяния (более 20 актов) описываются, согласно теории Бозе, гаус совым угловым распределением рассеянных электронов [35, 36, 37, 38]:
Здесь 02 — среднеквадратичный угол отклонения, описываемый формулой
0* = 202макс 1 п ( ^ ) .
Значение 0„ин определяется существованием эффекта экранировки ядра электронами при малых углах рассеяния и в случае выполне ния борновского приближения записывается как
Z 4 .f i
0МИ11 = ~ ^ г •
в противном случае *— как
7р1 |
Z 4 *K |
0 МИН = -fo- + |
ра0 ’ |
|
где р — импульс электрона, а0— радиус боровской орбиты. Вели чина 0„акс выбирается несколько произвольно из тех соображений, что при прохождении электрона через слой толщиной d должно происходить большое число соударений с 0 С 0макс и малое (обыч но ОДНО) С 0 > 0Мако*
п2 4nNeZ (Z + 1) d
°макс “ Щ*
36
где N — число рассеивающих_ атомов в 1 см3 объекта. Найденные
экспериментальные значения 02 оказываются меньше, чем по теории Бозе.
С возрастанием числа столкновений среднеквадратичный и наи более вероятный углы рассеяния увеличиваются, стремясь к одному и тому же предельному значению, одинаковому для всех веществ [36, 39, 40]; движение электронов в веществе становится хаотичным.
Это случай диффузионного рассеяния. |
Глубина, на которой оно |
до |
стигается, считается диффузионной |
глубиной. |
|
В теории Бозе [37] за диффузионную принимается глубина, |
на |
|
чиная с которой выполняется закон Ленарда [41], дающий экспо
ненциальный спад относительного значения интенсивности / пр про шедшего через образец электронного луча:
/пР = ехр [— (рв/рв) рвдс],
где |хв — поглощающая способность вещества, которая является величиной, обратной толщине слоя, уменьшающего интенсивность в е раз при нормальном пробеге электрона и максимальной потере скорости; рв — плотность вещества. Величина рв/рв представляет собой массовый коэффициент поглощения и описывается следующим выражением:
И-в/Рв = (2рв22/Лат£'з) 1011,
где Лат— атомный вес. Рассчитанные по этой формуле значения рв/рв завышены по сравнению с экспериментальными, а, кроме того, зависимость рв/рв от Е 3 и Z более сильная, чем на практике. Даже после коррекции на энергетические потери при увеличении толщины пленки и неточность борновского приближения (см. [24, 42]) совпадение с экспериментом оказывается все же недостаточно хорошим, что связывают с пренебрежением в этой теории рассея ниями на большие углы. Для небольших углов, которые рассматри вает теория Бозе, угловое распределение рассеяния описывается законом квадрата косинуса, что согласуется с экспериментом.
Дающая разумное соответствие с экспериментальными результа тами модель диффузионного рассеяния, предложенная в работе [40] для образцов с большим атомным номером, упрощенно представ ляет механизм рассеяния двумя процессами: электроны прямолиней ным путем проникают в образец, а достигнув глубины, соответствую щей началу диффузии, диффундируют изотропно во всех направле ниях. Здесь пренебрегают вероятностью того, что электроны могут испытывать однократные упругие рассеяния при движении от по верхности до «глубины полной диффузии». Данная теория дает при мерно вдвое меньшие значения для глубины диффузии, чем экспе римент, а также более слабую зависимость ее от Е3 по сравнению с экспериментальной. Угловое распределение получается косинусным, наиболее вероятный угол рассеяния 45е. Полученные эксперимен тально в работе [36] значения наиболее вероятного угла рассеяния в элементах Au, Ag, Си и А1 составляют 3S° независимо от Z и Е3.
37
Изучению закономерностей торможения и поглощения электро нов в веществе посвящено немалое количество теоретических и экспе риментальных работ; интенсификация подобных исследований в настоящее время тесно связана с развитием элионной технологии
(см. [43, 44]).
Многие теории рассматривают процесс потерь энергии электро ном как непрерывный и характеризуют его тормозной способностью вещества. Падающий на объект монокинетический луч с энергией электронов Е 3 перестает быть монокинетическим в веществе из-за того, что различные электроны могут терять различные количества
энергии, и лучу приписывается некоторая средняя энергия Е, Тор мозная способность----- ^-определяется как изменение этой сред
ней энергии электронов на единице длины пути в веществе. Основные представления модели «непрерывных потерь» следую
щие (см. [45—49]). Быстрый первичный электрон движется в образ це, испытывая преимущественно «далекие» столкновения с атомами, что приводит к отклонениям на малые углы рассеяния с малой поте рей энергии. Поэтому приближенно можно считать, что электрон дви жется почти прямолинейно и непрерывно теряет энергию на неупру гие взаимодействия по степенному закону торможения. Довольно редкие «близкие» столкновения электрона с атомом приводят к рез кому изменению направления движения и отклонению на большие
углы рассеяния ^около-y j. Разделение столкновений на «далекие»
и «близкие» является весьма удобным приближением, в определен ной степени соответствующим действительности. Считается, что ос новной вклад в коэффициент неупругого рассеяния дают первичные электроны, испытавшие однократное «близкое» столкновение. «Да лекие» неупругие столкновения учитываются здесь законом тормо жения с некоторым средним для всех электронов пробегом.
Использующая классическую модель взаимодействия электрона с электронами изолированных атомов теория Бора [50, 51, 52] дает выражение
dE |
4ne2NZ |
1,2v3m |
|
Тх |
|
Ш 4nve2 ’ |
(Zii> |
где v —■средняя частота колебаний электронов в атоме. Для применения теории Бора необходимо выполнение условия
Согласно квантовомеханической теории Бете [53], критерием применимости которой является соблюдение неравенства
е2
т *
тормозная способность
dE |
Ane^NZ |
, mv2 |
(29) |
|
1 Г ~ |
mfi |
1П *2F7 » |
||
|
38
где V„ — средний потенциал ионизации (или возбуждения) атома образца. Пренебрежение в этой формуле зависимостью логарифми ческого члена от энергии приводит к закону торможения Виддингтона'— Томсона, одной из форм записи которого является выражение
о4 (х) = v43 — стрвх, |
(30) |
где v (х) — скорость электрона, прошедшего в образце путь х; |
v3 — |
скорость электрона в луче (до проникновения в образец); ет = |
const. |
В работе Спенсера [54] приведен метод расчета торможения и рассеяния электронного пучка вдоль его траектории с использова
нием формулы Бете (29) для вычисле |
|
|||
ния непрерывных потерь энергии и с |
|
|||
учетом |
последовательных |
ядерных |
|
|
рассеяний, описываемых теорией Мот |
|
|||
та и Месси [27] или модифицирован |
|
|||
ной формулой |
Резерфорда |
[55, 56]. |
|
|
Рассчитанные Спенсером кривые рас |
|
|||
пределения потерь энергии по глуби |
|
|||
не для |
случая |
бомбардировки мише |
0,8 X/R |
|
ней из Be, |
А1 и Аи |
электронами с |
Рис. 17. Распределение потерь |
|||||
энергией Е3 |
— 500 кэв, испускаемыми |
|||||||
энергии электронов (£3=500 /саз) |
||||||||
плоским |
источником |
(рис. |
17), дают |
|||||
в Be, испускаемых |
плоским ис |
|||||||
хорошее |
согласование с эксперимен |
точником, по Спенсеру [54]. Точ |
||||||
том. Рассогласования в начале и кон |
ки |
соответствуют |
эксперимен |
|||||
це торможения объясняются соответ |
тальным данным при ,Ез=570 кэв. |
|||||||
ственно |
наличием влияющих на экс- ... |
|
эффектов и наличием не |
|||||
периментальные результаты |
вторичных |
|||||||
учтенного теорией разброса в радиусе экранирования для разных электронов. Также рассчитаны кривые для случая точечного изо тропного моноэнергетического источника электронов, помещенно го в бесконечную среду.
Группа авторов [57] на основе метода Спенсера выполнила рас четы распределения потерь энергии электронов по глубине для алюминия при начальных энергиях электронов Е 3 = 57; 80; 104; 126,5 кэв и получила очень хорошее согласование с эксперименталь ными данными, найденными путем измерения числа ионных пар, создаваемых прошедшими через соответствующий слой алюминия электронами в узком воздушном зазоре, перпендикулярном перво начальному направлению пучка, полагая, что это число пропорцио нально удельным потерям энергии в материале на соответствующей глубине. Некоторое отклонение экспериментальных данных вниз по отношению к теоретической кривой при больших глубинах проник новения может быть связано с происходящим при этом возрастани ем энергии ионизации при низких энергиях электронов.
В работе [583 делается вывод, что изменение удельных потерь энергии по глубине в меди и алюминии представляется кривой о максимумом, причем с увеличением энергии первичных электронов этот максимум сдвигается к большим толщинам и делается более
39
