- •. Измерительные задачи при определении моделей радиокомпонентов.
- •1.1. Структура элементной базы радиоэлектронных схем
- •1.2.1. Общие положения
- •1.2.2. Классификация моделей рк
- •1.2.3. Основные требования к моделям
- •1.2.4. Макромодели пассивных радиокомпонентов
- •1.2.5. Встроенные макромодели транзисторов
- •1.2.6. Макромодели, определяемые пользователем.
- •1.2.7. Макромодели операционных усилителей.
- •1.2.8. Факторные статистические модели многополюсных рк
- •1.3. Измерительные задачи
- •2. Алгоритмические методы измерения динамических параметров макромоделей многополюсных радиокомпонентов
- •2.1 Общие положения
- •2.2. Матрицы проводимости и сопротивления
- •2.2.1. Определение y- и z-матриц
- •2.2.2. Определение коэффициентов z и y матриц прямым способом.
- •2.3 Гибридные матрицы четырёхполюсника
- •2.4. Эквивалентная схема компонента.
- •2.5. Матрицы рассеяния
- •2.5.1. Определение s-матриц в свч диапазоне.
- •2.5.2. Измерение матриц рассеяния в схемах с конечными активными нагрузками.
- •2.4.3. Условия исключения систематических погрешностей при измерении s -матриц многополюсников в волноводных трактах.
- •2.6. Измерение y-параметров многополюсника с учетом паразитных параметров измерительных цепей.
- •2.6.1 Паразитные параметры в измерительных схемах с конечными нагрузками.
- •2.6.2. Определение y-матриц с учетом искажений
- •2.6.3 Идентификация падающих волн в измерительных схемах с паразитными параметрами
- •2.6.4 Следствие операции нормирования y- матрицы.
- •2.5.6 Способ полного исключения влияния входной цепи измерительного прибора на результаты измерений.
- •2.7. Калибровка измерительных цепей
- •2.7.1. Измерение динамических параметров двухполюсных элементов
- •2.7.2. Определение динамических параметров образцовых мер
- •2.7.3. Аттестация паразитных параметров контактно-соединительных
- •2.7.4. Корректировка -матриц по данным аттестации контактно-соединительных цепей.
- •2.8. Измерения в переменном базисе полюсных нагрузок
- •394026, Воронеж, Московский просп., 14.
2. Алгоритмические методы измерения динамических параметров макромоделей многополюсных радиокомпонентов
2.1 Общие положения
В теории электрических цепей исключительное значение имеют матрицы Y – проводимости, Z – сопротивления, S – рассеяния, с помощью которых устанавливается связь между входными и выходными токами и напряжениями МП электронного устройства. Особое значение при этом имеет волновая матрица рассеяния (S – матрица), свойства которой позволяют идентифицировать линейные параметры МП при режимах работы максиимально приближенным к реальным.
Перечисленные выше матрицы позволяют производить альтернативные определения состояний электрических цепей. Они применяются разработчиками электронных схем в зависимости от конкретных задач. Так Z – матрицы удобны для анализа электрических цепей методом контурных токов, Y – матрицы – методом узловых потенциалов, а S – матрицы для идентификации волновых параметров МП.
Все матрицы линейных параметров МП взаимосвязаны. Определение одной из них даёт возможность вычислить значения остальных. Кроме перечисленных выше на практике в ряде случаев используют также обыкновенные А – или волновые Т – матрицы передачи, гибридные Н – матрицы.
Ниже рассматриваются результаты исследования Y - и S – матриц с точки зрения идентификации параметров МП. Измерительные задачи решены на основе математического аппарата S – матриц, как наиболее простого и понятного для решения подобных задач [2, 4].
Процесс измерения информации, достаточной для определения S – матриц МП, производится элементарно и может быть сведён, по существу, к измерению модулей и разностей фаз комплексных напряжений в рефлексных плоскостях (точках) измерительных цепей. Применение современной измерительной аппаратуры при внедрении способов и устройств, приведённых в источниках [36], [38], [44], [46], [48], [49], [52], [54], [59-63], [63-70] практически исключает из процесса измерения какие-либо подстроечные операции.
При использовании ЭВМ типа ПК в качестве ядра измерительной системы сложные алгоритмы расчёта не осложняют процесс измерения. Такие методы измерения отвечают определению алгоритмических методов измерения
2.2. Матрицы проводимости и сопротивления
2.2.1. Определение y- и z-матриц
Линейные динамические параметры многополюсника выражают связь токов и напряжений, которые вырабатываются на его входах-полюсах при подключении их к внешним электрическим цепям. Рассмотрим многополюсник рис.2.1 с числом полюсов n, в котором определены токи Íi и напряжение Úi для каждого i-го входа. Напряжения Úi приложены между зажимами i-го входа, один из которых представляет общую для входов-полюсов шину. Все токи Íi направлены к многополюснику, а напряжения Úi - от активного зажима к общей нулевой шине.
Рис. 2.1. Схема эквивалентного многополюсника
Пусть совокупность полюсных токов представляет вектор столбец I полюсных токов
I (2.1)
а совокупность полюсных напряжений - вектор столбец U полюсных напряжений
U (2.2)
Если считать Ui значения элементов вектора U заданными, значения Íi элементов вектора I искомыми, то Íi можно рассматривать как линейную комбинацию Ú1, Ú2,..., Ún, т.е.
(2.3)
где yij - взаимная проводимость.
Тогда компоненты вектора I могут быть выражены в виде системы уравнений
(2.4)
В матричной форме уравнения (2.4) запишутся в виде:
(2.5)
или
(2.6)
где Y - матрица проводимостей.
Если теперь считать Íi заданными величинами, а Úi искомыми, то по тем же соображениям Ui значение вектора U можно рассматривать как линейную комбинацию Í1, Í2,...,In, т.е.
. (2.7)
Из уравнения (2.1) после несложных рассуждений приходим к матричному уравнению, связывающему компоненты векторов U и I в виде:
, (2.8)
где Z - матрица сопротивлений по форме аналогичная матрице Y.
В САПР электронных схем матрицы Y радиокомпонентов или отдельных схем имеют исключительное значение, так как содержат информацию для расчета электрических схем общепринятым методом узловых потенциалов.
Матрицы Z используются для расчета цепей методом контурных токов. Они находят меньшее применение. Матрицы Y и Z связаны друг с другом уравнением [2.1, 2.2].
(2.9)
где -1 - знак обращения матрицы.