Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Математико-статистические методы обработки данных при управлении качеством электронных средств. Скоробогатов В.С.doc
Скачиваний:
10
Добавлен:
30.04.2022
Размер:
2.97 Mб
Скачать

3.2. Расслаивание общей изменчивости статистических данных с помощью дисперсионного анализа

Общая (суммарная) изменчивость статистических данных, хара­ктеризующих качество изделия на различных этапах его жизненного цикла, например качество технологического процесса его производ­ства, состоит из случайной и систематической изменчивости.

Источниками случайной изменчивости являются, как правило, некачественные исходные материалы, химреактивы, низкая квали­фикация рабочих на ручных операциях и т. п., источником постоян­ной изменчивости — применяемое в технологическом процессе обо­рудование.

В то же время дисперсия внутри выборки sвн2(см. § 2.7) харак­теризуется в основном случайной изменчивостью, а дисперсия меж­ду выборками sср2систематической.

Сравнивая дисперсию, обусловленную только одним каким-либо фактором (слу­чайным или систематическим), с общей (суммарной) дисперсией, с помощью диспер­сионного анализа можно решить вопрос о значимости влияния этого фактора на общую дисперсию.

В качестве критерия значимости используется F-критерий (критерий Фишера). Если F-критерий подтвердит превалирующее влияние той или иной изменчивости, то это значительно облегчит поиск источников нарушений технологического процесса

Пример 4. В табл. 3.6 приведены значения статистического коэффициента усиле­ния транзисторов по току βстi для четырех выборок, каждая из которых содержит пять транзисторов.

Таблица 3.6

Значения коэффициентов усиления транзисторов по току βст,

Номер транзистора в каждой выборке

Номер выборки

1

2

3

4

1

50

66

58

39

2

47

41

79

65

3

58

61

52

63

4

67

66

59

57

5

36

56

57

61

258

290

305

285

51,6

58,0

61,0

57,0

Выборки произведены из генеральной совокупности, подчиня­ющейся гауссовскому закону распределения с параметрами М(х) = βст = 60 и σ =10.

Мы имеем в совокупности 20 транзисторов (N=kn=20). Основные стати­стические характеристики данной совокупности определим непосредственным вы­числением.

Обозначив βстi, через xi, найдем общее среднее значение для величин, приведен­ных в табл. 3.6:

Эта величина является средним значением средних значений рассматриваемых выбо­рок, т. е.

Общая дисперсия для величин, приведенных в табл. 3.6, согласно (2.54), равна sп2 = 97,42. Дисперсия внутри выборок, подсчитанная с помощью (2.56), равна sвн2=93,15, а дисперсия между выборками в соответствии с (2.55) — sср2=120,18.

Зная из опыта sвн2 и sср2, можно определить причину изменчивости средних: случайную или систематическую. Для этого воспользуемся критерием Фишера.

Для рассматриваемого примера F= sср2 / sвн2=1,29. По табл. 3 Приложения [3, с. 402] найдем значение FT, которое определяется коэффициентом υ1 (по столбцу) и υ2 (по строке). Для sср2 число степеней свободы υ1=k— 1 =3, а для sвн2υ 2 =N —k= 16. Тогда FT=3,24.

Так как F<FT, то расхождение оценок дисперсии генеральной совокупности — случайное, т. е. в исследуемом технологическом процессе, несмотря на то что sср2> sвн2, систематические изменения не превалируют и влияние их на полную изменчивость процесса равноценно случайным изменениям. Если бы оказалось, что FFT, то расхождение оценок дисперсии генеральной совокупности было бы неслучайным и, следовательно, в технологическом процессе превалировала бы систематическая изме­нчивость.

В этом случае источник снижения качества выпускаемой продукции нужно искать среди применяемого в технологическом процессе оборудования, а в приведенном примере 4 полученные в результате эксперимента значительные различия значений дисперсии внутри выборок и между ними не указывают в то же время на наличие источника, ухудшающего качество изделий, и технологический процесс проходит в полном соответствии с разработанной нормативно-технической документацией.

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]