- •Фізика сонячних елементів
- •Лабораторна робота №1 Вивчення умов формування випрямляючого контакту металу з напівпровідником
- •Теоретичні відомості
- •Методика проведення досліджень
- •Завдання до лабораторної роботи
- •Порядок виконання лабораторної роботи
- •Контрольні запитання та завдання
- •Лабораторна робота №2 Дослідження впливу поверхневих енергетичних станів на електричні властивості випрямляючого контакту металу з напівпровідником
- •Теоретичні відомості
- •Методика проведення досліджень
- •Завдання до лабораторної роботи
- •Порядок виконання лабораторної роботи
- •Контрольні запитання та завдання
- •Лабораторна робота №3 Дослідження електричних властивостей різких напівпровідникових p – n-переходів
- •Теоретичні відомості Фізичні процеси у напівпровідникових p – n-переходах
- •Вплив зовнішнього електричного поля на основні параметри напівпровідникового p – n-переходу
- •Методики проведення досліджень
- •Завдання до лабораторної роботи
- •Порядок виконання лабораторної роботи
- •Контрольні запитання та завдання
- •Лабораторна робота №4 Дослідження світлової вольт-амперної характеристики сонячного елемента та визначення його основних параметрів
- •Теоретичні відомості Фотовольтаїчний ефект у напівпровідниках з електричною неоднорідністю
- •Вольт-амперна характеристика освітлюваного фотоперетворювача
- •Методика проведення досліджень
- •Завдання до лабораторної роботи
- •Порядок виконання лабораторної роботи
- •Контрольні запитання та завдання
- •Лабораторна робота №5 Вивчення впливу внутрішніх опорів фотоперетворювача на ефективність його роботи
- •Теоретичні відомості Компоненти внутрішнього опору фотоперетворювача
- •Оцінка впливу внутрішніх опорів фотоперетворювача на ефективність його роботи
- •Методика проведення досліджень
- •Завдання до лабораторної роботи
- •Порядок виконання лабораторної роботи
- •Контрольні запитання та завдання
- •Список літератури
- •Для нотаток
- •Навчальне видання Фізика сонячних елементів
Теоретичні відомості Компоненти внутрішнього опору фотоперетворювача
Вплив послідовного і шунтуючого опорів на вольт-амперну характеристику сонячного елемента
Однією із причин зниження ефективності роботи фотоперетворювача є наявність в ньому послідовно під’єднаних опорів, що зумовлені опором бази, емітера та опором контактних переходів, на яких розсіюється частина електричної потужності, що генерується приладом. Крім послідовно під’єднаних опорів, у колі фотоперетворювача можуть проявляти себе і деякі шунтуючі його опори, пов’язані з втратами генерованого приладом струму по крайових ділянках його поверхні, по межах зерен, кристалічних дефектах і дислокаціях та ін. При нанесенні металевих контактів на поверхню сонячного елемента в результаті проникнення металу в тріщини, які присутні на поверхні кристала, можуть виникати мікроскопічні провідні області, які будуть закорочувати контакти фотоперетворювача. Саме тому існує необхідність використовувати більш складну еквівалентну електричну схему фотоперетворювача.
В ускладненій схемі (рис. 1) послідовно під’єднаний резистор Rп враховує наявність розподілених опорів бази, емітера і контактних переходів. Шунтуючий резистор Rш враховує можливість замикання струму, який виробляється фотоелементом, через внутрішні кола, які не входять у коло навантаження R.
Рис. 1. Еквівалентна схема фотоперетворювача з послідовно під’єднаним і шунтуючим опорами
Як і раніше, процес збирання нерівноважних носіїв заряду моделюється генератором, що виробляє струм Іф, який одразу ж поділяється на струм Іd, що протікає через діод, і струм Іп, що протікає через послідовно під’єднаний резистор:
. (1)
Струм І, який протікає через опір навантаження R, є лише частиною струму, що протікає через послідовний опір, оскільки
, (2)
де Іш – струм, який протікає через шунтуючий опір. Таким чином,
. (3)
Струм Іd, що протікає через діод, залежить від напруги на діоді Ud за законом
. (4)
Напруга Ud дещо перевищує напругу U на опорі навантаження, оскільки
. (5)
Якщо врахувати, що
; (6)
то для напруги на діоді отримаємо:
. (7)
Підставляючи у формулу (3) значення струмів Іd і Іш, отримаємо вираз для вольт-амперної характеристики фотоперетворювача, що містить послідовно й паралельно ввімкнені опори:
. (8)
Проаналізуємо цю формулу для двох випадків.
1) Якщо U = 0 (режим короткого замикання фотоелемента), то І = Ікз. Таким чином, отримаємо:
. (9)
Із цієї формули видно, що струм короткого замикання фотоелемента зменшується зі зростанням величини послідовно під’єднаного опору Rп, але не залежить від опору Rш.
2) Якщо І = 0 (режим холостого ходу), то U = Uхх. У цьому випадку
. (10)
Звідси знаходимо, що:
. (11)
Із цієї формули видно, що зі зростанням величини коефіцієнта неідеальності А ЕРС холостого ходу фотоперетворювача повинна лінійно зростати. Однак, враховуючи те, що темновий струм насичення Іs також збільшується зі збільшенням коефіцієнтa A, відношення Іф / Іs зменшується. Необхідно зазначити, що величина Uхх мало змінюється зі зміною коефіцієнта A. Остання формула показує, що ЕРС холостого ходу не залежить від послідовно ввімкненого опору елемента, оскільки зазвичай Rш >> Rп. ЕРС холостого ходу починає зменшуватись, якщо Rш зменшується до величини, що дорівнює відношенню Uхх / Іф.
На рис. 2, а показано, як впливає величина послідовно ввімкненого опору на вольт-амперну характеристику кремнієвого фотоперетворювача, що збуджується світлом лампи розжарювання.
а) б)
Рис. 2. Вплив величини послідовного (а) та шунтуючого (б) опорів на форму ВАХ кремнієвого фотоперстворювача
З ростом Rп ЕРС холостого ходу не змінюється, однак суттєво змінюється коефіцієнт заповнення ВАХ. Крім того, спостерігається зменшення струму короткого замикання. Це пов’язано з тим, що через помітне падіння напруги на послідовно ввімкненому опорі діод знаходиться під напругою позитивної полярності навіть у випадку, коли вхідна напруга фотоелемента дорівнює нулю. Це приводить до суттєвого підвищення темнового струму, який протікає в напрямку, протилежному до напрямку фотоструму. Такий ефект є помітним навіть при малих величинах послідовно під’єднаних опорів.
На рис. 2, б серією вольт-амперних характеристик того ж фотоперетворювача ілюстровано вплив величини шунтуючого опору на величини Ікз та Uхх. У цьому випадку струм короткого замикання практично не змінюється, але ЕРС холостого ходу і коефіцієнт заповнення ВАХ зменшуються із ростом величини Rш.
У використовуваних на практиці перетворювачах енергії сонячного випромінювання в електричну шунтуючий опір великий і практично не впливає на роботу пристрою при високих інтенсивностях фотозбудження. Однак при малій інтенсивності фотозбудження величина шунтуючого опору має більш суттєве значення. Послідовно під’єднаний опір більш помітно впливає на роботу фотоперетворювача при високих інтенсивностях фотозбудження.
Експериментальне визначення послідовного і шунтуючого опорів
Експериментально величини Rп і Rш можна визначити для конкретного сонячного елемента. Продиференціювавши рівняння (8), отримаємо:
, (12)
де
. (13)
Якщо
на вольт-амперній характеристиці вибрати
точку U = 0,
то
,
оскільки величину Rn
можна вважати малою. Тоді
. (14)
У зв’язку з тим, що на світловій вольт-амперній характеристиці нахил дотичної, проведеної до неї в точці I = Iкз, визначити важко, визначення Rш зазвичай здійснюють за нахилом темнової ВАХ при невеликих зворотних зміщеннях (рис. 3).
Рис. 3. Схематичне зображення ділянок світлової 1 і темнової 2 кривих вольт-амперної характеристики фотоперетворювача, що показує можливість експериментального визначення величин послідовного і шунтуючого опорів
Перепишемо тепер рівняння (12) у вигляді
. (15)
Розглянемо випадок, коли коло розімкнене, при цьому Id велике. Тоді весь фотострум проходить через діод, який знаходиться при напрузі прямої полярності U = Uxx. Отримаємо
. (16)
Враховуючи, що Rш >> Rn, маємо:
. (17)
Таким чином, послідовно під’єднаний опір визначається за нахилом вольт-амперної характеристики фотоперетворювача в точці U = Uxx (рис. 3).
