Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Лаб раб по МСС.doc
Скачиваний:
2
Добавлен:
01.07.2025
Размер:
19.79 Mб
Скачать

Форма протокола измерений

Группа №

Ф. И. О.

Работа 14

Измерение радиального и торцевого биений

Данные об

индикаторе

Данные о детали

Цена

деления

Пределы

измерения

Результаты измерения

N

п.п

Измеряемое

биение

Схемы измерений для

каждого из 6 случаев

(рис. 14.1, столбец 4)

Измеренное

биение, мм

Степень

точности

1

2

3

4

5

6

П р и м е ч а н и е. Степень точности определяется по ГОСТ 24643-81

(см. табл. П16 и П17 Приложения 2).

Р а б о т а 15

Измерение отклонений от параллельности осей отверстий в пространстве

Как известно, отклонение от параллельности осей отверстий в пространстве  определяется по результатам измерений отклонения от параллельности проекций этих осей в их общей плоскости  и перекоса Y по формуле  = .

Рис. 15.1. Схемы измерения параллельности

Измерение отклонений проекций осей отверстий от их номинального параллельного положения удобно осуществлять от образцовой плоскости.

На поверхности поверочной плиты 1 (рис. 15.1), воспроизводящей образцовую плоскость, установлены и закреплены две одинаковые призмы 2, на которые опирается одна из контрольных оправок 3 и 4, вставляемых в отверстия измеряемой детали 5. Ось отверстия, воспроизводимая контрольной оправкой, опирающейся на призмы, является базовой, поэтому положение призм должно быть выверено так, чтобы базовая ось была параллельна плоскости поверочной плиты. Положение контрольных оправок относительно плоскости поверочной плиты определяется при помощи универсальной измерительной головки 6, закрепленной в штативе 7.

При повороте измеряемой детали в призмах в положение для измерения перекоса осей, при котором общая плоскость осей отверстий должна располагаться примерно параллельно плоскости поверочной плиты (рис. 15.1б), под измеряемую деталь или оправку необходимо подложить упор 8 соответствующей высоты.

Отечественная промышленность выпускает различные штативы, схема одного из которых показана на рис. 15.2.

К массивному основанию 1 с нижней базовой плоскостью прикреплена колонка 2, вдоль по которой может перемещаться муфта 4. Муфта 4 со стержнем 6 закрепляется на стойке стопорным устройством 5. К стержню 6, при помощи кольцевой пружины 7 и регулировочного винта 3, прикреплена державка 9. После регулирования положения державки, винт 3 закрепляется стопорным устройством 8. В присоединительное гнездо державки 8Н8 вставляется измерительная головка 10 и закрепляется стопорным устройством 11. Штативы обычно применяются с измерительными головками, имеющими цену деления 0,002 мм и больше.