
- •Содержание
- •Введение
- •Раздел 1. Геометрическая и структурная кристаллографии
- •Тема 1.1. Основные характеристики
- •Кристаллического состояния вещества
- •Тема 1.2. Кристаллографические индексы узлов, узловых рядов и узловых плоскостей
- •Тема 1.3. Кристаллографические проекции
- •Тема 1.4. Элементы симметрии кристаллических многогранников
- •Тема 1.5. Классы симметрии, сингонии и категории кристаллов
- •Классов симметрии кристаллов
- •Тема 1.6. Специфические элементы симметрии кристаллических структур
- •Тема 1.7. Трансляция и системы трансляций (решетки бравэ)
- •Тема 1.8. Условия выбора и характеристики элементарных ячеек
- •Тема 1.10. Пространственные группы симметрии и правильные системы точек
- •Раздел 2. Элементы кристаллохимии и кристаллофизики
- •Тема 2.1.Типы взаимодействия частиц
- •В кристаллах
- •Тема 2.2. Координационные числа и координационные многогранники
- •Тема 2.3. Плотноупакованные слои и многослойные плотнейшие упаковки
- •Тема 2.4. Пустоты в плотнейших упаковках
- •Тема 2.5. Основные структурные типы металлических элементов
- •Тема 2.6. Изоморфизм и полиморфизм
- •Тема 2.7. Структурные типы алмаза и графита
- •Тема 2.8. Симметрия и анизотропия физических свойств кристаллов
- •Вопросы для самопроверки
- •Раздел 3. Идеальный кристалл и дефекты строения реальных кристаллических материалов. Точечные дефекты
- •Тема 3.1. Понятие об идеальном кристалле
- •Тема 3.2. Точечные, линейные, поверхностные и объемные дефекты кристаллического строения. Виды точечных дефектов.
- •Тема 3.3. Энергия образования и равновесная концентрация вакансий и межузельных атомов. Миграция точечных дефектов
- •Вакансия 1,5 ± 0,5 1,0 ± 0,5
- •Тема 3.4. Источники и стоки точечных дефектов
- •Тема 3.5. Комплексы точечных дефектов
- •Вопросы для самопроверки
- •Раздел 4. Дислокации, их движение и упругие свойства
- •Тема 4.1. Теоретическая и реальная прочность
- •Кристаллов
- •Тема 4.2. Основные типы дислокаций и их движение
- •Тема 4.3. Контур и вектор бюргерса дислокаций
- •Тема 4.4. Плотность дислокаций
- •Раздел 5. Дислокации и дефекты упаковки в типичных металлических структурах тема 5.1. Полные и частичные дислокации
- •Тема 5.2. Дислокационные реакции
- •Тема 5.3. Плотнейшие упаковки и дефекты упаковки
- •Тема 5.4. Стандартный тетраэдр и дислокационные реакции в гцк-решётке
- •Дислокации в упорядоченных сплавах. В сплавах с дальним порядком (сверхструктурой) атомы разного сорта закономерно чередуются в определённых кристаллографических плоскостях и направлениях.
- •Раздел 6. Пересечение дислокаций и их взаимодействие с точечными дефектами
- •Тема 6.1. Пересечение единичных краевых, краевой и винтовой и винтовых дислокаций
- •Пересечение единичных краевой и винтовой дислокаций. Пусть в плоскости, перпендикулярной линии винтовой дислокации ав, движется краевая дислокация dс (рис. 6.3).
- •Пересечение единичных винтовых дислокаций. Если обе дислокации ав и сd винтовые, то при их пересечении также образуются пороги с краевой ориентацией (рис. 6.4).
- •Тема 6.2. Пороги на дислокациях. Движение дислокаций с порогами
- •Пересечение расщепленных дислокаций. При встрече расщепленных дислокаций их головные частичные дислокации из-за упругого взаимодействия прогибаются в сторону хвостовых частичных дислокаций.
- •Тема 6.3. Взаимодействие дислокаций с вакансиями, межузельными и примесными атомами. Атмосферы коттрелла, снука и сузуки.
- •Атмосферы Коттрелла. Поля напряжений вокруг дислокации и вокруг примесного атома упруго взаимодействуют.
- •Раздел 7. Дислокационные системы и границы раздела
- •Тема 7.1. Образование дислокаций при
- •Кристаллизации и последующем охлаждении металлов. Дислокационные сетки и сплетения.
- •7.2. Размножение дислокаций при пластической деформации
- •Тема 7.3. Границы наклона и кручения, границы малоугловые и большеугловые
- •Раздел 8. Строение твердых фаз и диффузия в металлических сплавах
- •Тема 8.1. Система, сплав, компонент, фаза, структура
- •Тема 8.2. Механические смеси, химические соединения, твердые растворы
- •Тема 8.3. Возможные механизмы диффузии, уравнения диффузии. Основные факторы, влияющие на коэффициент диффузии
- •Вопросы для самопроверки
- •Раздел 9. Кристаллизация расплавов
- •Тема 9.1. Особенности строения жидких сплавов
- •Тема 9.2. Термодинамика, механизм и кинетика процесса кристаллизации
- •9.3. Влияние степени переохлаждения, примесей и модификаторов на процесс кристаллизации, размер и форму кристаллов затвердевшего сплава
- •Тема 9.4. Строение реальных металлических отливок
- •Тема 9.5. Направленная кристаллизация. Выращивание монокристаллов из расплавов
- •Раздел 10. Наклеп и рекристаллизация
- •Тема 10.1. Упругая и пластическая деформация металлов
- •Тема 10.2. Механизмы пластической деформации
- •Тема 10.3. Деформационное упрочнение и его причины
- •Тема 10.4. Понятие о сверхпластичности металлов
- •Тема 10.5. Процессы, происходящие при отжиге деформированных металлов. Разновидности рекристаллизации
- •Тема 10.7. Горячая и холодная пластическая деформация
- •14.В чем различие между холодной и горячей пластической деформацией? Опишите особенности обоих видов деформации.
- •Раздел 11. Диаграммы состояния (фазового равновесия) двойных и тройных систем
- •Тема 11.1. Правило фаз
- •Тема 11.2. Важнейшие типы диаграмм состояния двойных сплавов
- •Раздел 12. Структуры, формирующиеся при неравновесной кристаллизации расплавов
- •Тема 12.1. Кристаллизация сплавов в неравновесных условиях
- •Тема 12.2. Аморфизация металлических сплавов
- •Раздел 13. Превращения в металлических сплавах в твердом состоянии
- •Тема 13.1. Основы термодинамики и кинетики полиморфных превращений
- •Тема 13.2.Образование квазиэвтектоида и мартенситных фаз в сплавах с полиморфными превращениями
- •Тема 13.3. Образование пересыщенных твердых растворов и их распад
- •Раздел 14. Диаграммы состояния и структура сплавов железа с углеродом
- •Тема 14.1. Компоненты и фазы в сплавах железа с углеродом в равновесном состоянии
- •Тема 14.2. Кристаллизация и превращения в твердом состоянии в железоуглеродистых сплавах различного состава
- •Раздел 15. Строение неметаллических материалов
- •Тема 15.1. Строение, стеклообразное состояние и старение полимеров
- •Тема 15.2. Строение и кристаллизация стекол
- •Тема 15.3. Строение керамических материалов
- •Заключение
- •Библиографический список
Раздел 5. Дислокации и дефекты упаковки в типичных металлических структурах тема 5.1. Полные и частичные дислокации
У примитивной кубической решетки в плоскости типа 110 содержатся три разных типа трансляционных векторов (рис. 5.1).
Для вектора b2: b2x = a, b2y = a, b2z = 0;b2 = a a 0 = a1 1 0 и
b = a 12 + 12 + 0 = a 2.
Векторы сдвига вдоль разных направлений имеют и разную мощность: b1001 = а, b2110 = а√2, b3111 = а√3.
Рис.
5.1.
Векторы Бюргерса в примитивной кубической
решетке
Дислокации, имеющие вектор Бюргерса, равный единичному вектору трансляции кристаллической решетки, называются единичными или дислокациями единичной мощности.
Единичные дислокации и дислокации n–кратной мощности обеспечивают при пробеге через кристалл тождественную трансляцию кристаллической решетки и называются полными.
В типичных кристаллических решетках металлов существуют дислокации с такими векторами Бюргерса, сдвиг в направлении которых не приводит к тождественной трансляции кристаллической решетки, но обеспечивает новое стабильное расположение образующих ее частиц. Вектор Бюргерса таких дислокаций и, соответственно, их энергия меньше, чем у единичной дислокации минимальной мощности в данной кристаллической решетке. Дислокации с векторами Бюргерса, не являющимися векторами тождественной трансляции кристаллической решетки, называются неполными или частичными.
Для каждого типа кристаллической решетки характерны свои единичные и свои частичные дислокации.
Тема 5.2. Дислокационные реакции
Дислокации в кристаллах могут участвовать в различных реакциях: полная дислокация может расщепляться на частичные дислокации; частичные дислокации могут объединяться в полнуюдислокацию; одни частичные дислокации могут рекомбинировать, давая другие частичные дислокации, и т.д.
В любых дислокационных реакциях сумма векторов Бюргерса дислокаций, вступающих в реакцию, должны быть равны сумме векторов Бюргерса дислокаций, получающихся в результате реакции.
Возможность протекания тех или иных дислокационных реакций определяется критерием Франка: сумма квадратов векторов Бюргерса исходных дислокаций должна быть больше суммы квадратов векторов Бюргерса получающихся дислокаций. Поэтому, например, дислокационная реакцияb1 =b2 + b3 возможна, если b12 b22 + b32 и невозможна, если b12 b22 + b32. Если же b12 = b22 + b32, то эта реакция по критерию Франка является неопределенной и необходимо учитывать дополнительные факторы.
Тема 5.3. Плотнейшие упаковки и дефекты упаковки
Как известно, последовательность чередования плотноупакованных шаровых слоев …АВСАВСАВС… соответствует ГЦК решетке, а последовательность плотноупакованных шаровых слоев … АВАВАВ… - ГП решетке.
Дефект упаковки может быть создан разными путями: сдвигом в плоскости плотнейшей упаковки; удалением или, наоборот, внедрением плотноупакованной плоскости.
Н
апример,
если в ГЦК решетке один из плотноупакованных
слоев В со всеми вышележащими слоями
сдвинуть в соседние лунки типа С, то
слой С перейдет в А и слой А - в В. При
таком сдвиге около плоскости сдвига
образуется чередование слоев САСА,
характерное для ГП решетки.
а
б
Рис.
5.2.
Дефекты упаковки в ГЦК решетке:
а) вычитания, б)
внедрения
Если между нормально чередующимися слоями в ГЦК решетке внедрить плотноупакованный слой, например, слой С между слоями А и В, то получится чередование АВСАСВСАВ с дефектом упаковки внедрения АСВС (рис. 5.2, б).
Дефекты упаковки имеют атомные размеры в одном измерении и значительно большие размеры в двух других измерениях и поэтому относятся к двумерным поверхностным дефектам кристаллического строения.
С появлением любого дефекта упаковки связано повышение энергии кристалла. Избыточную свободную энергию единицы площади дефекта упаковки называют энергией дефекта упаковки и иногда обозначают символом γДУ.
Полные дислокации в ГЦК решетке. Минимальным единичным вектором тождественной трансляции в ГЦК решетке является вектор b1 = а/2[011], его мощность а √2/2 (рис. 5.3).
Е
диничным
вектором трансляции является и вектор
b2
= а
[010]. Его можно разложить на два вектора:
b2 = b1 + b3 или a[010] = a/2[011] + a/2[011].
Рис.
5.3.
Элементарная ячейка ГЦК решетки с
векторами Бюргерса единичных дислокаций
)2
+ (a
)2.
Однако эта реакция считается вероятной
с учетом роста энтропии вследствие
увеличения количества дислокаций.
Ч
астичные
дислокации Шокли в ГЦК решетке.
Энергия упругой деформации может
понизиться, если единичная дислокация
расщепится на две частичные дислокации
Шокли по реакции: b1
=b2
+b3
или a/2[110]
= a/6[121]
+ a/6[211].
Проверка по критерию Франка показывает, что такая реакция возможна.
Рис.
5.4.
Расщепленная дислокация в ГЦК решетке;
dо
– ширина дефекта упаковки
Край одной из этих экстраплоскостей образует частичную дислокацию Шокли с вектором Бюргерса b2, а край другой – частичную дислокацию Шокли с вектором Бюргерса b3.
Если единичная дислокацияb1 была чисто краевой, то дислокацииb2 иb3 не являются чисто краевыми, поскольку их векторы Бюргерса не перпендикулярны линиям дислокаций.
Смещение атомов по вектору b2, а не по векторуb1 нарушает правильный порядок чередования плотноупакованных слоев и приводит, как было показано ранее, к образованию дефекта упаковки.
Прослойка дефекта упаковки находится между двумя частичными дислокациями Шокли. Первая из них (дислокацияb2) создает дефект упаковки смещением атомов в промежуточные положения С, а вторая (дислокацияb3) смещает атомы из этих положений С в нормальные положения В и тем самым ликвидирует дефект упаковки.
Так как с дефектом упаковки связан избыток энергии, то дефект упаковки стремится уменьшить свою площадь, т.е. сблизить частичные дислокации Шокли, но этому препятствуют силы их взаимного упругого отталкивания.
Равновесие наступает тогда, когда γДУ = F, где F = KGb2b3/dо – сила взаимодействия частичных дислокаций Шокли, а dо – расстояние меду этими дислокациями, или ширина дефекта упаковки.
Из этого равенства следует, что dо = KGb2b3/ γДУ.
Две частичные дислокации Шокли, связанные полоской дефекта упаковки, называют расщепленной дислокацией.
Чем меньше энергия дефекта упаковки, тем на большее расстояние расходятся частичные дислокации Шокли, т.е. тем больше ширина расщепленной дислокации.
У чистых металлов с ГЦК решеткой ширина расщепленной дислокации лежит в пределах от нескольких до 40 А°.
Картина расщепления одинакова для краевой, винтовой и смешанной дислокаций.
Однако расщепление винтовой дислокации лишает её способности скользить в любой кристаллографической плоскости, содержащей линию дислокации и вектор сдвига: расщеплённая винтовая дислокация может скользить только в плоскости дефекта упаковки, с которым связаны обе частичные дислокации Шокли.
Частичные дислокации Франка. Если в ГЦК решетке отсутствует часть плотноупакованного слоя, то возникает дефект упаковки вычитания (рис. 5.5).
Его линейную границу внутри кристалла называют частичной дислокацией Франка.
Частичная дислокация Франка является краевой дислокацией; ее вектор Бюргерса b = a/3<111> не лежит в плоскости дефекта упаковки, и частичная дислокация Франка не может перемещаться скольжением. Поэтому частичные дислокации Франка называют сидячими, в отличие от частичных дислокаций Шокли и полных дислокаций, которые называют скользящими.
Рис.
5.5.
Дислокация Франка в ГЦК-решетке
астичная
дислокация Франка может перемещаться
путём переползания при достройке
атомного слоя или при удалении атомов
с его кромки.