- •Тема 2. Теория p-n перехода
- •2.1 P – n переход. Структура. Больцмановское равновесие.
- •2.2 Высота потенциального барьера p-n перехода в равновесном состоянии (контактная разность потенциалов).
- •2.3 Равновесная ширина p-n перехода.
- •2.4 Прямое смещение p-n перехода. Граничная неравновесная концентрация неосновных зарядов. Инжекция. Уровни инжекции.
- •2.5 Обратное смещение p-n перехода. Экстракция.
- •2.6 Несимметричный p-n переход. Эмиттер. База.
- •2.7 Вах идеализированного p-n перехода.
- •2.8 Прямая ветвь вах реального диода.
- •2 Б.9 Аппроксимация прямой ветви(замена нелинейного диода линейной моделью – кусочно-линейная аппроксимация).
- •2.10 Дифференциальное сопротивление p-n перехода.
- •2.11 Температурная зависимость прямого напряжения.
- •2.12 Обратная ветвь вах реального диода.
- •2.13 Аппроксимация обратной ветви.
- •2.14 Пробой p-n перехода. Механизмы пробоя. Температурная зависимость напряжения пробоя. ( му 1973)
- •2.15 Неравновесная ширина p-n перехода. Барьерная ёмкость. Варикапы.
- •Тема 3. Полупроводниковые диоды.
- •3.1 Основные технологические операции при изготовлении полупроводниковых диодов.
- •3.2 Выпрямительные диоды. Параметры. Классификация.
- •3.3 Однополупериодные выпрямители.
2.5 Обратное смещение p-n перехода. Экстракция.
Когда внешняя ЭДС приложена плюсом к n-слою (согласно с внутренней ЭДС), высота потенциального барьера увеличивается. Напряжение такой полярности называется обратным. Неравновесная высота потенциального барьера увеличивается на величину внешнего прямого напряжения . (2.30) Больцмановское равновесие нарушается в пользу дрейфа неосновных зарядов Дрейф неосновных зарядов не скомпенсирован встречной диффузией, jдр>>jдиф. их концентрации уменьшаются. |
Уменьшение граничной концентрации неосновных зарядов при обратном включении р-n перехода по сравнению с равновесной называется экстракций.
Так как дрейфовые токи - это токи неосновных зарядов, концентрации которых на много порядков меньше концентрации основных, то и обратный ток p-n перехода очень мал. В идеализированной модели p-n перехода Iобр образуется в результате дрейфа зарядов с концентрациями pno и npo из узких слоев (шириной Lp и Ln), примыкающих к переходу. |
Граничные концентрации неосновных зарядов при обратном включении
(2.31) (2.32)
Уже при Uобр=0,2 В Uобр/Т= 200/25=8, e8 104, pn(0) np(0)0.
Избыточные концентрации неосновных зарядов
(2.33)
(2.34)
2.6 Несимметричный p-n переход. Эмиттер. База.
Несимметричные p-n переходы образуются между слоями с неравными концентрациями примеси. На рисунке изображен переход при NА>>NД. В этом случае pPO= NA* >> nno=NД* и через закон действующих масс nPO= ni2/NA* << pno= ni2/NД* 1. В соответствии с (2.16) NA*/ NД* = lon/ lop. При NА>>NД lon>> lop lo=lon+ lop lon (2.35) Несимметричный p-n переход располагается в области с меньшей концентрацией. 2. В прямом включении в соответствии с (2.26) и (2.27) pn(0)>> np(0) (2.36) - в несимметричном переходе наблюдается односторонняя инжекция – из области с большей концентрацией примеси в область с меньшей. |
Область с большей концентрацией примеси (инжектирующая в прямом включении) называется эмиттер. Область с меньшей концентрацией примеси называется база. Чтобы выделить эмиттер, применяют символ +. В рассмотренном примере p-эмиттер и n-база, т. е. p+-n переход. Если NД>> NA, то тогда n – эмиттер, а p – база, образуется p-n+ переход.
Ширина p+-n перехода
(2.37)
Распределение неосновных зарядов для p+-n перехода в прямом включении:
jp>>jn – плотность дырочного тока больше электронного, последним пренебрегат.
Распределение неосновных зарядов для p+-n перехода в обратном включении:
При обратном смещении также наблюдается резкая несимметрия тока.
2.7 Вах идеализированного p-n перехода.
Рассмотрим прямое включение p-n перехода. Основное условие при анализе – электрическое поле сосредоточено в p-n переходе, а движение зарядов в слоях подчинено диффузии.
Применяем результаты решения стационарного уравнения диффузии и зависимости избыточных концентраций неосновных (инжектированных) зарядов от напряжения (2.26), (2.27).
(2.38)
(2.39)
Структура токов:
(2.40)
(2.41)
(2.42)
(2.43)
Результирующие плотности дырочного и электронного токов определяем как суммы диффузионных и рекомбинационных составляющих:
Для определения полного плотности тока воспользуемся тем, что через переход протекают только диффузионные составляющие.
j=jpдиф(0)+ jnдиф(0)
, (2.44)
где - тепловой ток. (2.45)
В несимметричном p-n переходе диффузионный ток эмиттера доминирует.
(2.46)
|
Вах идеализированной модели (учет только токов диффузии) показана на рисунке.
При Uпр>(35)T ,
При Uобр>(35)T , I=Io f(UОБР)
|
Тепловой ток через концентрации неосновных зарядов сильно зависит от собственных концентраций, а следовательно от ширины ЗЗ и температуры (название – тепловой).
. (2.47)
Ge: ni2=1026 см6, Si: ni2=1020 см6
- отношение токов при прочих равных условиях.
Кремниевые диоды имеют в 1 млн. раз меньше тепловой ток, чем германиевые – этим объясняется их преимущество.
Типовые значения тепловых токов
Si: Io=10151012 A.
Ge: Io=109106 A.
Противоречие p-n перехода:
Для уменьшения обратного (теплового) тока I0 необходимо увеличивать высоту потенциального барьера Δφ0 или ширину запрещённой зоны Δφз – это приводит к увеличению прямого напряжения.
Для уменьшения прямого напряжения необходимо уменьшать Δφ0 и Δφз – это приводит к росту I0.
|