- •Перспективные технологии записи и хранения информации
- •Нанотехнологии в магнитной записи информации.
- •Магнито-оптические системы.
- •Системы с изменением фазового состояния носителя.
- •Модернизация планарной технологии
- •Разработка принципиально новых фундаментальных принципов и технологических решений устройств обработки и накопления информации
- •Ячейки памяти с программируемой металлизацией.
- •Углеродные нанотрубки
- •Квантовая память
- •Трехмерная голографическая память
- •Технология двухфотонной записи информации
- •Заключение.
Магнито-оптические системы.
Их принцип действия основан на магнито-оптическом эффекте Керра, заключающемся в изменении ориентации плоскости поляризации света при взаимодействии с намагниченной поверхностью. Средой, несущей информацию, является слой напыленного ферромагнетика TbFeCo толщиной около 25 нм. Поскольку он очень чувствителен к влаге, его с двух сторон защищают слоями Si3N4. За нижним из них располагают отражающий слой Al с тем, чтобы свет дважды прошел через пленку TbFeCo (рис. 2). Сигнал с фотодатчика появляется благодаря тому, что к опорному пучку, ответвленному оптическим расщепителем потока, добавляется отраженный луч с изменившейся плоскостью поляризации. Выходной сигнал через контроллер управляет подвижной оптической системой (для оптимизации взаимодействия светового потока с носителем).
Рис. 2. Поперечное сечение магнито-оптического диска и лазерная система считывания информации.
Ключевым элементом такой системы безусловно является магнитный слой, содержащий редкоземельные элементы. В описанном примере он содержит переходный металл (Fe) и редкоземельный элемент (Tb), которые образуют аморфную пленку с антиферромагнитным упорядочением магнитных моментов. В зависимости от их соотношения в сплаве и температуры в пределах одного домена может возникать дифференциальная намагниченность того или иного знака (ферримагнетизм). Разогрев некоторой области пленки сфокусированным лазерным пучком и наложение внешнего магнитного поля позволяет создать намагниченную область и «вморозить» бит информации в носитель. Разумеется, требования к материалу носителя здесь гораздо сложнее, чем при простом намагничивании записывающей магнитной головкой. Они могут обеспечиваться частичной заменой Tb другими редкоземельными элементами (Gd, Dy и др.), а Fe - другими переходными металлами (Co, Ni).
Пространственное разрешение в таком способе в принципе может значительно превышать дифракционный предел благодаря использованию только центральной части лазерного пучка и другим специальным мерам, например, использованию ближнего поля вблизи открытого конца световода малого диаметра. Первый ближнепольный оптический микроскоп (SNOM – Scanning Near Field Optical Microscope) был построен Д. Полем в 1982 г. в лабораториях IBM. В дальнейшем образовалось целое семейство сканирующих оптических микроскопов, использующих оптические волноводы и диафрагмы с поперечными размерами R много меньше длины волны падающего на них света λ. Это позволяет преодолеть дифракционный предел разрешения ~ 200 нм, присущий обычной оптической микроскопии, и достигать разрешения ~ 10 нм, а в некоторых случаях - и выше. Принцип действия SNOM заключается в использовании не распространяющихся за пределы диафрагмы мод электромагнитной волны, локализованных в области z ~ R. Т.е. свет почти не испускается такой диафрагмой, а лишь слегка «вываливается» из нее. Однако при взаимодействии с близко расположенным объектом часть энергии электромагнитного поля ближней зоны преобразовывается в обычные распространяющиеся моды, что может быть зарегистрировано чувствительным фотоприемником (рис. 3).
Зондом в SNOM обычно служит специальное оптическое волокно с коэффициентом преломления в центре большим, чем на периферии. Это приводит к полному внутреннему отражению и позволяет практически без потерь передавать электромагнитное излучение от источника света к образцу или фотоприемнику. Необходимое сужение на кончике зонда с характерными размерами в несколько десятков нм выполняют методами химического травления или вытяжки исходного оптоволокна.
Рис. 3. Основные моды ближнепольной зондовой оптической микроскопии (SNOM) на отражение. 1 – падающий пучок света, 2 – световод, 3 – отражающая стенка световода, 4 – область ближнего поля (R < λ), 5 – образец, 6 –– отраженный свет.
Как следует из названия этого вида микроскопии, образец необходимо приблизить и удерживать во время сканирования на расстоянии значительно меньше длины световой волны, т.е. порядка единиц - десятков нм. Как правило, это достигается методами AFM или родственными приемами, использующими возникновение нормальных или латеральных сил между иглой и исследуемой поверхностью, а также цепей обратной связи, с помощью которых отслеживается микрорельеф поверхности при сканировании.
Емкость серийно производимых в настоящее время магнито-оптических дисков диаметром 120 мм достигает 5 ГБ, что далеко от принципиальных пределов. С использованием SNOM технологии эту емкость можно увеличить почти на 2 порядка величины.