- •Глава 14 электронные приборы для отображения информации и фотоэлектрические приборы
- •14.1. Электронно-лучевые приборы
- •14.1.1. Классификация
- •14.1.2. Устройство и принцип действия элт с электростатическим управлением
- •14.1.3. Электронный прожектор с электростатической фокусировкой
- •14.1.4. Электронный прожектор с магнитной фокусировкой
- •14.1.5. Электростатическая отклоняющая система элт
- •14.1.6. Магнитная отклоняющая система элт
- •14.1.7. Экраны электронно-лучевых трубок
- •14.1.8. Основные типы электронно-лучевых трубок
- •14.2. Электросветовые приборы
- •14.3. Оптоэлектронные индикаторы
- •14.3.1. Классификация
- •14.3.2. Активные индикаторы
- •14.3.3. Пассивные индикаторы
- •14.4. Фотоэлектрические приборы
- •14.4.1. Электровакуумные фотоэлектрические приборы
- •14.4.2. Фотопроводимость полупроводников
- •14.4.3. Фоторезисторы
- •14.4.4. Фотодиоды
- •14.4.5. Фотоэлементы
- •14.4.6 P-I-n-фотодиоды и лавинные фотодиоды
- •14.4.7. Фототранзисторы
- •14.4.8. Полевые фототранзисторы
- •14.4.9. Фототиристоры
- •14.5. Оптопары
14.4.6 P-I-n-фотодиоды и лавинные фотодиоды
Фотодиоды – малоинерционные фотоприемники. Инерционность их зависит от емкости р-n-перехода, условий разделения электронно-дырочных пар и сопротивления нагрузки. В оптических линиях связи, системах воспроизведения звука с компакт-дисков и других устройствах требуются фотоприборы с высоким быстродействием (несколько наносекунд и менее). К фотоприборам, обладающим малой инерционностью, относятся p-i-n-фотодиоды и лавинные фотодиоды. В р-i-n-фотодиоде (рис. 14.25,a) на подложке n+ сформирован слаболегированный i-слой и слой p+ толщиной до 0,3 мкм. При подаче обратного напряжения обедненным оказывается весь i-слой. В результате емкость перехода уменьшается, расширяется область поглощения падающего излучения и повышается чувствительность прибора. Поглощаемое излучение в структуре затухает по экспоненте в зависимости от коэффициента поглощения и вызывает появление фотовозбужденных носителей. Электрическое поле обедненного слоя (напряженность поля около 103 В/см), ускоряет носители до скорости насыщения (около 107 см/с). За пределами обедненного слоя носители двигаются диффузионно с относительно низкой скоростью (примерно 104 см/с). За счет этого быстродействие несколько снижается, поэтому необходимо сконцентрировать поглощение излучения в обедненном слое, что достигается особенностями структуры р-i-n-диода (слой p+ делают очень тонким, а слой i -– больше длины поглощения излучения).
В лавинном фотодиоде (рис. 14.25,б) излучение также поглощается в обедненном слое. Эффективное лавинное размножение получается при условии, что толщина обедненной области с участком сильного электрического поля превышает длину свободного пробега носителя.
Для создания ударной ионизации фотовозбужденными носителями рядом с р-n-переходом формируют область с высокой напряженностью электрического поля (более 105 В/см), в которой происходит лавинное умножение носителей. Коэффициент умножения при напряжении, близком к напряжению пробоя, может достигать 1000. При напряжении 100... 150 В быстродействие лавинного фотодиода примерно равно 0,3 нс.
Лавинный фотодиод принципиально отличается от других способностью усиливать фототок генерируемых неравновесных носителей, поэтому он используется в фотоприемниках для обнаружения слабых оптических сигналов, сравнимых с шумами фотодиода.
14.4.7. Фототранзисторы
Биполярный фототранзистор является приемником излучения и одновременно усилителем фототока. Чувствительность фототранзистора гораздо больше, чем у фотодиода, и может достигать сотен микроампер на люмен. Световой поток, который является входным сигналом для фототранзистора, направляют на область базы через специальное окно, сделанное в корпусе транзистора. Обычно биполярный фототранзистор включают по схеме с общим эмиттером с отключенной базой и резистором в цепи коллектора (рис. 14.26,а). Вольт-амперные характеристики фототранзистора со световым потоком а качестве параметра показаны на рис. 14.26,б. В соответствии с полярностью источников Е на рис. 14.26,а транзистор работает в нормальном активном режиме, т.е. эмиттерный переход включен в прямом, а коллекторный – в обратном направлении. Под действием падающего света происходит генерация пар носителей заряда в базовой области. Электроны и дырки диффундируют к коллекторному переходу, поле которого разделяет их. Дырки идут из базы в коллектор и увеличивают ток коллектора, а электроны накапливаются в базе и компенсируют заряд неподвижных ионов примесей на границе эмиттерного перехода. Потенциальный барьер на границе перехода понижается, что приводит к увеличению инжекции носителей через эмиттерный переход. Соответственно увеличивается количество неосновных носителей, прошедших базу и втянутых полем коллекторного перехода в коллектор. Ток инжектированных носителей и соответствующий ему коллекторный ток во много раз больше, чем первоначальный фототек, образованный носителями, появившимися за счет генерации.
Из теории транзисторов известно, что коллекторный ток при = 0 (база отключена) в (+1) раз больше, чем [см. (5.18)]. В этом случае через транзистор идет сквозной коллекторный ток . Следовательно, ток фототранзистора при = 0 и обратном включении коллекторного перехода будет равен
=( + )
где – темновой ток фототранзистора; =Ф – световой ток фототранзистора; – интегральная фоточувствительность фототранзистора, которая в раз больше, чем у фотодиода, при прочих равных условиях.
Следует заметить, что у фототранзистора можно дополнительно использовать вывод базы для электрического управления фототранзистором, например для компенсации посторонних внешних воздействий.