- •Глава 14 электронные приборы для отображения информации и фотоэлектрические приборы
- •14.1. Электронно-лучевые приборы
- •14.1.1. Классификация
- •14.1.2. Устройство и принцип действия элт с электростатическим управлением
- •14.1.3. Электронный прожектор с электростатической фокусировкой
- •14.1.4. Электронный прожектор с магнитной фокусировкой
- •14.1.5. Электростатическая отклоняющая система элт
- •14.1.6. Магнитная отклоняющая система элт
- •14.1.7. Экраны электронно-лучевых трубок
- •14.1.8. Основные типы электронно-лучевых трубок
- •14.2. Электросветовые приборы
- •14.3. Оптоэлектронные индикаторы
- •14.3.1. Классификация
- •14.3.2. Активные индикаторы
- •14.3.3. Пассивные индикаторы
- •14.4. Фотоэлектрические приборы
- •14.4.1. Электровакуумные фотоэлектрические приборы
- •14.4.2. Фотопроводимость полупроводников
- •14.4.3. Фоторезисторы
- •14.4.4. Фотодиоды
- •14.4.5. Фотоэлементы
- •14.4.6 P-I-n-фотодиоды и лавинные фотодиоды
- •14.4.7. Фототранзисторы
- •14.4.8. Полевые фототранзисторы
- •14.4.9. Фототиристоры
- •14.5. Оптопары
14.4.2. Фотопроводимость полупроводников
При падении на фоточувствительную поверхность прибора оптического излучения оно частично отражается и частично поглощается поверхностью. При поглощении оптического излучения в полупроводниковом материале возникают электроны и дырки, которые создают избыточную электропроводность, называемую фотопроводимостью (внутренний фотоэффект). Степень фотопроводимости зависит от коэффициента поглощения фотонов материалом, скорости генерации носителей заряда, от квантового выхода, т.е. от числа электронно-дырочных пар, образуемых под действием одного кванта излучения.
Для полупроводниковых материалов при оценке проходящей, отраженной и поглощенной световой энергии используют ряд коэффициентов, из которых отметим коэффициент поглощения . Коэффициентявляется постоянной величиной, характеризующей уменьшение мощности излучения по координатех, направленной в глубь полупроводника нормально к его поверхности:
=(0)
где (0) – мощность излучения падающего на поверхность полупроводника. Зависимость коэффициента поглощения от длины волны излучения (частоты, энергии кванта) называютспектром поглощения. Отдельные области спектра соответствуют различным механизмам поглощения энергии излучения в полупроводниках. Существует ряд механизмов поглощения энергии, из которых наиболее значимыми являются собственное и примесное поглощения.
Фотопроводимость возникает, когда энергия фотонов превышает некоторое пороговое значение. При собственном поглощении пороговую энергию определяет ширина запрещенной зоны, а при примесном – энергия активации соответствующего уровня примесного центра.
Свойства фотоприборов описываются системой характеристик и параметров, выражающих зависимости тока или напряжения сигнала и шума на выходе от различных факторов: мощности, спектрального состава и частоты модуляции возбуждающего излучения, температуры окружающей среды, напряжения питания и т.п.
Наиболее часто используются следующие характеристики:
• спектральная характеристика чувствительности отражает реакцию прибора на воздействие излучения с различной длиной волны. Она определяет спектральную область применения прибора;
• энергетическая характеристика отражает зависимость фотоответа прибора от интенсивности возбуждающего потока излучения (ампер-ваттная, вольт-ваттная, люкс-амперная характеристики);
• пороговые характеристики показывают способность фотоприбора регистрировать излучение малой интенсивности;
• вольт-амперная характеристика отражает зависимость тока фотоприемника от приложенного к нему напряжения.
Из большого числа используемых параметров отметим следующие: темновое сопротивление – сопротивление прибора в отсутствие падающего на него излучения; –темновой ток, проходящий через прибор при указанном напряжении в отсутствие потока излучения; токовая чувствительность (А/лм или А/Вт) определяет значение фототока, создаваемого единичным потоком излучения.
Инерционность прибора характеризуют частотные характеристики, которые описывают зависимость чувствительности от частоты модуляции излучения или длительности импульсов, а также постоянные времени нарастания и спада фотоотклика при импульсном излучении.