7.4. Лабораторная работа "Анализ рядов сопротивлений и конденсаторов"

Цели работы: изучение строения, свойств и характеристик реальных радиокомпонентов; определение номинального значения резисторов и конденсаторов; расчет допуска; определение значений ряда сопротивлений и конденсаторов путем определения параметров гистограммы, описывающей исследуемую совокупность элементов.

Приборы и принадлежности: мосты для измерения параметров резисторов и конденсаторов; наборы резисторов и конденсаторов различных рядов (до 100 штук).

Измерения и обработка результатов

1. Подготовка к исследованиям.

1.1. Изучаем приборы для измерения сопротивления резисторов и емкости конденсаторов.

1.2. Определяем тип и параметры элементов резисторов и конденсаторов, рисуем строение элементов одного из приборов и его маркировку, нанесенную на его корпусе.

2. Исследование параметров резисторов.

2.1. Измеряем значения сопротивлений выборки (серии) резисторов.

2.2. Строим гистограмму выборки для серии резисторов.

2.3. Рассчитываем наиболее вероятное значение сопротивления резисторов (максимальную частоту появления в серии). Сравниваем это значение с номинальным значением, указанным на корпусе.

2.4. Рассчитываем среднее квадратическое отклонение σ по гистограмме.

2.5. Рассчитываем значение допуска, выраженное в процентах.

2.6. Определяем значение числа E для выбранного ряда резисторов.

2.7. Описываем свойства, строение, характеристики исследуемого элемента.

3. Исследование параметров конденсаторов.

3.1. Измеряем значения параметров выборки конденсаторов.

3.2. Строим гистограмму выборки для серии конденсаторов.

3.3. Рассчитываем наиболее вероятное значение сопротивления резисторов (максимальную частоту появления в серии). Сравниваем это значение с номинальным значением, указанным на корпусе.

3.4. Рассчитываем среднее квадратическое отклонение σ по гистограмме.

3.5. Рассчитываем значение допуска, выраженное в процентах.

3.6. Определяем значение числа E для выбранного ряда конденсаторов.

3.7. Описываем свойства, строение, характеристики исследуемого элемента.