- •Электропр-ть диэлек-ов
- •Поляризация диэлект-ов
- •Точечные дефекты реш-кии
- •Дефекты кристаллических решеток
- •Линейные дефеты кристалл-ой реш-кии
- •Материалы высокого удельного сопр-ия
- •Поверхн-ые дефекты кристал-ой реш-ки
- •Строение метал-их сплавов
- •Объёмные дефекты кристал-ой реш-ки (Влияние дефектов на свойства кристаллов)
- •Основы теории сплавов
- •Диаграммы состояния сплавов и закономерности Курнакова
- •Взаимосвязь особен-ей строения диэлектрика с электрофиз-ми парам-ми
- •Упругая поляризация
- •Диэлектрические потери
- •Виды поляриз-ии релаксационного типа
- •Пробой диэлектриков
- •Кристаллическая структура твердых тел
- •Элементарная решетка алмаза.
- •Элементы зонной теории твердых тел
- •Влияние структуры на удельное сопр-ие
- •Энергетические дефекты крист-ой реш-и
- •Магнитные материалы
- •Магнитомягкие материалы, предназначенные для работы в высокочастотных полях
- •Особенности поляризации в активных диэлектриках
- •Природа ферромагнетизма
- •Магнитомягкие материалы для работы в слабых полях
- •Доменная структура ферромагнетиков
- •Кривая намагничивания
- •Проводниковые материалы
- •Материалы электрических контактов
- •Цельнометаллические контакты. Цельнометал-ими явл-ся сварные или паянные соед-ия. Основ-ми материалами, образующими цельнометал-ие контакты явл-ся припои и сварочные присадки.
- •Магнитотвердые материалы
- •Промышленные магнитотвердые материалы.
Материалы высокого удельного сопр-ия
Материалы высокого электрического сопротивления используются для поглощения электрической энергии и преобразования ее в тепло. Очевидно, что к таким материалам будут предъявляться следующие требования:
1) Высокое удельное сопротивление 2) Высокая механическая прочность 3) Технологичность - то есть способность к сварке, пайке, высокая пластичность. 4) Высокая коррозионная стойкость.
5) Низкая стоимость. 6) Низкое значение термо- Э.Д.С. в паре с медью. 7)Малый температурный коэффициент сопротивления
Очевидно, что для того, чтобы материал имел высокое уделное сопрот-ие, он должен представлять собой твердый раствор одного металла в другом. Причем хотя бы один из компонентов сплава должен быть переходным металлом. Из теории сплавов известно, что неогранич-ое раств-ие одного металла в другом возможно при близости размеров ионов и одинаковом типе кристал-их реш-ток.
Константан. Твердый раствор 40% никеля в меди, точнее 40%Ni, 1,5%Mn, остальное медь. Практически при изменении темп-ры от –100С до +100С. его удел-ое сопрот-ие остается постоянным, то есть темпер-ый коэффициент сопротивления () равен 0. У сплава высокое удельное сопрот-ие (0,5 мкОмм), он пластичен и прочен. При нагреве на его поверхности обр-ся окисная пленка, обладающая изоляциоными св-ми. Оксидная изоляция позволяет плотно навивать константановую проволоку если напр-ие м/у витками не превышает 1 В. Применение константана для изготовления прецизионных резисторов ограничено высоким значением термо- Э.Д.С. в паре с медью (40 мкВ/С).
Поверхн-ые дефекты кристал-ой реш-ки
К поверх-ым дефектам реш-ки относятся дефекты упаковки и границы зерен. Для того чтобы понять появление дефектов упаковки рассмотрим к способу заполнения крист-ой реш-и в плотноупак. матер-ах.
Предп-им, что атомы предст-ют собой шары; тогда плотноуп-ую пл-ть можно создать, распол-ив атомы.
Обозначим первый слой атомов буквой А. Для создания след-ей плотноуп-ой плоск-и необходимо поместить атомы во впадины м/у атомами первого слоя. Как видно из рис, имеются два вида впадин: впадины типа В и типа С. Очевидно, что одновременно во впадины обоих типов атомы расположить невозможно.Предп-им, что второй слой атомов расположен во впадинах типа В, обозначим этот слой атомов В. Третий слой атомов можно расположить либо во впадины, совпад-ие с центрами атомов первого слоя, либо во впадины второго типа не совпадающие с атомами первого слоя. В первом случае получ-ся черед-ие слоев:
АВАВАВАВАВАВАВАВАВ...,
Во втором случае черед-ие слоев типа:
АВСАВСАВСАВСАВСАВС...,
Черед-ие слоев типа АВАВАВ типично для гексагональной плотноупак-ой реш-ки, черед-ие слоев типа АВСАВСАВС – для гранецентрированной кубической реш-ки. При нарушении черед-ия слоев внутри одной реш-ки появляется прослойка другой реш-ки:
АВСАВСАВСАВАВСАВСАВС.
При этом кристал-ая реш-ка искажается, и ее энергия возрастает.
Появл-ие дефектов упаковки связано с движением частичных дисл-ий. При появл-ии дисл-ий кристал-ая реш-ка искажается, и энергия системы на величину, пропорциональную квадрату вектора Бюргерса Е | b |2. Поэтому дисл-ии могут расщепляться на две частичные дисл-ии, bb/2 +b/2снижение энергии упругих искажений реш-ки вокруг дисл-ий | b/2 |2 + |b/2|2 |b|2. При движении обычной полной дислокации атомы последовательно ста-новятся из одного равновесного положения в другое, а при движении частич-ной дислокации атомы переходят в новые полож-ия, нетипичные для данной крист-ой реш-и.
в матер-ле появл-ся дефект упа-ковки.
Другим видом поверх-ых дефектов явл-ся границы зерен, представл-ие собой узкую переходную область м/у двумя кристалами неправильной формы. Ширина границ зерен составляет 1,5-2 меж-атомных расстояния. Поскольку на границах зерен атомы смещены из равно-весного положения, то энергия границ зерен повышена. Энергия границ зерен существенно зависит от угла разориентации кристаллических решеток сосед-них зерен. При малых углах разориентации (до 5*) энергия границ зерен практически пропорциональна углу разориентировки. Такие границы называют малоугловыми. Строение малоугловых границ можно представить как скопление решеточных дислокаций.