- •1. Единство измерений
- •2. Классификация измеряемых величин
- •3. Общность и различия архимедовых и неархимедовых величин
- •4. Неархимедовы одномерные величины
- •5. Размер и значение физической величины
- •6. Метод размерностей
- •7. Системы единиц измерения
- •8. Воспроизведение единицы времени
- •9. Определение единицы массы
- •10. Понятие шкалы измерений
- •11. Шкалы наименований
- •12. Шкалы разностей (интервалов)
- •13. Фундаментальные физические константы
- •14. Понятие точности измерений
- •15. Погрешность измерений
- •16. Фундаментальный смысл понятия неопределенности измерений применительно к квантовым объектам.
- •17. Схема процесса измерения
- •18. Систематическая и случайная погрешности
- •19. Учет влияния окружающей среды на точность измерений
- •20. Последовательная процедура сравнения измеряемого значения с мерами с учетом вероятностей ошибок сравнения
- •21.Определение средства измерений. Основные виды средств измерений.
- •22. Метрологические характеристики средств измерений.
- •23. Интерференция электромагнитных волн. Шкала электромагнитных волн.
- •24. Интерференция света. Интерферометрический способ измерения линейных размеров.
- •25. Дифрактрометрические методы измерений.
- •26. Волны де Бройля. Квантовая интерференция.
- •27. Принцип работы лазера. Применение для измерения физ. Величин.
- •28. Понятие эталона. Виды эталона.
- •29. Эталон времени, частоты и длины.
- •30. Способы перехода к новому типу эталона массы.
- •31. Квантовый эффект Холла . Использование для воспроизведения единицы электрического сопротивления.
- •32. Стационарный и нестационарный эффект Джозефсона.
- •33. Воспроизведение единицы электрического напряжения на основе эффекта Джозефсона.
- •34. Эффект Мессбауэра. Применение в спектроскопии.
- •35. Статический характер квантовых измерений.
- •36. Определение и примеры нанотехнологии
- •37. Средства измерений необходимые для нанотехнологий
- •38. Зондовые методы исследования. Туннельный эффект.
- •39. Схема действия сканирующего туннельного микроскопа.
- •40. Принцип действия атомно-силового микроскопа.
- •41. Меры устойчивости наноструктур. Связь с плотностями упаковок
- •42. Определение надежности средств измерений. Безотказность средств измерений.
- •43. Методы обеспечения надежности и качества средств измерений.
- •44. Основные причины отказов средств измерений на стадиях разработки , производства и эксплуатации.
22. Метрологические характеристики средств измерений.
Метрологическая характеристика средства измерений (метрологическая характеристика; MX) — характеристика одного из свойств, средства измерений, влияющая на результат измерений и на его погрешность.
Различают нормируемые метрологические характеристики, устанавливаемые нормативными документами на средства измерений, и действительные характеристики, определяемые экспериментально. Метрологические характеристики весьма разнообразны, они существенно различаются по значимости и информативности и существенно зависят от типа средств измерений.
Метрологические характеристики (МХ) средств измерений разделяют на следующие группы:
-номинальные характеристики, предназначенные для определения результатов измерений (без введения поправки);
-характеристики погрешностей СИ;
-характеристики чувствительности СИ к влияющим величинам, которые тоже можно отнести к характеристикам погрешностей;
-динамические характеристики СИ;
-неинформативные параметры выходного сигнала СИ.
Частные номинальные метрологические характеристики измерительного прибора включают:
-диапазон измерений — область значений величины, в пределах которой нормированы допускаемые пределы погрешности средства измерений;
-диапазон показаний — область значений шкалы прибора, ограниченная начальным и конечным значениями шкалы.
Примечание — значения величины, ограничивающие диапазон измерений снизу и сверху (слева и справа), называют соответственно нижним пределом измерений или верхними пределом измерений.
23. Интерференция электромагнитных волн. Шкала электромагнитных волн.
Интерференция волн, сложение в пространстве двух (или нескольких) волн, при котором в разных точках получается усиление или ослабление амплитуды результирующей волны.
- Интерференция характерна для всяких волн независимо от их природы: для волн на поверхности жидкости, упругих (например, звуковых) волн, электромагнитных (например, радиоволн или световых) волн.
-Интерференция волн возможна, если они когерентны.
-Интерференционная картина световых волн — это регулярное чередование областей повышенной и пониженной интенсивности света.
Колебания называются когерентными, если разность их фаз остаётся постоянной во времени и при сложении колебаний определяет амплитуду суммарного колебания. Два гармонических (синусоидальных) колебания одной частоты ω всегда когерентны. Гармоническое колебание описывается выражением: х = A cos (ωt + φ), где х — колеблющаяся величина (например, смещение маятника от положения равновесия, напряжённость электрического и магнитного полей и т.д.); А — амплитуда колебаний; ωt + φ — фаза колебаний; φ — начальная фаза.
Если в пространстве распространяются две волны, то согласно принципу суперпозиции, в каждой точке результирующее колебание представляет собой геометрическую сумму колебаний, соответствующих каждой из складывающихся волн. При сложении двух волн (гармонические колебания одинаковой частоты) при совпадении направления колебаний в складывающихся волнах амплитуда результирующей волны в какой-либо точке пространства
где A1 и A2 — амплитуды складывающихся волн, а φ — разность фаз между ними в рассматриваемой точке.
Шкала: