Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
02 ИЗУЧЕНИЕ СТРОЕНИЯ МЕТАЛЛОВ И СПЛАВОВ МЕТОДОМ...doc
Скачиваний:
13
Добавлен:
20.08.2019
Размер:
1.43 Mб
Скачать

Конструкция микроскопа мим-7 (рис. 2 б, в)

Микроскоп МИМ-7 состоит из трех основных частей: осветителя, корпуса и верхней части.

Рис.3. Микроскоп МИМ-7: а – вид со стороны трансформатора; б – вид со стороны фотокамеры; 1 – 25 – см.рис.2; 26 – плита; 27 – основание или корпус фотокамеры; 28 – фотокамера; 29 – фонарь осветителя; 30 – винты, центрирующие лампы; 31 – диск со светофильтром; 32 – рукоятка для поворота диска с тремя фотоокулярами; 33 – рукоятка для смещения и поворота диафрагмы 5; 34 – винт, фиксирующий поворот диафрагмы 5; 35 – корпус микроскопа; 36 – предметный столик; 37 – макрометрический винт для вертикального перемещения столика; 38 – стопорное устройство для макровинта; 39 – визуальный тубус; 40 – микрометрический винт; 41 – осветительный тубус; 42 – рукоятка полевой диафрагмы; 43 – механизм центровки; 44 – винты для перемещения предметного столика в двух взаимно перпендикулярных направлениях

Осветитель I имеет фонарь 1, внутри кожуха которого находится лампа. Центрировочные винты 2 служат для совмещения центpa нити лампы с оптической осью коллектора.

Корпус II микроскопа. В корпусе находится диск 3 с набором светофильтров; узел апертурой диафрагмы, укрепленный под оправой осветительной линзы 6, кольцо с накаткой 7, служащее для изменения диаметра диафрагмы.

Верхняя часть III микроскопа.

1. Иллюминаторный тубус 10, в верхней части которого расположено посадочное отверстие под объектив, на патрубке иллюминаторного тубуса расположена рамка с линзами 11 для работы в светлом и темном поле.

2. Визуальный зрительный тубус 17, в отверстие которого вставляется окуляр 18. При визуальном наблюдении тубус вдвигается до упора.

3. Предметный столик 19, который при помощи винтов 20 может передвигаться в двух взаимно перпендикулярных направлениях. В центре предметного столика имеется окно со сменной подкладкой 21.

4. Макрометрический винт 24 служит для перемещения предметного столика в вертикальном направлении и этим производится грубая наводка на фокус. Зажимным винтом 25 фиксируется определенное положение предметного столика, чтобы он не опускался самопроизвольно.

5. Микрометрический винт 26, с помощью которого иллюминаторный тубус перемещают в вертикальном направлении и наводят на фокус. Расход микрометрической подачи 3 мм. Цена деления барабана 0,003 мм.

Горизонтальные металлографические микроскопы

Микроскоп МИМ-8М (рис.4) имеет оптическую систему с увеличением от 100 до 1300 раз и возможностью фотографирования с высокой четкостью изображения. В микроскопе применяют специальные пластины, позволяющие получать фотографии микроструктур с использованием светофильтров. Структуру можно изучать в светлом и темном поле и в поляризованном свете.

Рис.4. Микроскоп МИМ-8М (центральная часть): 1 – фототубус; 2 – окуляр; 3 – рукоятка анализатора; 4 – рукоятка призмы косого освещения; 5 – объектив; 6 – винты перемещения столика; 7 – столик микроскопа; 8 – передвижная рамка с кольцевой и полевой диафрагмами; 9 – осветительный тубус; 10 – поляризатор; 11 – апертурная диафрагма; 12 – винт перемещения апертурной диафрагмы; 13 – рукоятка механизма грубой подачи; 14 – рукоятка зажимного винта; 15 – рукоятка перевода призмы визуального наблюдения для фотографирования; 16 – барабан механизма микрометренной подачи

В настоящее время в лабораториях применяют более совершенную модель микроскопа МИМ-9. В этом универсальном микроскопе можно осуществлять наблюдение микроструктуры металлов и других непрозрачных объектов и фотографировать их при прямом и косом освещении в темном поле и в поляризованном свете. Микроскоп используют для исследования структуры методами фазового контраста и интерференции, для измерений рельефа (точность 0,1 мкм) и исследования изломов (фрактография). Максимальное увеличение - 2000 раз.

Микроскоп МИМ-10 обладает всеми возможностями микроскопа МИМ-9, а также позволяет производить количественный и гранулометрический анализ с помощью полуавтоматического интеграционного устройства.

С помощью горизонтального микроскопа НЕОФОТ-30 можно изучать в отраженном свете строение любых непрозрачных объектов с увеличением до 2000 раз (рис. 5). Микроскоп снабжен устройством автоматического экспонирования при фотографировании.

Рис.5. Микроскоп НЕОФОТ-30

Метод микрорентгеноспектрального анализа

Свойства различных материалов, в том числе и металлических зависят не только от структуры, но и от однородности химического состава. Для определения химического состава на элементы от бора до урана (кроме кислорода и фтора) в микрообъемах различных объектов, как металлических, так и неметаллических, применяются микроанализаторы МАР-2 (рис.6).

Рис.6. Схема рентгеновского микроанализатора МАР-2

Основной принцип работы этого прибора заключается в том, что поток электронов, созданный электронной пушкой и имеющий определенную длину волны, взаимодействуя с микрообъемами поверхности, вызывает характеристическое рентгеновское излучение. Его длина волны свойственна только одному определенному элементу, входящему в состав того или иного участка объекта. Измеряя интенсивность характеристического излучения и сравнивая ее с интенсивностью излучения эталона можно рассчитать концентрацию этого элемента в изучаемом объекте. Результаты анализа могут регистрироваться непрерывно. Микроанализатор состоит из электронно-оптической системы, камеры образцов, рентгеновских спектрометров и системы регистрации и счета, в которую входят усилитель, амплитудный дискриминатор, пересчетный блок, высоковольтный выпрямитель, блоки питания, цифропечатающая машинка, самописец, контрольный генератор. На экране можно получать изображение сканируемого участка в рентгеновских лучах, поглощенных и отраженных электронах. Этот вид анализа используют для оценки распределения примесей и легирующих элементов в металле, что позволяет количественно оценить степень химической неоднородности. Метод применяется для количественной оценки параметров диффузионных процессов при химико-термической обработке, на основании определений распределения концентраций по глубине диффузионного слоя.