- •Лабораторная работа № 1 Изучение явления дифракции света
- •1. Цель работы
- •2. Приборы и принадлежности
- •3. Краткое теоретическое введение
- •Дифракция Фраунгофера на одной и двух узких щелях
- •4. Порядок выполнения лабораторной работы. Эксперимент. Математическая обработка результатов измерения
- •4.2 Наблюдение дифракционной картины от щели
- •4.3 Наблюдение дифракционной картины от двойной щели
- •5. Выводы
Лабораторная работа № 1 Изучение явления дифракции света
1. Цель работы
1.1. Наблюдение дифракционных картины от одной и двух щелей и круглого отверстия.
1.2. Установить влияние размера щели на дифракционную картину (при дифракции на одной щели).
1.3. Установить влияние размера щелей и расстояния между ними на дифракционную картину от двух щелей (опыт Юнга).
1.4. Установить влияние размеров круглого отверстия на вид дифракционной картины.
2. Приборы и принадлежности
2.1. Источник света – полупроводниковый лазер с длиной волны излучения λ = 650 нм.
2.2. Фотолитографический тест-объект (Т-О) с непрозрачным покрытием, на которое по трем различным окружностям нанесены:
внешняя окружность А – двойные щели;
окружность В – круглые отверстия;
окружность С –одинарные щели.
Диаметры круглых отверстий:
d1 = 30мкм;
d2 = 40мкм;
d3 = 50мкм;
d4 = 60мкм;
d5 = 70мкм;
d6 = 80мкм;
d7 = 90мкм;
d8 = 100мкм;
Тест-объект
2.3.Экран.
3. Краткое теоретическое введение
Дифракцией света принято называть отклонение света от его прямолинейного распространения и проникновение его в область геометрической тени.
При прохождении света через небольшие отверстия или узкие щели в результате дифракции на удаленном экране вместо изображения этих отверстий или щелей наблюдается чередование темных и светлых участков, соответствующих минимумам и максимумам интенсивности света. Похожие картины наблюдаются и при интерференции света.
Нахождение интенсивности света в интересующих точках пространства и является дифракционной задачей. В основе решения этой задачи лежит принцип Гюйгенса – Френеля: каждая точка волновой поверхности является источником вторичных когерентных волн.
Когерентными волнами называются волны, разность фаз которых не изменяется во времени. Волновой поверхностью называется геометрическое место точек, в которых фазы распространяющейся волны равны.
В дальнейшем этот принцип подтвердился электромагнитной теорией Максвелла.
В общем случае расчет дифракционной картины сводится к определению распределения интенсивности на экране при интерференции света от многих когерентных источников волновой поверхности, что приводит к громоздкому интегрированию.
Однако в случае симметричной задачи (прохождение света через круглое отверстие, щель, дифракционную решетку) расчет дифракции можно производить методом графического сложения (метод векторных диаграмм).
Различают два типа дифракции: дифракция света в сходящихся лучах от вторичных источников (дифракция Френеля) и дифракция света в параллельных лучах от вторичных источников (дифракция Фраунгофера).
Принципиального отличия дифракции Френеля от дифракции Фраунгофера нет.
Критерием этого отличия служит отношение ,
где d – размеры отверстия или щели;
l – расстояние от отверстия до точки наблюдения;
- длина волны падающего света.
Если , то дифракция не наблюдается (геометрическая оптика).
Если , то это дифракция Фраунгофера.
Если , то это дифракция Френеля.
Рассмотрим дифракцию света на круглом отверстии и узкой щели.
Дифракция Френеля на круглом отверстии
Пусть свет с длиной волны от точечного источника проходит через круглое отверстие малых размеров и попадает на экран.
Расстояние от точечного источника до отверстия – а, расстояние от отверстия до экрана – l, радиус отверстия - r. Величина а будет являться радиусом кривизны волнового фронта.
Вид наблюдаемой дифракционной картины будет зависеть от этих параметров.
Зафиксируем расстояния а и b, и рассмотрим, как будет меняться вид дифракционной картины с изменением радиуса отверстия r. При малых размерах r в центре картины будет наблюдаться максимум, и интенсивность света будет монотонно спадать в радиальном направлении (рис. 1). По мере увеличения радиуса отверстия интенсивность максимума будет возрастать и достигнет максимального значения при (рис. 2). При дальнейшем увеличении r интенсивность в максимуме начнет спадать, а распределение интенсивности в радиальном направлении примет вид изображенный на рис. 3. При значении интенсивность в центре картины будет минимальной (рис. 4). На рисунках 5 и 6 изображено распределение интенсивности при дальнейшем росте r. Рисунок 5 соответствует значению , рисунок 6 соответствует значению .
Радиус m-ой кольцевой зоны Френеля определяется выражением:
(1)
Если на отверстии укладывается нечетное число зон Френеля (1,3,5 и т.д.), то в центре дифракционной картины наблюдается максимум. Если на отверстии укладывается четное число зон Френеля (2,4,6 и т.д.), то в центре дифракционной картины наблюдается минимум.
рис. 1 рис. 2 рис. 3
(менее 1 зоны Френеля) (1 зона Френеля) (1,5 зоны Френеля)
рис. 4 рис. 5 рис. 6
(2 зоны Френеля) (3 зоны Френеля) (4 зоны Френеля)
Если фронт падающей волны плоский а , то радиус m-ой кольцевой зоны Френеля определяется выражением: