
- •1. Физические основы работы полупроводниковых приборов.
- •Поэтому плотность дрейфового тока
- •2. Механизм собственной электропроводности полупроводника.
- •3. Распределение электронов по энергетическим уровням.
- •4. Механизм примесной электропроводности полупроводников.
- •5. Физика явлений в p-n переходе.
- •6. Вентильные свойства p-n перехода.
- •7. Вольт - амперная характеристика р-n перехода.
- •8. Типы электрических пробоев.
- •9. Емкость р-n-перехода.
- •10. Другие типы p-n-переходов.
- •11. Контакт между полупроводниками одного типа проводимости.
- •12. Омические контакты.
- •13. Почему изменяется ширина канала в полевике от истока к стоку?
- •14. Что такое h параметры транзистора?
- •Выходные статические характеристики представляют собой зависимости:
- •18. Полевой транзистор с управляющим переходом и каналом p-типа.
- •19. Импульсные диоды.
- •20. Туннельные диоды.
- •21. Обращенный диод.
- •22. Диоды Шотки.
- •23. Варикапы.
- •24. Стабилитроны.
- •25. Стабисторы.
- •26. Выпрямительные диоды.
- •27. Система обозначения диодов.
- •30. Схема с общим коллектором.
- •Поскольку RвхБ представляет собой очень малую величину, то можно считать, что
- •31. Статические характеристики для схемы с общей базой.
- •1. Семейство входных статических характеристик представляет собой зависимость:
- •Семейство выходных статических характеристик представляет собой зависимости:
- •32. Статические характеристики для схемы с общим эмиттером.
- •1. Семейство входных статических характеристик представляет собой зависимость входного тока (Iб) от входного напряжения (Uбэ) при фиксированных значениях напряжения Uкэ:
- •В ыходные статические характеристики представляют собой зависимости:
- •33. Режим класса а.
- •34. Режим класса в.
- •35. Режим класса с.
- •36. Режим класса д.
- •37. Влияние температуры на работу транзистора.
- •38. Схема эмиттерной стабилизации.
- •39. Схема коллекторной стабилизации.
- •Полевики
- •41.Принцип работы полевого транзистора
- •42. Схемы включения полевого транзистора
- •43. Основные характеристики полевых транзисторов.
- •Эти характеристики показывают управляющее действие затвора и представляют собой зависимость тока стока в функции от напряжения на затворе (Uз) при постоянстве напряжения стока (Uc):
- •44. Основные параметры полевых транзисторов.
- •4 5. Полевые транзисторы с изолированным затвором.
- •46. Транзистор с индуцированным (инверсионным) каналом.
- •47. Тиристор
- •48, Вах тиристора
- •49. Диаграмма вольтамперной характеристики управляющей цепи
- •50. В чём заключается частичная управляемость тиристора
- •51. Основные параметры тиристоров.
- •52. Способы запирания тиристоров.
- •53. Двухоперационные тиристоры
- •54. Симисторы
- •59. Фотоэлементы.
- •60. Основные характеристики фотоэлементов.
- •61. Фотоэлектронные умножители.
- •62. Фоторезисторы.
- •63. Фотодиоды.
- •64. Основными характеристиками фотодиодов являются:
- •65. Фотодиодное включение.
- •66. Фототранзисторы
- •67. Вах фототранзистора
- •68. Фототиристоры.
- •69. Светодиоды.
- •70. Оптоэлектронные устройства.
19. Импульсные диоды.
Диоды, предназначенные для работы в импульсных режимах, называются импульсными. Импульсные режимы — это такие режимы, когда диоды переключаются с прямого напряжения на обратное через короткие промежутки времени, порядка долей микросекунды, при этом важную роль играют здесь переходные процессы.
Рассмотрим процесс переключения такого диода при воздействии на него прямоугольного импульса (рис. 19 )
ри
прямом напряжении на участке (0
t1)
происходит инжекция носителей из
эмиттерной области в базовую и их
накопление там. При смене полярности
напряжения на обратную в первый момент
величина обратного тока будет значительна,
а обратное сопротивление диода резко
уменьшится, так как накопленные в базе
неосновные носители под действием
изменившегося направления напряженности
электрического поля начнут двигаться
в сторону р-п-перехода,
образуя импульс обратного тока. По мере
перехода их в эмиттерную область, их
количество уменьшится и через некоторое
время обратный ток достигнет нормального
установившегося значения, а сопротивление
диода в обратном направлении восстановится
до нормальной величины. Процесс уменьшения
накопленного заряда в базе называется
рассасыванием,
а время, в течение которого обратный
ток изменяется от максимального значения
до установившегося называется
временем восстановления (tвос.).
Время восстановления — один из важнейших
параметров импульсных диодов. Чем он
меньше, тем диод лучше. Для улучшения
свойств импульсных диодов исходный
полупроводник выбирают с малым временем
жизни носителей заряда (для более
интенсивного процесса рекомбинации в
базе), а сам р-п
переход делают с малой площадью, чтобы
снизить величину барьерной емкости
перехода Сб.
20. Туннельные диоды.
Туннельным диодом называется полупроводниковый прибор, выполненный на основе вырожденного полупроводника с такой высокой концентрацией примесей, что уровень Ферми выходит за пределы запрещенной зоны. Р-п-переходы на базе таких материалов имеют очень малую толщину и очень высокий градиент напряженности электрического поля и в них при обратном напряжении и небольшом прямом возникает туннельный эффект, а вольт-амперная характеристика имеет участок с отрицательным сопротивлением. Работа туннельного диода иллюстрируется диаграммами на рис.20.
В равновесном состоянии системы уровень Ферми постоянен для обеих областей полупроводникового диода, поэтому другие энергетические уровни искривляются настолько сильно, что нижняя граница дна зоны проводимости области n-типа оказывается ниже верхней границы потолка валентной зоны области p-типа, и так как переход очень узкий, то носители заряда могут переходить из одной области в другую без изменения своей энергии, просачиваться сквозь потенциальный барьер (туннелировать)(Рис.20б). В состоянии равновесия потоки носителей из одной области в другую одинаковы, поэтому результирующий ток равен нулю. Под воздействием внешнего поля энергетическая диаграмма изменится. При подключении прямого напряжения уровень Ферми и положение энергетических зон сместится относительно равновесного состояния в сторону уменьшения потенциального барьера и при этом степень перекрытия между потолком валентной зоны материала p-типа и дном зоны проводимости материала n-типа уменьшится. При этом в зоне проводимости материала n-типа уровни, заполненные электронами (ниже уровня Ферми) окажутся против незаполненных уровней в валентной зоне материала p-типа, что приведет к появлению тока, обусловленного большим количеством электронов, переходящих из области п в область р. Максимальное значение этого тока будет тогда, когда уровень Ферми материала п-типа и потолок валентной зоны материала р-типа будут совпадать (рис.20 в). При дальнейшем увеличении прямого напряжения туннельное перемещение электронов из п-областей в р-область начнет убывать (рис.20 г), так как количество их уменьшается по мере уменьшения степени перекрытия между дном зоны проводимости материала п-типа и потолком валентной зоны материала р-типа. В точке, где эти уровни совпадают, прямой ток р-п-перехода достигнет минимального значения (рис.20а), а затем, когда туннельные переходы электронов станут невозможны (рис.20д), носители заряда будут преодолевать потенциальный барьер за счет диффузии и прямой ток начнет возрастать, как у обычных диодов.
П
ри
подаче на туннельный диод обратного
напряжения, потенциальный барьер
возрастает и электрическая диаграмма
будет иметь вид, показанный на (рис.20е).
Так как количество электронов с энергией
выше уровня Ферми незначительно, то
обратный ток р-п
перехода в этом случае будет возрастать
в основном за счет электронов, туннелирующих
из области р
в область
п,
причем, поскольку концентрация электронов
в глубине валентной зоны р
области велика, то даже небольшое
увеличение обратного напряжения и
связанное с этим незначительное смещение
энергетических уровней, приведет к
существенному росту обратного тока.
Рассмотренные процессы позволяют сделать вывод, что туннельные диоды одинаково хорошо проводят ток при любой полярности приложенного напряжения, т.е. они не обладают вентильными свойствами.