
- •1. Физические основы работы полупроводниковых приборов.
- •Поэтому плотность дрейфового тока
- •2. Механизм собственной электропроводности полупроводника.
- •3. Распределение электронов по энергетическим уровням.
- •4. Механизм примесной электропроводности полупроводников.
- •5. Физика явлений в p-n переходе.
- •6. Вентильные свойства p-n перехода.
- •7. Вольт - амперная характеристика р-n перехода.
- •8. Типы электрических пробоев.
- •9. Емкость р-n-перехода.
- •10. Другие типы p-n-переходов.
- •11. Контакт между полупроводниками одного типа проводимости.
- •12. Омические контакты.
- •13. Почему изменяется ширина канала в полевике от истока к стоку?
- •14. Что такое h параметры транзистора?
- •Выходные статические характеристики представляют собой зависимости:
- •18. Полевой транзистор с управляющим переходом и каналом p-типа.
- •19. Импульсные диоды.
- •20. Туннельные диоды.
- •21. Обращенный диод.
- •22. Диоды Шотки.
- •23. Варикапы.
- •24. Стабилитроны.
- •25. Стабисторы.
- •26. Выпрямительные диоды.
- •27. Система обозначения диодов.
- •30. Схема с общим коллектором.
- •Поскольку RвхБ представляет собой очень малую величину, то можно считать, что
- •31. Статические характеристики для схемы с общей базой.
- •1. Семейство входных статических характеристик представляет собой зависимость:
- •Семейство выходных статических характеристик представляет собой зависимости:
- •32. Статические характеристики для схемы с общим эмиттером.
- •1. Семейство входных статических характеристик представляет собой зависимость входного тока (Iб) от входного напряжения (Uбэ) при фиксированных значениях напряжения Uкэ:
- •В ыходные статические характеристики представляют собой зависимости:
- •33. Режим класса а.
- •34. Режим класса в.
- •35. Режим класса с.
- •36. Режим класса д.
- •37. Влияние температуры на работу транзистора.
- •38. Схема эмиттерной стабилизации.
- •39. Схема коллекторной стабилизации.
- •Полевики
- •41.Принцип работы полевого транзистора
- •42. Схемы включения полевого транзистора
- •43. Основные характеристики полевых транзисторов.
- •Эти характеристики показывают управляющее действие затвора и представляют собой зависимость тока стока в функции от напряжения на затворе (Uз) при постоянстве напряжения стока (Uc):
- •44. Основные параметры полевых транзисторов.
- •4 5. Полевые транзисторы с изолированным затвором.
- •46. Транзистор с индуцированным (инверсионным) каналом.
- •47. Тиристор
- •48, Вах тиристора
- •49. Диаграмма вольтамперной характеристики управляющей цепи
- •50. В чём заключается частичная управляемость тиристора
- •51. Основные параметры тиристоров.
- •52. Способы запирания тиристоров.
- •53. Двухоперационные тиристоры
- •54. Симисторы
- •59. Фотоэлементы.
- •60. Основные характеристики фотоэлементов.
- •61. Фотоэлектронные умножители.
- •62. Фоторезисторы.
- •63. Фотодиоды.
- •64. Основными характеристиками фотодиодов являются:
- •65. Фотодиодное включение.
- •66. Фототранзисторы
- •67. Вах фототранзистора
- •68. Фототиристоры.
- •69. Светодиоды.
- •70. Оптоэлектронные устройства.
3. Распределение электронов по энергетическим уровням.
При неизменном температурном состоянии полупроводника распределение электронов по энергетическим уровням подчиняется квантовой статистике Ферми-Дирака. С ее помощью можно определить концентрацию электронов в зоне проводимости, дырок в валентной зоне и определить зависимость удельной электропроводности полупроводника от температуры, наличия примесей и других факторов.
Вероятность заполнения электроном энергетического уровня E при температуре Т определяется функцией распределения Ферми:
,
(7)
где Т - температура в градусах Кельвина; К - постоянная Больцмана;
EF
-уровень
Ферми (средний энергетический уровень,
вероятность заполнения которого равна
0,5 при Т=0).
Соответственно функция (1-fn) определяет вероятность того, что квантовое состояние с энергией Е свободно от электрона, т.е. занято дыркой.
;
(8)
Вид этих функций представлен на рис. 4. При температуре Т= 0 К функция распределения Ферми имеет ступенчатый характер. Это означает, что при Т = 0 К все энергетические уровни, находящиеся выше уровня Ферми, свободны.
При Т > 0 К увеличивается вероятность заполнения электроном энергетического уровня, расположенного ниже уровня Ферми. Поэтому ступенчатый характер функции распределения сменяется более плавным в сравнительно узкой области энергий, близких к ЕF .
4. Механизм примесной электропроводности полупроводников.
Э
лектропроводность
полупроводника может обусловливаться
не только генерацией пар носителей
«электрон-дырка» вследствие какого-либо
энергетического воздействия, но и
введением в структуру полупроводника
определенных примесей. Так, рассмотрим
монокристалл полупроводника, например,
того же кремния, в кристаллическую
решетку которого введено некоторое
количество атомов примеси, например,
мышьяка (As) , находящегося в V группе
периодической системы элементов
Менделеева. Атом примеси располагается
в узле кристаллической решетки, а его
валентные электроны устанавливают
прочные ковалентные связи с соседними
атомами полупроводника (Рис.5). Но
поскольку у атома мышьяка на наружной
электронной оболочке находятся пять
валентных электронов, то четыре из них
устанавливают ковалентные связи с
четырьмя соседними атомами кремния,
подобно существующим связям в основных
атомах кристаллической решетки, а пятый
валентный электрон такой связи установить
не может, так как в атомах кремния все
свободные связи (уровни) уже заполнены,
Поэтому связь с ядром этого пятого
электрона атома примеси в 2
раз слабее по сравнению с другими
электронами, где
– диэлектрическая проницаемость среды,
в которой находится атом примеси. Под
действием теплового колебания атомов
кристаллической решетки связь этого
электрона с атомом легко разрушается
и он переходит в зону проводимости,
становясь при этом свободным носителем
электрического заряда.
Атом же примеси, потеряв один электрон, становится положительно заряженным ионом с единичным положительным зарядом , но он остается в узле кристаллической решетки и в отличие от «дырки» , тоже имеющей единичный положительный заряд, он не может перемещаться внутри кристалла, так как связан с соседними атомами полупроводника межатомными связями, и может лишь совершать колебательные движения около положения равновесия в узле кристаллической решетки. При этом электрическая нейтральность кристалла полупроводника не нарушается, так как заряд каждого электрона, перешедшего в зону проводимости, уравновешивается положительно заряженным ионом примеси. Таким образом, полупроводник приобретает свойство примесной электропроводности, обусловленной наличием свободных электронов в зоне проводимости. Этот вид электропроводности называется электронной и обозначается буквой n (негативная, отрицательная проводимость), а полупроводники с таким типом проводимости называется полупроводниками n-типа. Примесь, обуславливающая электронный тип электропроводности полупроводника, называется донорной. В отличие от идеальных, чистых полупроводников диаграмма распределения электронов по энергетическим уровням в полупроводниках n-типа изменяется (рис.6). Уровень Ферми в этом случае будет смещаться вверх, к границе зоны проводимости Eп , так как малейшее приращение энергии электрона проводит к переходу его в зону проводимости.
Если
в ту же кристаллическую решетку
полупроводника кремния ввести атомы
примеси с валентностью меньшей, чем
валентность основного полупроводника,
например, индия (In), принадлежащего к Ш
группе периодической системы элементов
Менделеева, и следовательно, имеющего
на наружной электронной оболочке три
валентных электрона, то эти три валентных
электрона устанавливают прочные
ковалентные связи с тремя соседними
атомами кремния из четырех рис.7. Одна
из связей остается не заполненной из-за
отсутствия необходимого электрона у
атома примеси. Поэтому заполнение этой
свободной связи может произойти за счет
электрона, перешедшего к атому примеси
от соседнего атома основного полупроводника
при нарушении какой-либо связи. При этом
атом примеси, приобретая лишний
электрон, становится отрицательно
заряженным ионом, а дырка, образовавшаяся
в атоме основного полупроводника, имея
единичный положительный заряд, может
перемещаться от одного атома полупроводника
к другому внутри кристалла, участвуя в
тепловом движении; взаимодействуя с
электрическими и магнитными полями, а
также под действием градиента концентрации.
Такой тип проводимости называется
дырочным и обозначается буквой Р
(позитивный, положительный тип
проводимости), а полупроводник
называется полупроводником р-типа.
Примесь, обуславливающая этот тип проводимости полупроводника, называется акцепторной.