
- •1. Физические основы работы полупроводниковых приборов.
- •Поэтому плотность дрейфового тока
- •2. Механизм собственной электропроводности полупроводника.
- •3. Распределение электронов по энергетическим уровням.
- •4. Механизм примесной электропроводности полупроводников.
- •5. Физика явлений в p-n переходе.
- •6. Вентильные свойства p-n перехода.
- •7. Вольт - амперная характеристика р-n перехода.
- •8. Типы электрических пробоев.
- •9. Емкость р-n-перехода.
- •10. Другие типы p-n-переходов.
- •11. Контакт между полупроводниками одного типа проводимости.
- •12. Омические контакты.
- •13. Почему изменяется ширина канала в полевике от истока к стоку?
- •14. Что такое h параметры транзистора?
- •Выходные статические характеристики представляют собой зависимости:
- •18. Полевой транзистор с управляющим переходом и каналом p-типа.
- •19. Импульсные диоды.
- •20. Туннельные диоды.
- •21. Обращенный диод.
- •22. Диоды Шотки.
- •23. Варикапы.
- •24. Стабилитроны.
- •25. Стабисторы.
- •26. Выпрямительные диоды.
- •27. Система обозначения диодов.
- •30. Схема с общим коллектором.
- •Поскольку RвхБ представляет собой очень малую величину, то можно считать, что
- •31. Статические характеристики для схемы с общей базой.
- •1. Семейство входных статических характеристик представляет собой зависимость:
- •Семейство выходных статических характеристик представляет собой зависимости:
- •32. Статические характеристики для схемы с общим эмиттером.
- •1. Семейство входных статических характеристик представляет собой зависимость входного тока (Iб) от входного напряжения (Uбэ) при фиксированных значениях напряжения Uкэ:
- •В ыходные статические характеристики представляют собой зависимости:
- •33. Режим класса а.
- •34. Режим класса в.
- •35. Режим класса с.
- •36. Режим класса д.
- •37. Влияние температуры на работу транзистора.
- •38. Схема эмиттерной стабилизации.
- •39. Схема коллекторной стабилизации.
- •Полевики
- •41.Принцип работы полевого транзистора
- •42. Схемы включения полевого транзистора
- •43. Основные характеристики полевых транзисторов.
- •Эти характеристики показывают управляющее действие затвора и представляют собой зависимость тока стока в функции от напряжения на затворе (Uз) при постоянстве напряжения стока (Uc):
- •44. Основные параметры полевых транзисторов.
- •4 5. Полевые транзисторы с изолированным затвором.
- •46. Транзистор с индуцированным (инверсионным) каналом.
- •47. Тиристор
- •48, Вах тиристора
- •49. Диаграмма вольтамперной характеристики управляющей цепи
- •50. В чём заключается частичная управляемость тиристора
- •51. Основные параметры тиристоров.
- •52. Способы запирания тиристоров.
- •53. Двухоперационные тиристоры
- •54. Симисторы
- •59. Фотоэлементы.
- •60. Основные характеристики фотоэлементов.
- •61. Фотоэлектронные умножители.
- •62. Фоторезисторы.
- •63. Фотодиоды.
- •64. Основными характеристиками фотодиодов являются:
- •65. Фотодиодное включение.
- •66. Фототранзисторы
- •67. Вах фототранзистора
- •68. Фототиристоры.
- •69. Светодиоды.
- •70. Оптоэлектронные устройства.
21. Обращенный диод.
Рис.22
бращенный
диод представляет собой
разновидность туннельного диода у
которого концентрация примесей подобрана
таким образом, что в уравновешенном
состоянии при отсутствии внешнего
напряжения потолок валентной зоны
материала р-типа
совпадает с дном зоны проводимости
материала п-типа
(рис.21). В
этом случае туннельный эффект будет
иметь место только при малых значениях
обратного напряжения и вольт-амперная
характеристика такого прибора будет
аналогична обратной ветви вольт-амперной
характеристики
туннельного диода (рис.22). При прямом
напряжении на р-п-переходе
прямой ток связан с диффузией носителей
через понизившийся потенциальный барьер
и вольт-амперная характеристика его
аналогична прямой ветви вольт-амперной
характеристики обыкновенного диода
(рис22).
Таким образом, этот диод оказывает малое сопротивление току, проходящему в обратном направлении и сравнительно высокое прямому току. Поэтому используются они тогда, когда необходимо выпрямлять очень слабые электрические сигналы величиной в малые доли вольта. При этом включается он в обратном направлении, что предопределило и название такого диода.
22. Диоды Шотки.
Потенциальный барьер, полученный на основе контакта “металл — полупроводник” часто называют барьером Шотки, а диоды, использующие такой потенциальный барьер, — диодами Шотки. В контакте металл — полупроводник не происходит накопления неосновных носителей в базе из-за отсутствия инжекции неосновных носителей, вследствие чего значительно уменьшается время восстановления, что в сочетании с малой величиной барьерной емкости создает идеальные условия для использования таких диодов в импульсных и высокочастотных устройствах..
23. Варикапы.
Варикапами называют полупроводниковые диоды, в которых используется свойство р-п-перехода изменять величину барьерной емкости под действием приложенного обратного напряжения. Тоесть, варикап можно рассматривать как конденсатор, емкость которого можно регулировать при помощи электрического сигнала.
24. Стабилитроны.
Стабилитронами называют полупроводниковые диоды, использующие особенность обратной ветви вольтамперной характеристики на участке пробоя изменяться в широком диапазоне изменения токов при сравнительно небольшом отклонении напряжения. Это свойство широко используется при создании специальных устройств — стабилизаторов напряжения.
Рис.23
Низковольтные стабилитроны выполняют на основе сильно легированного кремния. Ширина р-п-перехода в этом случае получается очень маленькой, а напряженность электрического поля потенциального барьера — очень большой, что создает условия для возникновения туннельного пробоя. При большой ширине р-п-перехода пробой носит лавинный характер.
Вольт-амперная характеристика стабилитрона представлена на рис.23.
Рабочий ток стабилитрона (его обратный ток) не должен превышать максимально допустимого значения Imax во избежание перегрева полупроводниковой структуры и выхода его из строя.
Существенной особенностью стабилитрона является зависимость его напряжения стабилизации от температуры. В сильно легированных полупроводниках вероятность туннельного пробоя с увеличением температуры возрастает. Поэтому напряжение стабилизации у таких стабилитронов при нагревании уменьшается, т.е. они имеют отрицательный температурный коэффициент напряжения стабилизации (ТКН)
(18)
В слабо легированных полупроводниках при увеличении температуры уменьшается длина свободного пробега носителей, что приводит к увеличению порогового значения напряжения, при котором начинается лавинный пробой. Такие стабилитроны имеют положительный ТКН. (рис.24).
Рис.24.
U