- •Лабораторная работа 1 температурная зависимость проводимости полупроводниковых материалов
- •1.1 Основные понятия и определения
- •1.2. Описание образцов, использованных в работе
- •1.3. Описание установки
- •1.4. Проведение испытаний
- •1.5. Обработка результатов.
- •1.6. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 2 исследование полупроводниковых выпрямительных диодов
- •2.1. Основные понятия и определения
- •2.2. Описание установки
- •2.3. Проведение исследований
- •2.3.1. Исследование прямой ветви вольт-амперной характеристики
- •2.3.2. Исследование обратной ветви вольт-амперной характеристики
- •2.3.3. Исследование частотных свойств выпрямительного диода
- •2.3.4 Исследование вольт-амперной характеристики диодов при повышенной температуре
- •2.4. Обработка результатов
- •2.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 3 исследование статических характеристик и параметров биполярного транзистора
- •3.1. Основные понятия и определения
- •3.2. Исследование статических характеристик биполярного транзистора методом характериографа
- •3.2.1. Описание установки
- •3.2.2. Исследование статических характеристик транзистора
- •3.2.3. Исследование статических коэффициентов передачи тока транзистора
- •3.2.4. Измерение обратного тока коллектора
- •3.2.5. Исследование пробивного напряжения транзистора
- •3.3. Обработка результатов и расчет параметров
- •3.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 4 исследование статических характеристик и параметров полевых транзисторов
- •4.1. Основные понятия и определения
- •4.2. Описание установки
- •4.3. Проведение измерений
- •4.4. Обработка результатов и расчет параметров
- •4.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 5 исследование биполярного транзистора при работе на малом переменном сигнале
- •5.1. Основные понятия и определения
- •5.2. Описание установки
- •5.3. Проведение испытаний
- •5.3.1. Исследование h-параметров транзистора в схеме с общей базой
- •5.3.2. Исследование h-параметров транзистора в схеме с общим эмиттером
- •5.3.3. Исследование частотных зависимостей коэффициентов передачи токов эмиттера и базы
- •5.4. Обработка результатов
- •5.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 6 исследование импульсных свойств биполярного транзистора
- •6.1. Основные понятия и определения
- •6.2. Схема установки
- •6.3. Проведение испытаний
- •6.3.1. Подготовка к испытаниям
- •6.3.2. Исследование зависимости времени нарастания и времени рассасывания от напряжения источника питания в цепи коллектора
- •6.3.3. Исследование зависимости времени нарастания и времени рассасывания от амплитуды импульса тока эмиттера
- •6.4. Обработка результатов
- •6.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 7 исследование интегральных микросхем
- •7.1. Основные понятия и определения
- •7.2. Описание установки
- •7.3. Проведение испытаний
- •7.3.1. Определение логических операций, выполняемых полупроводниковой микросхемой
- •7.3.2. Исследование входной и прямой передаточной характеристик логической полупроводниковой микросхемы
- •7.3.3. Определение мощности, потребляемой логической полупроводниковой микросхемой
- •7.3.4. Изучение конструкции гибридной имс
- •7.4. Обработка результатов и расчет параметров
- •7.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 8 исследование полупроводниковых источников излучения
- •8.1. Основные понятия и определения
- •8.2. Описание установки
- •8.3 Проведение измерений
- •8.3.1. Исследование спектральных характеристик сид
- •8.3.2. Исследование яркостных и вольт-амперных характеристик сид
- •8.3.3. Исследование яркостной характеристики ил
- •8.3.4. Исследование спектральных характеристики ил
- •8.4. Обработка результатов
- •9.1. Основные понятия и определения
- •9.2. Описание установки
- •9.3. Проведение испытаний
- •9.3.1. Исследование спектральной характеристики фд
- •9.3.2. Исследование световых характеристик фд
- •9.4. Обработка результатов
- •9.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 10 исследование полупроводниковых стабилитронов и стабистора
- •10.1. Основные понятия и определения
- •10.2. Установка для исследований
- •10.3. Порядок проведения исследований
- •10.3.1. Исследование вах стабилитрона
- •10.3.2. Исследование параметров стабилитронов
- •10.3.3. Исследование параметрического стабилизатора напряжения
- •10.4. Обработка экспериментальных результатов и расчет параметров
- •10.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 11 исследование тиристора
- •11.1. Основные понятия и определения
- •11.2. Описание установки
- •11.3. Проведение исследований
- •11.3.1. Исследование вольт-амперной характеристики тиристора
- •11.3.2. Измерение параметров тиристора
- •11.3.3. Исследование зависимости напряжения включения тиристора от тока управляющего электрода
- •11.3.4. Исследование параметров тиристора при повышенной температуре
- •11.3.5. Исследование регулятора мощности
- •11.4. Обработка результатов
- •11.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 12 исследование туннельных диодов
- •12.1. Основные понятия и определения
- •12.2. Описание установок для проведения исследований
- •12.2.1. Схема для исследования вольт-амперной характеристики тд
- •12.2.2. Схема для изучения эффекта дискретно-аналоговой памяти
- •12.2.3. Схема для исследования эффектов усиления и генерации электрических сигналов
- •12.3. Порядок проведения исследований
- •12.3.1. Исследование вольт-амперной характеристики
- •12.3.2. Исследование функции дискретно-аналоговой памяти
- •12.3.3. Изучение эффекта усиления
- •12.3.4. Изучение эффекта генерации
- •12.4. Обработка результатов
- •12.5. Контрольные вопросы
- •Список рекомендованной литературы
- •Содержание
5.3.3. Исследование частотных зависимостей коэффициентов передачи токов эмиттера и базы
Зависимости h21б и h21э от частоты (1, 3, 10, 30, 100, 150, 180, 200 кГц) исследуют при соответствующих положениях переключателей S1 и S2 (см. 5.3.1 и 5.3.2) и постоянных смещениях, указанных в табл. 5.3.
В процессе всех измерений напряжение на генераторе переменного тока UG необходимо поддерживать постоянным и равным 1 В, что необходимо контролировать при перестройке частоты генератора. Результаты измерений занести в табл. 5.3.
Таблица 5.3
|
h21б при IЭ = 1 мА |
h21э при IБ = 0,1 мА |
||||||||||
f, |
UКБ = 5 В |
UКБ = 10 В |
UКЭ = 5 В |
UКЭ = 10 В |
||||||||
кГц |
, мВ |
Iк, мкА |
h21б |
, мВ |
Iк, мкА |
h21б |
, мВ |
Iк, мкА |
h21э |
, мВ |
Iк, мкА |
h21э |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
5.4. Обработка результатов
1. По данным табл. 5.1 (при Uкб = 0) определить переменные токи эмиттера Iэ и коллектора Iк, используя выражения (5.1) и (5.2). Вычислить параметры h11б и h21б. Результаты занести в таблицу.
2. По данным табл. 5.1 (при Iэ = 0) определить переменный ток коллектора из формулы (5.3), приняв R2 = 1 кОм. Вычислить параметры h12б и h22б. Результаты занести в таблицу.
3. По данным табл. 5.2 (при Uкэ = 0) определить переменные токи базы Iб и коллектора Iк, используя выражения (5.1) и (5.2). Вычислить параметры h11э и h21э. Результаты занести в таблицу.
4. По данным табл. 5.2 (при Iб = 0) определить переменный ток коллектора из формулы (5.3), приняв R2 = 200 Ом. Вычислить параметры h21э и h22э. Результаты занести в таблицу.
5. По данным табл. 5.3 определить переменный ток коллектора и вычислить параметры h21б и h21э, как указано в п. 1 и 3. Результаты занести в таблицу.
6. По данным табл. 5.3 построить частотные зависимости коэффициентов передачи токов эмиттера и базы. Определить предельные частоты коэффициентов передачи тока эмиттера и базы.
5.5. Контрольные вопросы
1. В чем преимущества h-параметров по сравнению с z- и y-параметрами при описании свойств биполярных транзисторов?
2. Как в данной работе реализуют холостой ход во входной цепи и короткое замыкание в выходной цепи по переменному току?
3. Как связаны между собой коэффициенты передачи токов эмиттера h21б и базы h21э биполярного транзистора?
4. Какие физические факторы влияют на частотные свойства биполярного транзистора?
5. Сравните и объясните частотные зависимости h21б и h21э.
Лабораторная работа 6 исследование импульсных свойств биполярного транзистора
6.1. Основные понятия и определения
Биполярный транзистор при работе в импульсном режиме обычно выполняет функцию электронного ключа. Транзисторный ключ (рис. 6.1, а) имеет два устойчивых состояния: разомкнутое (транзистор находится в режиме отсечки – эмиттерный и коллекторный переходы смещены в обратном направлении) и замкнутое (транзистор находится в режиме насыщения – эмиттерный и коллекторный переходы смещены в прямом направлении). При работе транзистора в качестве ключа необходимо, чтобы выходное сопротивление транзистора резко изменялось под влиянием входного управляющего импульса. Для этого амплитуда импульса должна быть достаточной для перевода транзистора из режима отсечки в активный режим и далее в режим насыщения.
|
|
Рис 6.1. Транзисторный ключ: а – схема; временные зависимости: б – тока эмиттера; в – тока коллектора |
Временные зависимости тока эмиттера и тока коллектора при работе транзистора в качестве ключа в схеме с ОБ показаны на рис. 6.1, б и в.
В исходном состоянии транзистор находится в режиме отсечки. После начала пропускания через эмиттер импульса тока в прямом направлении ток коллектора появляется не сразу из-за конечного времени пролета носителей заряда через базу и из-за наличия емкостей переходов. Интервал времени между моментом подачи на вход транзистора управляющего импульса и моментом достижения выходным током значения, соответствующего 0,1 его амплитуды, называют временем задержки tз.
Поскольку транзистор работает в активном режиме, растет инжекционная составляющая тока эмиттера, возрастает, соответственно, и ток коллектора. При этом в базе транзистора накапливаются неосновные носителей заряда. С увеличением тока коллектора обратное напряжение на коллекторном переходе уменьшается вследствие увеличения падения напряжения на сопротивлении нагрузки в цепи коллектора. Экстракция из базы неосновных носителей заряда ограничивается, что приводит к росту их граничной концентрации около коллекторного перехода. Когда эта граничная концентрация неосновных носителей заряда превысит значение равновесной концентрации носителей заряда, транзистор перейдет из активного режима в режим насыщения. При этом устанавливается ток коллектора (его называют током насыщения), значение которого определяется в основном параметрами выходной цепи: . Интервал времени, в течение которого ток коллектора нарастает от 0,1 до 0,9 его амплитуды, называют временем нарастания tн.
В момент изменения направления тока эмиттера ток коллектора скачкообразно уменьшается вследствие изменения полярности падения напряжения на объемном сопротивлении базы. Одновременно начинается процесс рассасывания неосновных носителей заряда, накопленных в транзисторе. Ток эмиттера и ток коллектора остаются практически неизменными до тех пор, пока граничные концентрации неосновных носителей заряда в базе у переходов не уменьшатся до равновесного значения. При этом транзистор выйдет из режима насыщения. Интервал времени между моментом подачи на вход транзистора запирающего импульса и моментом, когда ток коллектора достигает заданного значения (например, 0,9 Iк. нас), называют временем рассасывания tрас.
В дальнейшем, поскольку процесс рассасывания неосновных носителей заряда из базы продолжается и снижается абсолютное значение градиентов концентрации неосновных носителей заряда около соответствующих переходов, токи эмиттера и коллектора уменьшаются со временем. Интервал времени между моментом спада выходного тока от значения, соответствующего 0,9 его амплитуды, до значения, соответствующего 0,1 его амплитуды, называют временем спада tсп.
В настоящей работе снимаются осциллограммы токов эмиттера и коллектора при работе транзистора в качестве ключа и исследуются зависимости временных параметров от режима его работы.