![](/user_photo/_userpic.png)
- •Лабораторная работа 1 температурная зависимость проводимости полупроводниковых материалов
- •1.1 Основные понятия и определения
- •1.2. Описание образцов, использованных в работе
- •1.3. Описание установки
- •1.4. Проведение испытаний
- •1.5. Обработка результатов.
- •1.6. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 2 исследование полупроводниковых выпрямительных диодов
- •2.1. Основные понятия и определения
- •2.2. Описание установки
- •2.3. Проведение исследований
- •2.3.1. Исследование прямой ветви вольт-амперной характеристики
- •2.3.2. Исследование обратной ветви вольт-амперной характеристики
- •2.3.3. Исследование частотных свойств выпрямительного диода
- •2.3.4 Исследование вольт-амперной характеристики диодов при повышенной температуре
- •2.4. Обработка результатов
- •2.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 3 исследование статических характеристик и параметров биполярного транзистора
- •3.1. Основные понятия и определения
- •3.2. Исследование статических характеристик биполярного транзистора методом характериографа
- •3.2.1. Описание установки
- •3.2.2. Исследование статических характеристик транзистора
- •3.2.3. Исследование статических коэффициентов передачи тока транзистора
- •3.2.4. Измерение обратного тока коллектора
- •3.2.5. Исследование пробивного напряжения транзистора
- •3.3. Обработка результатов и расчет параметров
- •3.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 4 исследование статических характеристик и параметров полевых транзисторов
- •4.1. Основные понятия и определения
- •4.2. Описание установки
- •4.3. Проведение измерений
- •4.4. Обработка результатов и расчет параметров
- •4.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 5 исследование биполярного транзистора при работе на малом переменном сигнале
- •5.1. Основные понятия и определения
- •5.2. Описание установки
- •5.3. Проведение испытаний
- •5.3.1. Исследование h-параметров транзистора в схеме с общей базой
- •5.3.2. Исследование h-параметров транзистора в схеме с общим эмиттером
- •5.3.3. Исследование частотных зависимостей коэффициентов передачи токов эмиттера и базы
- •5.4. Обработка результатов
- •5.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 6 исследование импульсных свойств биполярного транзистора
- •6.1. Основные понятия и определения
- •6.2. Схема установки
- •6.3. Проведение испытаний
- •6.3.1. Подготовка к испытаниям
- •6.3.2. Исследование зависимости времени нарастания и времени рассасывания от напряжения источника питания в цепи коллектора
- •6.3.3. Исследование зависимости времени нарастания и времени рассасывания от амплитуды импульса тока эмиттера
- •6.4. Обработка результатов
- •6.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 7 исследование интегральных микросхем
- •7.1. Основные понятия и определения
- •7.2. Описание установки
- •7.3. Проведение испытаний
- •7.3.1. Определение логических операций, выполняемых полупроводниковой микросхемой
- •7.3.2. Исследование входной и прямой передаточной характеристик логической полупроводниковой микросхемы
- •7.3.3. Определение мощности, потребляемой логической полупроводниковой микросхемой
- •7.3.4. Изучение конструкции гибридной имс
- •7.4. Обработка результатов и расчет параметров
- •7.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 8 исследование полупроводниковых источников излучения
- •8.1. Основные понятия и определения
- •8.2. Описание установки
- •8.3 Проведение измерений
- •8.3.1. Исследование спектральных характеристик сид
- •8.3.2. Исследование яркостных и вольт-амперных характеристик сид
- •8.3.3. Исследование яркостной характеристики ил
- •8.3.4. Исследование спектральных характеристики ил
- •8.4. Обработка результатов
- •9.1. Основные понятия и определения
- •9.2. Описание установки
- •9.3. Проведение испытаний
- •9.3.1. Исследование спектральной характеристики фд
- •9.3.2. Исследование световых характеристик фд
- •9.4. Обработка результатов
- •9.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 10 исследование полупроводниковых стабилитронов и стабистора
- •10.1. Основные понятия и определения
- •10.2. Установка для исследований
- •10.3. Порядок проведения исследований
- •10.3.1. Исследование вах стабилитрона
- •10.3.2. Исследование параметров стабилитронов
- •10.3.3. Исследование параметрического стабилизатора напряжения
- •10.4. Обработка экспериментальных результатов и расчет параметров
- •10.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 11 исследование тиристора
- •11.1. Основные понятия и определения
- •11.2. Описание установки
- •11.3. Проведение исследований
- •11.3.1. Исследование вольт-амперной характеристики тиристора
- •11.3.2. Измерение параметров тиристора
- •11.3.3. Исследование зависимости напряжения включения тиристора от тока управляющего электрода
- •11.3.4. Исследование параметров тиристора при повышенной температуре
- •11.3.5. Исследование регулятора мощности
- •11.4. Обработка результатов
- •11.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 12 исследование туннельных диодов
- •12.1. Основные понятия и определения
- •12.2. Описание установок для проведения исследований
- •12.2.1. Схема для исследования вольт-амперной характеристики тд
- •12.2.2. Схема для изучения эффекта дискретно-аналоговой памяти
- •12.2.3. Схема для исследования эффектов усиления и генерации электрических сигналов
- •12.3. Порядок проведения исследований
- •12.3.1. Исследование вольт-амперной характеристики
- •12.3.2. Исследование функции дискретно-аналоговой памяти
- •12.3.3. Изучение эффекта усиления
- •12.3.4. Изучение эффекта генерации
- •12.4. Обработка результатов
- •12.5. Контрольные вопросы
- •Список рекомендованной литературы
- •Содержание
4.5. Контрольные вопросы
1. Объясните конструктивные особенности и принцип действия МДП-тран-зистора с индуцированным каналом и полевого транзистора с управляющим p-n-переходом.
2. Объясните выходные статические характеристики различных типов полевых транзисторов.
3. Объясните статические характеристики передачи различных типов полевых транзисторов.
4. Что такое пороговое напряжение?
5. Что такое напряжение насыщения?
6. Что такое напряжение отсечки?
Лабораторная работа 5 исследование биполярного транзистора при работе на малом переменном сигнале
5.1. Основные понятия и определения
Биполярный транзистор при работе в активном режиме, когда к эмиттерному и коллекторному переходам приложены сравнительно большие постоянные напряжения и одновременно действуют малые переменные сигналы, обычно выполняет функцию усилителя электрической мощности. Под малыми понимают такие переменные сигналы, при которых связь между входными и выходными переменными токами и напряжениями является линейной. В этом случае биполярный транзистор можно описать системами малосигнальных параметров, из которых чаще всего используют систему h-параметров.
В системе h-параметров уравнения четырехполюсника, эквивалентного транзистору, записываются в следующих видах:
– для схемы с общей базой:
– для схемы с общим эмиттером:
Для определения h-параметров необходимы режим короткого замыкания в выходной цепи и режим холостого хода во входной цепи по переменному току. Физический смысл h-параметров довольно прост. Например, для схемы с ОБ:
– входное сопротивление при коротком замыкании выходной цепи
;
– коэффициент обратной связи по напряжению при холостом ходе во входной цепи
;
– коэффициент передачи тока эмиттера при коротком замыкании выходной цепи
;
– выходная проводимость при холостом ходе во входной цепи
.
5.2. Описание установки
Схема установки для исследования h-параметров транзистора представлена на рис. 5.1. Постоянные смещения (постоянный ток эмиттера или базы и постоянное напряжение на коллекторе) задают генераторами постоянного тока G1 и постоянного напряжения G2 и измеряют миллиамперметром PA и вольтметром PU2.
|
Рис. 5.1. Схема для исследования h-параметров транзистора |
Для
определения параметров h11
и h21
необходимо обеспечить режим короткого
замыкания выходной коллекторной цепи
по переменному току. Это достигается
за счет того, что полное сопротивление
цепи R2,
R3
и генератора G2
значительно меньше выходного сопротивления
транзистора. Падение напряжения
на резисторе R2,
сопротивление которого при данном
режиме измерений составляет 200 Ом,
преобразуется повторителем напряжения
A1
в напряжение, измеряемое относительно
общей точки вольтметром PU1.
Это позволяет определить переменный
ток в цепи коллектора:
. (5.1)
Для определения параметров h12 и h22 необходимо задать режим холостого хода во входной цепи по переменному току. Это обеспечивается высоким внутренним сопротивлением генератора постоянного тока G1 и подключением генератора переменного напряжения G3 через разделительный конденсатор C1 и резистор R1, сопротивление которого значительно больше входного сопротивления транзистора. Практически все напряжение, измеряемое на генераторе переменного напряжения G3, падает на сопротивлении резистора R1, равном 20 кОм. Поэтому, измерив вольтметром PU1 ЭДС генератора UG, можно определить переменный ток во входной цепи транзистора:
или
.
(5.2)
В
случае определения параметра h22б
для увеличения чувствительности
измерительной установки производится
коммутация сопротивления резистора
R2,
значение которого в этом режиме составляет
1 кОм. С помощью кнопки S4
отключается или подключается коллекторная
цепь транзистора. При этом снимают
показания вольтметра PU1
при нажатой и отпущенной кнопке S4.
Найдя разность этих показаний
,
можно определить переменный ток
коллектора:
. (5.3)