2.3. Описание установки для измерения постоянной Холла.

Б лок-схема установки для измерения постоянной Холла приведена на рис.3.

Рис.3. Блок-схема установки для измерения постоянной Холла.

Установка состоит из электромагнита 1 с блоком питания 2 и токовым ключом 3, измерительной головки 4 с закрепленным образцом, источника продольного тока 5 и ключа 6, измерителем продольного тока через образец 7 и микровольтметра8, измеряющего напряжение Холла. Ключи 3 и 6 позволяют менять направления магнитного поля и продольного тока через образец. Кроме того, ручками регулировки блоков 1 и 5 можно устанавливать различное значение приложенного магнитного поля и продольного тока.

Перед включением установки необходимо убедится, что ручки регулировки величины магнитного поля и продольного тока находятся в крайне левом положении, а у микровольтметра выбран самый грубый предел измерения.

Порядок включения и работы установки:

А) Включить блок питания электромагнита, источник тока через образец, микровольтметр,

Б) Установить предел измерения микровольтметра 10-100мв,

В) Ручками “Грубо” и “Точно” блока питания 5 выставить необходимую величину продольного тока через образец,

Г) Установить токовыми ключами 2 и 6 необходимые направления магнитного поля и тока через образец.

Д) Ручками “Грубо” и “Точно” блока 2 выставить необходимую величину магнитного поля (значения величины магнитного поля для устанавливаемого тока взять из калибровочной таблицы, приведенной в конце описания работы). Записать показания микровольтметра.

Е) Ручками “Грубо” и “Точно” блока 2 снизить величину магнитного поля до нуля !!!

Ж) Повторить пункты В, Г, Д и Е, меняя направления тока и магнитного поля,

З) Провести обработку полученных результатов, используя формулы (45) и (42).

Провести измерения постоянной Холла для различных по величине значений продольного тока и магнитного поля.

Контрольные вопросы:

1. Причины возникновения эффекта Холла. Его знак в случае электронного и дырочного типа проводимости.

2. Связь постоянной Холла с основными параметрами носителей заряда в п/п.

3. Механизмы возникновения основных мешающих источников ЭДС. Способы уменьшения их влияния на результаты измерения постоянной Холла.

Литература

1. Кучис Е. В.. Методы исследования эффекта Холла. М. Советское радио, 1974.

2. Павлов Л.П. Методы определения основных параметров полупроводни­ковых материалов. М.: Высшая школа, 1975.

3. Фистуль В. И.. Введение в физику полупроводников. М. Высшая школа, 1984.