- •В.Н. Горбунова
- •Дубна, 2010
- •Введение
- •Содержание и оформление курсового проекта Задание на курсовой проект
- •Варианты заданий
- •Содержание расчетно-пояснительной записки.
- •Теоретические основы выполнения курсового проекта.
- •Диффузионное легирование
- •Законы диффузии
- •Диффузия из постоянного и ограниченного источников.
- •Методы расчетов диффузионных структур
- •Формирование структур методом ионной имплантации
- •Понятие о технологии ионного легирования
- •. Длина пробега ионов
- •Факторы, влияющие на процесс ионного легирования
- •Рабочая камера установки ионной имплантации.
- •Пример выполнения курсового проекта Введение
- •Исходные данные
- •Профиль распределения концентрации примесей в отдельных областях структуры
- •Глубины залегания коллекторного и эмиттерного переходов
- •График зависимости предельной растворимости примесей в кремнии.
- •Максимальная растворимость некоторых примесей в кремнии.
- •Расчет технологических параметров для метода диффузии
- •Часть вторая Метод ионной имплантации
- •Расчет профилей распределения концентрации внедренных примесей в структурах с двойной имплантацией
- •Расчет технологических параметров для метода ионной имплантации
- •Заключение
- •Список используемой литературы
- •Контрольные вопросы и задания
- •Задачи к защите курсового проекта
- •Список литературы
- •В.Н.Горбунова Физико-химические основы технологии рэсрэс
- •117105, Москва, варшавское шоссе, 8
Содержание и оформление курсового проекта Задание на курсовой проект
Студент выполняет одно из двух представленных заданий на курсовой проект. Каждое задание состоит из десяти вариантов. Номер задания и его вариант определяется преподавателем.
Задание 1
I.Представить расчет распределения примесей в кремнии при диффузионном легировании.
1. Рассчитать и построить распределение заданной примеси в кремнии при одностадийной диффузии из источника бесконечной мощности.
2. Рассчитать и построить распределение примеси при двухстадийной диффузии той же примеси в кремнии для получения p-n перехода.
3. Расcчитать глубину залегания p-n перехода.
II. Рассчитать характеристики замедления ионов при имплантации, параметры распределения заданной примеси в кремнии используя симметричное распределение Гаусса.
1. Расcчитать глубину залегания p-n переходов.
2. Представить профиль распределения концентрации примесей.
3. Рассчитать средний полный пробег ионов заданной примеси (R),
средний нормальный пробег (Rp) и среднеквадратичное отклонение пробега ( ΔRp).
Задание 2
I Представить расчет режимов технологического процесса формирования биполярной структуры, полагая, что локальное легирование производиться методом диффузии.
1. Представить профиль распределения концентрации примесей в отдельных областях структуры.
2. Построить профиль суммарного распределения примесей эмиттера и базы.
3. Расcчитать глубины залегания коллекторного и эмиттерного переходов.
II. Представить расчет режимов технологического процесса формирования биполярной структуры полагая, что локальное легирование производиться методом ионной имплантации.
1. Расcчитать глубины залегания коллекторного и эмиттерного переходов.
2. Представить профиль распределения концентрации примесей в отдельных областях структуры.
3. Построить профиль суммарного распределения примесей эмиттера и базы.
Варианты заданий
Таблица 1- Исходные данные
|
Вариант |
|
Эмиттер |
|
|
База |
|
|
Коллектор |
|
|
Примесь |
ТДИФ, 0С |
t мин |
Примесь |
N см -2 |
ТДИФ, 0С |
t час |
Cв, см -3 |
|
1 |
As |
1150 |
10 |
B |
5ּ10 14 |
1250 |
1 |
1,5ּ10 16 |
|
2 |
B |
1200 |
20 |
As |
10 14 |
1300 |
2 |
10 15 |
|
3 |
P |
1150 |
20 |
B |
5ּ10 15 |
1200 |
2 |
10 15 |
|
4 |
B |
1200 |
20 |
P |
10 12 |
1300 |
2 |
10 16 |
|
5 |
Sb |
1300 |
10 |
B |
5ּ10 15 |
1200 |
1,5 |
10 17 |
|
6 |
B |
1200 |
10 |
Sb |
10 13 |
1300 |
1,5 |
10 16 |
|
7 |
As |
1150 |
15 |
Ga |
5ּ10 12 |
1250 |
1,5 |
10 15 |
|
8 |
P |
1050 |
10 |
Ga |
10 12 |
1150 |
1 |
10 15 |
|
9 |
As |
1150 |
15 |
B |
5ּ10 14 |
1250 |
2 |
10 15 |
|
10 |
P |
1050 |
10 |
B |
5ּ10 15 |
1150 |
1 |
10 16 |
|
11 |
B |
1000 |
20 |
As |
5ּ10 13 |
1100 |
2 |
1.5 ּ 10 15 |
|
12 |
Al |
1150 |
15 |
Bi |
5ּ10 13 |
1250 |
2 |
10 16 |
|
13 |
Bi |
1300 |
20 |
In |
5ּ10 13 |
1400 |
3 |
10 14 |
|
14 |
Sb |
1300 |
20 |
Al |
5ּ10 14 |
1400 |
3 |
10 15 |
|
15 |
As |
1150 |
10 |
B |
5ּ10 15 |
1250 |
1 |
10 17 |
Таблица 2- Исходные данные
|
Вариант |
Эмиттер |
|
|
База |
Коллектор |
||||||
|
|
Примесь |
E кэВ |
N, см -2 |
Примесь |
E кэВ |
N, см -2 |
Cв, см -3 |
||||
|
1 |
11B+ |
40 |
10 15 |
31P+ |
200 |
5ּ10 13 |
10 16 |
||||
|
2 |
31P+ |
100 |
10 14 |
11B+ |
80 |
10 12 |
10 15 |
||||
|
3 |
75As+ |
180 |
10 16 |
11B+ |
140 |
10 14 |
10 17 |
||||
|
4 |
11B+ |
20 |
10 15 |
14N+ |
100 |
10 13 |
10 16 |
||||
|
5 |
31P+ |
40 |
10 14 |
27Al+ |
120 |
5ּ10 12 |
10 15 |
||||
|
6 |
75As+ |
60 |
10 15 |
70Ga+ |
200 |
5ּ10 13 |
10 16 |
||||
|
7 |
115In+ |
40 |
10 16 |
122Sb+ |
200 |
10 14 |
10 17 |
||||
|
8 |
27Al+ |
60 |
10 15 |
11B+ |
100 |
5ּ10 13 |
10 16 |
||||
|
9 |
11B+ |
20 |
10 15 |
31P+ |
160 |
10 13 |
10 15 |
||||
|
10 |
122Sb+ |
160 |
10 14 |
11B+ |
80 |
5ּ10 12 |
10 15 |
||||
|
11 |
75As+ |
140 |
10 16 |
11B+ |
80 |
10 14 |
10 17 |
||||
|
12 |
14N+ |
40 |
10 15 |
27Al+ |
140 |
5ּ10 13 |
10 16 |
||||
|
13 |
14N+ |
60 |
10 16 |
11B+ |
80 |
10 14 |
10 16 |
||||
|
14 |
70Ga+ |
160 |
10 15 |
14N+ |
100 |
5ּ10 13 |
10 16 |
||||
|
15 |
122Sb+ |
180 |
10 14 |
27Al+ |
140 |
5ּ10 12 |
10 15 |
||||
Срок сдачи законченной работы руководителю - декабрь 201 г.
Преподаватель........................................Горбунова В.Н.
