- •214013 Г. Смоленск, Энергетический проезд, 1
- •Изучение принципов построения микроскопа и его применение
- •2. Описание лабораторной установки
- •3. Задание
- •4. Методические указания к работе
- •Юстировка и применение автоколлиматора
- •2. Описание установки
- •3. Задание
- •4. Методические указания к работе
- •Изучение устройства и юстировка гониометра
- •2. Описание установки
- •3. Задание
- •4. Методические указания к работе
- •Расчет сферической линзы на эвм
- •2. Описание функциональной модели линзы
- •3. Задание
- •4. Методические указания к работе
- •5. Контрольные вопросы
- •Литература
- •Образцы таблиц для записи результатов вычислений
- •Электронная аппаратура и методы измерения
- •2. Описание установки
- •3. Задание
- •4. Методические указания по работе
- •Градуировка спектрального прибора по длинам волн
- •2. Описание установки
- •3. Задание
- •4. Методические указания по работе
- •Измерение яркости экрана электронно-оптического преобразователя
- •2. Описание установки
- •3. Задание
- •4. Методические указания по работе
- •Градуировка люксметра
- •2. Описание установки
- •3. Задание
- •4. Методические указания по работе
- •Содержание
3. Задание
Перед выполнением каждого пункта задания ознакомиться с методическими указаниями по работе
-
Ознакомиться с лабораторной установкой.
-
Провести юстировку измерительной системы.
-
Отградуировать по всей шкале фотоэлектрический люксметр по образцовой лампе силы света.
-
Построить градуировочный график E = f(n), где п — показания по шкале прибора.
-
Сделать выводы по работе и оформить отчёт.
4. Методические указания по работе
1. Юстировка заключается в выставлении источника излучения и измерительной головки люксметра на одну оптическую ось. Она осуществляется перемещением компонентов в поперечной плоскости по высоте и ширине, а также по углу.
2. Градуировка осуществляется в условиях затемнения. Свет от источников подсветки не должен падать на приёмную поверхность люксметра.
3. Образцовая лампа силы света должна быть включена строго на напряжение, указанное на установке.
4. Отсчёт расстояния l производится как разность показаний рейтеров, на которых установлены источник и измерительная головка. Освещённость определяется по формуле (8.2).
5. График E = f(n) должен содержать не менее десяти точек. В области сильного изменения освещённости измерения проводить более подробно.
Контрольные вопросы
-
Как градуируют люксметры?
-
Как можно определить освещённость?
-
В чём отличие освещённости и облучённости?
-
Что такое актиничность и относительная актиничность?
-
Как осуществляется измерение освещённости при наклонном падении света?
-
Что такое эталонный источник и какие они бывают?
-
Единицы измерения световых и энергетических величин.
Литература
-
Гуревич, М. М. Фотометрия (теория, методы и приборы) [Текст] / М. М. Гуревич. - Л.: Энергоатомиздат, 1983.
-
Эпштейн, М.И. Измерения оптического излучения в электронике [Текст] / М.И. Эпштейн. -М.: Энергоатомиздат, - 1990. С. 176-179; 191-193.
Содержание
Общие методические указания по подготовке, выполнению и оформлению лабораторных работ |
3 |
Лабораторная работа № 1 Изучение принципов построения микроскопа и его применение |
5 |
Лабораторная работа № 2 Юстировка и применение автоколлиматора |
11 |
Лабораторная работа № 3 Изучение устройства и юстировка гониометра |
15 |
Лабораторная работа № 4 Расчет сферической линзы на ЭВМ |
19 |
Лабораторная работа № 5 Электронная аппаратура и методы измерения |
23 |
Лабораторная работа № 6 Градуировка спектрального прибора по длинам волн |
28 |
Лабораторная работа № 7 Измерение яркости экрана электронно-оптического преобразователя |
32 |
Лабораторная работа № 8 Градуировка люксметра |
37 |