- •214013 Г. Смоленск, Энергетический проезд, 1
 - •Изучение принципов построения микроскопа и его применение
 - •2. Описание лабораторной установки
 - •3. Задание
 - •4. Методические указания к работе
 - •Юстировка и применение автоколлиматора
 - •2. Описание установки
 - •3. Задание
 - •4. Методические указания к работе
 - •Изучение устройства и юстировка гониометра
 - •2. Описание установки
 - •3. Задание
 - •4. Методические указания к работе
 - •Расчет сферической линзы на эвм
 - •2. Описание функциональной модели линзы
 - •3. Задание
 - •4. Методические указания к работе
 - •5. Контрольные вопросы
 - •Литература
 - •Образцы таблиц для записи результатов вычислений
 - •Электронная аппаратура и методы измерения
 - •2. Описание установки
 - •3. Задание
 - •4. Методические указания по работе
 - •Градуировка спектрального прибора по длинам волн
 - •2. Описание установки
 - •3. Задание
 - •4. Методические указания по работе
 - •Измерение яркости экрана электронно-оптического преобразователя
 - •2. Описание установки
 - •3. Задание
 - •4. Методические указания по работе
 - •Градуировка люксметра
 - •2. Описание установки
 - •3. Задание
 - •4. Методические указания по работе
 - •Содержание
 
3. Задание
Перед выполнением каждого пункта задания ознакомиться с методическими указаниями по работе
- 
Ознакомиться с лабораторной установкой.
 - 
Провести юстировку измерительной системы.
 - 
Отградуировать по всей шкале фотоэлектрический люксметр по образцовой лампе силы света.
 - 
Построить градуировочный график E = f(n), где п — показания по шкале прибора.
 - 
Сделать выводы по работе и оформить отчёт.
 
4. Методические указания по работе
1. Юстировка заключается в выставлении источника излучения и измерительной головки люксметра на одну оптическую ось. Она осуществляется перемещением компонентов в поперечной плоскости по высоте и ширине, а также по углу.
2. Градуировка осуществляется в условиях затемнения. Свет от источников подсветки не должен падать на приёмную поверхность люксметра.
3. Образцовая лампа силы света должна быть включена строго на напряжение, указанное на установке.
4. Отсчёт расстояния l производится как разность показаний рейтеров, на которых установлены источник и измерительная головка. Освещённость определяется по формуле (8.2).
5. График E = f(n) должен содержать не менее десяти точек. В области сильного изменения освещённости измерения проводить более подробно.
Контрольные вопросы
- 
Как градуируют люксметры?
 - 
Как можно определить освещённость?
 - 
В чём отличие освещённости и облучённости?
 - 
Что такое актиничность и относительная актиничность?
 - 
Как осуществляется измерение освещённости при наклонном падении света?
 - 
Что такое эталонный источник и какие они бывают?
 - 
Единицы измерения световых и энергетических величин.
 
Литература
- 
Гуревич, М. М. Фотометрия (теория, методы и приборы) [Текст] / М. М. Гуревич. - Л.: Энергоатомиздат, 1983.
 - 
Эпштейн, М.И. Измерения оптического излучения в электронике [Текст] / М.И. Эпштейн. -М.: Энергоатомиздат, - 1990. С. 176-179; 191-193.
 
Содержание
| 
			 Общие методические указания по подготовке, выполнению и оформлению лабораторных работ  | 
		
			 
 3  | 
	
| 
			 Лабораторная работа № 1 Изучение принципов построения микроскопа и его применение  | 
		
			 
 5  | 
	
| 
			 Лабораторная работа № 2 Юстировка и применение автоколлиматора  | 
		
			 
 11  | 
	
| 
			 Лабораторная работа № 3 Изучение устройства и юстировка гониометра  | 
		
			 
 15  | 
	
| 
			 Лабораторная работа № 4 Расчет сферической линзы на ЭВМ  | 
		
			 
 19  | 
	
| 
			 Лабораторная работа № 5 Электронная аппаратура и методы измерения  | 
		
			 
 23  | 
	
| 
			 Лабораторная работа № 6 Градуировка спектрального прибора по длинам волн  | 
		
			 
 28  | 
	
| 
			 Лабораторная работа № 7 Измерение яркости экрана электронно-оптического преобразователя  | 
		
			 
 32  | 
	
| 
			 Лабораторная работа № 8 Градуировка люксметра  | 
		
			 
 37  | 
	
	
		 
		
