Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
ст38.doc
Скачиваний:
22
Добавлен:
10.11.2018
Размер:
386.56 Кб
Скачать

28. Типовые элементы мдп – логики. Статические характеристики.

Наиболее широкое применение находят элементы на n- канальных МДП транзисторах, которое обеспечивает более высокое быстродействием и по своим логическим уровнем и порогам совместимы с элементами ТТЛ. Типовые схема элемента ИЛИ-НЕ на МДП – транзисторах с n – каналом приведена на рис. 1.32.

а) б)

Рис. 1.32

Статические характеристики.

Передаточные характеристики элемента МДП ТЛ показаны на рис. 1.33. При низком потенциале на всех входах Uвх = U0 < U0, где U0- пороговое напряжение транзистора VT1, эти транзисторы закрыты, их токи стока Iс1=0. Так как в схеме не течет ток, на выходе устанавливается высокий потенциал U1. При увеличении напряжения на М входах транзистора VT1 отпирается, когда Uвх достигает порогового значения U0 и начинает течь ток стока Iс1. При дальнейшем возрастании Uвх ток Iс1 увеличивается и напряжение Uвых уменьшается. Чтобы, обеспечить достаточно малые значения Uвых = U0, рабочая точка VTI при Uвх = U1 должна находится на крутой области вольтамперные характеристики (рис.1.33,б). Для этого необходимо, чтобы ток Iс0 транзистора VT0, был меньше суммы токов насыщения Iсн1 открытых управляющих транзисторов:

а) б)

Рис.1.33

Величина Uвых равна остаточному напряжению Uост1 на МДП – транзисторе VTI (рис.1.33,б), Uвых = Uост1 .

Низкий потенциал Uвых = U0 устанавливается на выходе схемы при Uвх Umin1 . Помехоустойчивость элемента определяется значением порогового напряжения U0. Низко пороговые МДП – транзисторы имеют U0 ~ 1,5-2,0 В. В этом случае при Е = 5 В величины Un+ ~ Un- = 1-2 В, т.е. несколько превышает помехоустойчивость элементов ТТЛ, ДТЛ. В высоко пороговых транзисторах величина U0 достигает 5-8 В. Поэтому при использовании этих транзисторов значительно возрастают Un+, Un- . Ток питания схемы при Uвых = U0 равен In0 = Iсо = 0,5 в0 (Е – U0),2 где в0 – относительная крутизна транзистора VT0. Рекомендуемое значение Е ~ 3U0, так как при этом помехоустойчивость имеет достаточно высокое значение Un- ~ Un+ ~ U0. Для элементов на низко пороговых МДП – транзисторах обычно Е = 5-9 В, на высоко пороговых Е = 12,6-27 В.

29. Типовые элементы кмдп логики. Динамические характеристики.

При поступлении на входы положительного перепада потенциала управляющие транзисторы VT1 открывается, когда потенциал Uвх превышает значение Vn = U0. Начинается разрез общей паразитной емкости Cn на выходе схемы током этих транзисторов. При снижении потенциала Uвых до значения Uвых U0 рабочая точка транзисторов VT1 оказывается в крутой области их характеристик и на выходе устанавливается уровень Uвых = U0 . При поступлении на входы схемы отрицательного перепада транзисторы VT1 запираются и емкость Cn заряжается током Iсо транзисторы VT0, работающие в области характеристик. Потенциал Uвых возрастает.

Время нарастания tn выходного потенциала до переключения определяется при Uвх (tn) = Vn ~ U0 . Время спада tc и нарастания tn выходного потенциала в схемах МДП равен задержкам переключения tз0,1 и Iз1,0 . При использовании низко пороговых МДП – транзистроров элементы МДП ТЛ имеют значения уровней U0, U1 и порога Vn почти такие же, как элементы ТТЛ, что позволяет совместно использовать их в цифровой аппаратуре. Быстродействие элементов МДП ТЛ при повышенной емкости нагрузки (Cu > 10 пФ) в несколько раз ниже, чем для элементов ТТЛ.