Лабораторная работа №8. Интерпретация результатов полевых наблюдений при электропрофилировании по методу эп-сг.

Цель: Приобретение навыков интерпретации результатов электропрофилирования по методу ЭП-СГ.

Оборудование: миллиметровая бумага, карандаш, калькулятор.

Порядок выполнения работы:

1. Изучить теоретические основы

2. Построить карты графиков ЭП-СГ.

3. Составить технико-экономическое обоснование.

4. Ответить на контрольные вопросы.

Оформление работы:

После выполнения работы составляется отчет, в котором приводятся:

1. Тема работы

2. Цель работы

3. Порядок выполнения работы.

4. Визуализация результатов работы на бумаге.

5. Технико-экономическое обоснование.

6. Ответы на контрольные вопросы.

Профилирование с неподвижными питающими заземлениями (съемка срединных градиентов).

При электропрофилировании на участках со сложным геоэлектрическим разрезом условия заземления питающих электродов могут оказать существенное влияние на форму графика ρк и сильно исказить его. Так, если в процессе перемещения четырехточечной установки по профилю между одним из питающих заземлений и приемным заземлениями окажется плохо проводящая кварцевая жила или дайка, то она экранирующим образом повлияет на распределение тока в Земле. Электрический ток будет обтекать плохо проводящую жилу, и поэтому в области между приемными заземлениями плотность тока окажется уменьшенной. Понижение плотности тока, в свою очередь, приведет к уменьшению разности потенциалов между заземлениями, следовательно, к понижению величины кажущегося сопротивления.

При дальнейшем перемещении по профилю заземление А перейдет через жилу и окажется по одну сторону от нее с приемными заземлениями. В этом положении установки электрический ток будет «отжиматься» жилой в сторону приемной цепи. Увеличение плотности тока между приемными заземлениями в данном случае приведет к увеличению ρк. Таким образом, переход питающего заземления через плохо проводящее тело отметится на графике электропрофилирование двумя экстремумами - максимумом и минимумом кажущегося сопротивления. Такими же экстремумами будет отмечен на графике переход через жилу второго питающего заземления. Наличие на графике нескольких экстремумов, связанных с экранными эффектами у заземления, значительно осложнит вид графика и затруднит его интерпретацию.

Для уменьшения искажающегося влияния неоднородной среды вблизи заземления применяют модификацию электропрофилирования с неподвижными питающими заземлениями - съемку срединных градиентов. При профилировании с установкой срединных градиентов рис. 16. питающие заземления остаются фиксированными, а приемные перемещают вдоль профилей, параллельных линии АВ и расположенных в пределах средней части линии АВ. Длина каждого профиля не должна превышать 1/3 расстояния между питающими заземлениями. В связи с неизменным положением питающих заземлений экранные эффекты, обусловленные ими, остаются постоянными, поэтому графики менее изрезаны чем графики симметричного электропрофилирования. Установка для съемки срединных градиентов используется для выявления плохопроводящих крутозалегающих объектов и при детальном картировании.

Рисунок 16

Технически количественная интерпретация сводится к решению обратной задачи путем сравнения практических графиков с теоретичес-

кими, полученными путем расчетов, например, с использованием формул или палеток, построенных на основании расчетов.

Следует иметь в виду то, что в большинстве случаев реально изученные разрезы значительно сложнее тех, для которых получены теоретические графики и палетки, поэтому результаты интепретации обычно следует рассматривать как оценочные и только в самых простых простых геоэлектрических условиях – как строго количественная.

Палетка МСГ построена в билогарифмическом масштабе с модулем 6.25, предназначенная для интерпретации аномалии ρ_к , вызванных вертикально залегающими бесконечными по простиранию и на глубину. Каждая кривая палетки представляет из себя графическую зависимость А/А_max=f(x/H₁) для постоянных значений b/H₁=0, 0.2, 1, 2, 3, 5, 7, 10, 15, 20, 30, 50. Расчет производился с учетом, что A/A_max= ρ_к/ ρ_к(max). По следующей формуле: A/A_max=φ/φ_max=(arctg (b/H₁+x/H₁)-arctg(x/H₁-b/H₁))/2arctg b/H₁,где A – численные значения ρ_к в любой произвольной точке аномального участка соответствующей кривой, A_max - максимальное значение ρ_кa в эпицентре аномального участка кривой, 2b – горизантальная мощность пласта, x – расстояние от эпицентра аномалии до точки наблюдения, H₁ - глубина залегания верхней грани пласта, φ и φ_max - углы, под которыми верхняя грань пласта просматривается из произвольной точки профиля и из эпицентра аномалии.

Профилирование с неподвижными питающими заземлениями можно проводить как на постоянном, так и на низкочастотном переменном токе с аппаратурой ИКС.