19.6. Дифракционная решетка. Дифракционный спектр

Д

Рис. 19.12

ифракционная решетка— оптическое устройство, представляющее собой совокупность большого числа параллельных, обычно равноотстоящих друг от друга, щелей.

Дифракционную решетку можно получить нанесением непрозрачных царапин (штрихов) на стеклянную пластину. Непроцарапанные места — щели — будут пропускать свет; штрихи, соответствующие промежутку между щелями, рассеивают и не пропускают света. Сечение такой дифракционной решетки (а) и ее условное обозначение (б) показаны на рис. 19.12. Суммарную ширину щели а и промежутка б между щелями называют постоянной или периодом дифракционной решетки:

с = а + б. (19.28)

Если на решетку падает пучок когерентных волн, то вторичные волны, идущие по всевозможным направлениям, будут интерферировать, формируя дифракционную картину.

П

Рис. 19.13

усть на решетку нормально падает плоскопараллельный пучок когерентных волн (рис. 19.13). Выберем некоторое направление вторичных волн под угломотносительно нормали к решетке. Лучи, идущие от крайних точек двух соседних щелей, имеют разность хода=А'В'. Такая же разность хода будет для вторич­ных волн, идущих от соответственно расположенных пар точек соседних щелей. Если эта разность хода кратна целому числу длин волн, то при интерференции возникнутглавные максиму мы, для которых выполняется условиеА'В= ± k, или

с sin  = ± k, (19.29)

где k = 0,1,2,... — порядок главных максимумов. Они расположены симметрично относительно центрального (k = 0,  = 0). Равенство (19.29) является основной формулой дифракционной решетки.

Между главными максимумами образуются минимумы (добавочные), число которых зависит от числа всех щелей решетки. Выведем условие для добавочных минимумов. Пусть разность хода вторичных волн, идущих под угломот соответственных тoчек соседних щелей, равна /N, т. е.

 = с sin = /N, (19.30)

где N — число щелей дифракционной решетки. Этой разности хода 5 [см. (19.9)] отвечает разность фаз = 2/N.

Если считать, что вторичная волна от первой щели имеет в момент сложения с другими волнами нулевую фазу, то фаза волны от второй щели равна 2/N, от третьей — 4/N, от четвертой — 6/N и т. д. Результат сложения этих волн с учетом фазового различия удобно получить с помощью векторной диаграммы: суммаN одинаковых векторов напряженности электрического поля, угол (разность фаз) между любыми соседними из которых есть 2/N, равна нулю. Это означает, что условие (19.30) соответствует •минимуму. При разности хода вторичных волн от соседних щелей = 2(/N) или разности фаз  = 2(2/N) будет также получен минимум интерференции вторичных волн, идущих от всех щелей, и т. д.

В качестве иллюстрации на рис. 19.14 изображена векторная диаграмма, соответствующая дифракционной решетке, состоящей из шести щелей: и т. д. — векторы напряженности электрической составляющей электромагнитных волн от первой, второй и т. д. щелей. Возникающие при интерференции пять добавочных минимумов (сумма векторов равна нулю) наблюдаются при разности фаз волн, приходящих от соседних щелей, в 60° (а), 120°(б), 180° (в), 240° (г) и 300°(д).

Рис. 19.14

Так, можно убедиться, что между центральным и каждым первым главным максимумами имеется N  1 добавочных минимумов, удовлетворяющих условию

с sin  = ± /N; 2/N, ..., ±(N  1)/N. (19.31)

Между первым и вторым главными максимумами также расположены N  1 добавочных минимумов, удовлетворяющих условию

с sin  = ± (N + 1)/N, ±(N + 2)/N, ..., (2N  1)/N, (19.32)

и т. д. Итак, между любыми двумя соседними главными максимумами наблюдается N  1 добавочных минимумов.

При большом количестве щелей отдельные добавочные минимумы практически не различаются, а все пространство между главными максимумами выглядит темным. Чем большечисло щелей дифракционной решетки, тем более резки главные максимумы. На рис. 19.15 представлены фотографии дифракционной картины, полученной от решеток с разным числом N щелей (постоянная дифракционной решетки одинакова), а на рис. 19.16 — график распределения интенсивности.

Особо отметим роль минимумов от одной щели. В направлении, отвечающем условию (19.27), каждая щель дает минимум, поэтому минимум от одной щели сохранится и для всей решетки. Если для некоторого направления одновременно выполняются условия минимума для щели (19.27) и главного максимума решетки (19.29), то соответствующий главный максимум не возникнет.Обычно стараются использовать главные максимумы, которые размещаются между первыми минимумами от одной щели, т. е. в интервале

arcsin (/a) >  > - arcsin (/a) (19.33)

При падении на дифракционную решетку белого или иного немонохроматического света каждый главный максимум, кроме центрального, окажется разложенным в спектр [см. (19.29)]. В этом случае k указывает порядок спектра.

Таким образом, решетка является спектральным прибором, поэтому для нее существенны характеристики, которые позволяют оценивать возможность различения (разрешения) спектральных линий.

Одна из таких характеристик — угловая дисперсия — определяет угловую ширину спектра. Она численно равна угловому расстоянию d между двумя линиями спектра, длины волн которых различаются на единицу (d. = 1):

D = d/ d.

Дифференцируя (19.29) и используя только положительные значения величин, получаем

с cos  d = ..k d.

Из последних двух равенств имеем

D = ..k /(c cos ). (19.34)

Так как обычно используют небольшие углы дифракции, то cos   1. Угловая дисперсия D тем выше, чем больше порядок k спектра и чем меньше постоянная с дифракционной решетки.

Возможность различать близкие спектральные линии зависит не только от ширины спектра, или угловой дисперсии, но и от ширины спектральных линий, которые могут накладываться друг на друга.

Принято считать, что если между двумя дифракционными максимумами одинаковой интенсивности находится область, где суммарная интенсивность составляет 80% от максимальной, то спектральные линии, которым соответствуют эти максимумы, уже разрешаются. При этом, согласно Дж. У. Рэлею, максимум одной линии совпадает с ближайшим минимумом другой, что и считается критерием разрешения. На рис. 19.17 изображены зависимости интенсивности I отдельных линий от длины волны (сплошная кривая) и их суммарная интенсивность (штриховая кривая). Из рисунков легко увидеть неразрешенность двух линий (а) и предельную разрешенность (б), когда максимум одной линии совпадает с ближайшим минимумом другой.

Разрешение спектральных линий количественно оценивается разрешающей способностью, равной отношению длины волны к наименьшему интервалу длин волн, которые еще могут быть разрешены:

R = ./ .. (19.35)

Так, если имеются две близкие линии с длинами волн ₁  ₂ ,  = ₁  ₂, то(19.35) можно приближенно записать в виде

R = ₁/(₁  ₂), или R = ₂(₁  ₂) (19.36)

Условие главного максимума для первой волны

с sin  = k ₁.

С ним совпадает ближайший минимум для второй волны, условие которого

с sin  = k₂+ ₂/N.

Приравнивая правые части последних двух равенств, имеем

k₁ = k₂+ ₂/N, k(₁  ₂) = ₂/N,

откуда [с учетом (19.36)]

R = k N .

Итак, разрешающая способность дифракционной решетки тем больше, чем больше порядок k спектра и число N штрихов.

Рассмотрим пример. В спектре, полученном от дифракционной решетки с числом щелей N = 10 000, имеются две линии вблизи длины волны  = 600 нм. При какой наименьшей разности длин волн  эти линии различаются в спектре третьего порядка (k = 3)?

Для ответа на этот вопрос приравняем (19.35) и (19.37), / = kN, откуда  = /(kN). Подставляя числовые значения в эту формулу, находим  = 600 нм/(3 • 10 000) = 0,02 нм.

Так, например, различимы в спектре линии с длинами волн 600,00 и 600,02 нм и не различимы линии с длинами волн 600,00 и 600,01 нм

Выведем формулу дифракционной решетки для наклонного падения когерентных лучей (рис. 19.18,  — угол падения). Условия формирования дифракционной картины (линза, экран в фокальной плоскости) те же, что и при нормальном падении.

Проведем перпендикулярыА'В к падающим лучам и АВ' ко вторичным волнам, идущим под углом  к перпендикуляру, восставленному к плоскости решетки. Из рис. 19.18 видно, что к положению АВ лучи имеют одинаковую фазу, от АВ' и далее разность фаз лучей сохраняется. Следовательно, разность хода есть

 = ВВ'-АА'. (19.38)

Из  АА'В имеем АА = АВ sin  = с sin . Из ВВ'А находим ВВ' = АВ sin  = с sin . Подставляя выражения для АА и ВВ' в (19.38) и учитывая условие для главных максимумов, имеем

с (sin  - sin ) =  k. (19.39)

Центральный главный максимум соответствует направлению падающих лучей (= ).

Наряду с прозрачными дифракционными решетками используют отражательные, у которых штрихи нанесены на металлическую поверхность. Наблюдение при этом ведется в отраженном свете. Отражательные дифракционные решетки, изготовленные на вогнутой поверхности, способны образовывать дифракционную картину без линзы.

В современных дифракционных решетках максимальное число штрихов составляет более 2000 на 1 мм, а длина решетки более 300 мм, что дает значениеN около миллиона.