kristallokhimia

13)Пироэффект – изменение поляризации не проводящего или маслопроводящего электрического тока кристалла при изменении температуры. Поляризация – образование электр. диполей в результате различных причин. Полярное направление - направ.,противоположные концы которых не могут быть совмещены ни одной операцией данной группы. Единичное направление – не размножается симметрическими операциями. В группе не должно быть: I,C₂, сигма совмещающие концы направлений. {1,2,3,4,6 – m,mm2 ,3m,4mm,6mm} – полярные –гемиморфные(необязаны проявлять, но могут)-(сахар,турмолин, винш. к-та)!Симметрия полярного св-ва заложена в самом кр.! Пьезоэффект – изменения поляризации диэлектр. кристалла при деформации. Обратное явл. – деформация кр. под действием электр. поля. Все группы не содержат i; 4,3, не входят в список. – (кварц,сигнетова соль)

14)К.Ч. – число ближайших к данному атому(иону) соседних атомов(ионов) в структуре кр., независимо от того явл. они атомами того же сорта, что и центральный, или иного. При определении К.Ч. нужно: 1)связи центр. атома с атомами к сферы могут иметь различную прочность, природу,длину.2)атомы,окружающие центральный атом могут располагаться на разном расстоянии от него. Координационный полиэдр – мн-ник, в вершинах которого располагаются атомы из окружения центрального атома. Эти атомы иногда называют – лиганды. Правила: вершина -1/8,ребро – 1/4,грань – 1/2, внутри -1.

15) химическая связь — это взаимодействие атомов одного и того же или разных химических элементов, в процессе которого

происходит перестройка электронных оболочек связывающихся атомов с одновременным образованием единого электронного облака,сопровождающимся понижением энергии всей системы. И независимо от агрегатного состояния вещества химическая связь всегда электростатическая и может быть описана с помощью представлений о валентных электронах связанных атомов. Поскольку энергия взаимодействий атомов характеризуется большим диапазоном, химические связи между частицами в структурах принято делить на следующие типы: металлические, ионные, ковалентные, ван-дер-ваальсовы и водородные. Ионная связь – возник. Между атомами с низкой энергией отрыв.вал.электр.;осущ. за счет электростатического взаимодействия. Низкая тепло- и электропроводность, хрупкие соединения, невысок пл-ть,тв-ть; к.ч.(6,8)плотнейшие упаковки, высок симметрия. Ковалентная связь – возник. между одинак. атомами, осуществляется за сче того что мах. Е плотность находится между ядрами; к.ч.(4 –мах.), нет плотнейших упаков.; высок тв-ть, пл-ть, полупроводники. Ков. Полярная связь – промежуточный тип между ионной и ков. неполяр. связь. Металлическая связь – возник. м/д Ме. осущ. за счет делакализованной электр. пл-ти свобод. эл.; к.ч.(8,12), плотнейшие упаковки. высок ковкость, тепло – электропроводность. Сложно провести границу с ков.неполяр. св. ВДВ – между атомами инертных газов при низк. Т. орган. мол.; осущ. за счет диполь – дипольного взаимодействия.если молекула не облад. собственным диполь момент., то у них индуцуруется мгновенный диполь.; плотнейшие упаковки, низкая тв-ть, высок спайность, летучесть. Водород.связь – между атомами водорода и 2-мя Э.О. атомами. осущ. за счет мах. Расположения электронных плотностей между ядрами.

16)Координационная – атомы распределены равномерно по всему кристалл. пространству. (алмаз,галенит) Эти атомы е обр. конечных и бесконечных группировок между атомами. Островные – состоят из отдельных конечных группировок(пирит). Слоистые – состоят из слоев,внутри слоя один вид связи, между слоями другой вид связи(дисульфид толибдена). Цепочечные – состоят из цепочек (пироксен). Каркасные – трехмерная связь из атомных группировок и с большими пустотами(куприт). Изоструктурность. Изоструктурные кристаллы характеризуются: одинаковой пространственной группой, одинаковыми строго фиксированными позициями атомов с одинаковыми координатами, одинаковыми координационными числами. По теории плотнейших упаковок характеризуются: одинаковой пространственной группой, типом упаковки, пустотами.( Cu, Au, Ag, Pt – изоструктурные металлы) Кристаллич-е структуры, в кот-х одни и те же позиции заняты противоположными ионами, можно назвать антиизоструктурными (CaF2 и Li2O – антиизостр-е в-ва). Изотипия. Изотипные кристаллы характеризуются: одинаковыми координационными числами и координац-ми полиэдрами. Все изоструктурные вещества будут изотипными, т.е. изоструктурность можно рассматривать как частный случай изотипии. Но не все изотипные в-ва будут изоструктурными. Структуры одного класса характеризуются одинаковой пространственной группой.

17) Кристаллогенезис – возникновение, рост и разрушение кристаллов. Причины: энергетическая выгодность состояния, упорядоченное расположение частиц. Перекристаллизация – в-во переносится с более мелких на более крупные кр. Кристаллы образуются из растворов, тв. фазы, газов, расплавов. Факторами, влияющими на появление зародышей, являются не только переохлаждение и повышение концентрации раствора или вязкости расплава, но и присутствие посторонних обломков кристаллов или пылинок, на поверхности которых собираются частицы, упрощая этим начало кристаллизации. Механизмы: Они рассмотрели рост идеального кристалла при незначительном перенасыщении без учета несовершенств реальных кристаллов и влияния среды кристаллизации. В процессе роста возникают либо атомно-гладкие, либо атомно-шероховатые грани. В итоге кристаллы будут расти в идее многогранника. грани реальных кристаллов практически никогда не бывают идеальны. На их поверхности всегда имеются нарушения – дефекты. Вывод: по теории с правильными огранками при малых перенасыщениях, в природе наоборот.

18)Для описания кристалл. структур используется теория плотнейших шаровых упаковок.Анализ упрощает описание расположения атомов в структуре: - принцип мах. заполнения кристалл. пр-ва. Атомы – вид жестких шаров одинак. R. Упаковка – такое размешение в пространстве жестких сфер, при котором у них отсутствуют общие внутренние точки. Первый слой : пгс(плонейший гексагональныйслой)- С6v4;ПТС (плотный тетрагональный слой) – С4v. Последудущие слои упаковки, могут быть уложены по разному, что определяется бесконечное число лписываемых структур. Второй слой : ПГС + 2 слой на шарах=ГПК(гексагональная плотная кладка)-Р6/ммм; ПТС + 2 слой на шарах = Кубическая плотная кладка(КПК) – Рм3м.; ПГС + 2 слой в лунках = плотнейшая шаровая упаковка(2 варианта); ПТС + 2 слой в лунках = плотнейшая шаровая кладка. Третий слой: ПГС+2 слой в лунках+ 3 слой шаров над 1 слоем = ГПУ(гексанальная плотнейшая упаковка); ПТС+2 слой в лунках+3 слой шаров над 1ым=ОЦК(объемноцентррированная кубическая кладка)- /м3мм. ПГС +2 слой в лунках+3 слой шаров в лунках = КПК(кубическая плотнейшая упаковка)илиГЦК(гранецентрированная кубическая упаковка) – Fm3m.

19)Морфотропия – скачко-образное изменение кристалл. структуры в-ва, при закономерном изменении хим. Состава в ряду сходных изменений. Для одного соед. хар. Две структурных формы – явление автоморфотропия. LiCl -> NaCl -> KCl -> RbCl -» CsCl.

ru=0,76A rN a=l,02A rK=l,38A rRl, =1,52A rC s=l,72A

Полиморфизм – св-ва в-в одинаковых хим.состава,образовывать минералы с разными структурами. автоморфотропия – частный случай. Полиморфизм объясняется тем, что одни и те же атомы вещества могут образовывать различные устойчивые кристаллические решётки. При повышении температуры более прочная кристаллическая решётка низкотемпературной модификации может характеризоваться меньшей энтропией за счёт того, что она менее восприимчива к возбуждению тепловых колебаний, поэтому другая модификация, характеризующаяся более крутой зависимостью энергии Гиббса от температуры, становится более выгодной. Если перестройка структуры совершается быстро, то внешняя форма кристалла «не успевает» за изменением структуры и остается неизменной— образуется параморфоза.

Изоморфизм – свойство элементов заменять друг друга в хим. соед., родственного состава, образуя смешанные кристаллы, не зависимо от того, одинаковы или различны структуры имеют исходные компоненты. Явление обусловлено близостью объемных размеров структурных единиц и их хим. природы. Изоморфизм возникает тогда когда радиус ионов близок по величине,а заряд одинаков по знаку. Тв. р-р – гомогенная смесь двух или более в-в, находящихся в кристалл. состоянии. Изо – 1 минерал, разный состав. Поли – один состав – разные минералы. Основным строительным элементом в кристаллических структурах являются атомы, и их размеры — радиусы.R атома можно описать: - с точки зрения квантово-механической позиции, - на основезнания велечин межатомного расстояния. Орбитальный R – радиус индивидуального атома, представляет собой расстояние от ядра до мах. Электронной плотности волновой ф-ции. Фи- волновая ф-ция, описывает поведение электронов в атоме. р – электронная плотность, описывает плотность вероятности нахождения электрона в любой точке пр-ва, определяется через волновую ф-цию. Кристаллохимический радиус – радиус взаимодействия атомов, определяется через величину межатомного расстояния. Атомные. Отличаются видом хим. связи, зависят от окружения(КЧ,КП…): Ковалентные,Металлические; Ионные радиусы – классические радиусы,пользуясь правилом сложения, зная величину одного найдем второй.(методы Ланде, Полинг, ….) Ионные физ. радиусы- расстояния от ядер атомов до минимума ф-ции на линии связи. ВДВ R – сложно определить. С min. Ошибкой можно получить для атомов инертных газов. Межатомное расстояние можно получить: - экспериментально, - теоритически.

20)Дифракционные методы: - рентгенно-струкнурный анализ(один из дифракционных методов исследования структуры вещества. В основе данного метода лежит явление дифракции рентгеновских лучей на трехмерной кристаллической решётке.); рентрегено – фазовый анализ(Целью рентгенофазового анализа является идентификация вещества в смеси по набору его межплоскостных расстояний (d) и относительным интенсивностям (I) соответствующих линий на рентгенограмме. Для этого, согласно закону Брегга — Вульфа, необходимо определение углов отражения θ.); нейтронографический анализ(Дифракционным методом является также нейтронография, в основе которой лежит рассеяние нейтронов на ядрах атомов, в отличие от первых двух методов, где используется рассеяние на электронных оболочках.); электронографический(С помощью газовой электронографии определяют геометрию свободных молекул в газах, то есть молекул, не подверженных влиянию соседних молекул, как это имеет место в кристаллах.)

21) рентгеноструктурный анализ в кристаллохимии. Уравнение ВульфА-Брегков. Базы структурных данных.

Этот анализ позволяет не только установить качественное и количественное содержание элементов на микроучастие шлифа или анилифа, но и исследовать распределение данного элемента вдользаданного направления в шлифе , а с помощью растровых микроанализаторов получить сведения о строении поверхности изучаемого объёма. Дельта=2dsinQ=Nлямбда (ф-ла в-б) базы структурных данных сама наука служит сбору информации структур. Предств.в электронном виде,справочном(библиотека)каталоги. Но в данное время удобнее пользоваться электронным видом т.к. есть интернет. В основном на англ.языке . определяет рентгенограмму. База данных даёт нам вещество. Польза. Простейшая-справочник.

22)Метод Лауэ(монокристальный сп.): монокристалл не подвижен; Х-спеектор сплошной; подходит для предварительных стадий исследования; дифракционные пятна на пленке(лауэграмме) сгруппированы по эллипсам, параболам, прямым; дает информацию о симметрии кристалла, егокачестве,двойниках; метод полезен для ориентировки кристалла, не поз-воляет определить параметры ячейки. Метод вращения-качения – исследует вращающиеся и раскачивающие кристаллы; использует характерестическое Х-излучение(монохроматическое); дает информация о параметрах ячейки. Метод порошка(Дебая – Шеррера - Халла) – исследует в-ва в поликристаллическом состоянии; исполуют характеристическое Х-излучение; необходимо малое количество образа; позволяет определить хим. состав и фазовое состояние соединений, параметры элементарных ячеек, симметрию, кристаллическую структуру; пленку распрямляют – получают дебая-грамму. Совокупность дифракционных лучей рассматриваемых систем параллельных плоскостей образующих угол 2Ф с первичным пучком – даст конус с углом раствора 4Ф.4Ф=2S – диаметр кольца; 360 – пd – рентгеновской камеры. рентрегено – фазовый анализ - Целью рентгенофазового анализа является идентификация вещества в смеси по набору его межплоскостных расстояний (d) и относительным интенсивностям (I) соответствующих линий на рентгенограмме. Для этого, согласно закону Брегга — Вульфа, необходимо определение углов отражения θ. Основной задачей рентгенофазового анализа (РФА) является идентификация различных фаз в их смеси на основе анализа дифракционной картины, даваемой исследуемым образцом. Определение вещества в смеси проводится по набору его межплоскостных расстояний и относительным интенсивностям соответствующих линий на рентгенограмме. Когерентно рассеянные рентгеновские лучи интерферируют между собой, при этом дифракционной решеткой для рентгеновского излучения служит кристаллическая решетка, поскольку межплоскостные расстояния в кристалле сравнимы с длиной волны излучения. Обучение рентгенофазовому анализу обычно начинается с промера рентгенограмм кубических веществ, на рентгенограммах которых легко различаются а- и р-линии, это позволяет приобрести навык в оценке интенсивностей. Ошибки в оценке интенсивностей существенны только тогда, когда они являются очень грубыми (например, когда а- и р-линии от одного и того же d оцениваются, соответственно, как очень яркая и яркая и т. д.). Следует также подчеркнуть, что при сравнении полученных данных с табличными надо учитывать ряд факторов, влияющих на интенсивность при разных способах съемки (подробнее этот вопрос рассмотрен ниже). Значительно проще определение интенсивностей линий по дифрактограммам. Интегральная интенсивность линии пропорциональна ее площади. Ширина линий до θ = 30—35° остается практически постоянной, поэтому интегральная интенсивность будет пропорциональна максимальной интенсивности. Для определения максимальной интенсивности достаточно измерить высоту линии над фоном. Рентгеновский дифрактометр, прибор для измерения интенсивности и направления рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте. Р. д. применяется для решения различных задач рентгеновского структурного анализа. Он позволяет измерять интенсивности дифрагированного в заданном направлении излучения с точностью до 10-х долей процента и углы дифракции с точностью до 10-х долей минуты. С помощью Р. д. можно производить фазовый анализ поликристаллических объектов и исследование текстур, ориентировку монокристальных блоков, получать полный набор интенсивностей отражений от монокристалла, исследовать структуру многих веществ при различных внешних условиях и т.д.

23) Электронография – методы рентгенографии позволяют определить области максимальной плотности, поскольку рассеяние происходит на электронах атомной оболочки. Проникающая способность электронов ниже, чем у Х-излучения; исследуются поверхностные слои; взаимодействие с веществом больше; длина волны пучка электронов на два порядка меньше; позволяет исследовать молекулы в газах. – газовая электронография – можно исследовать структуры состоящие одновременно из легких и тяжелых атомов. Нейтронография – проникающая способность нейтронов высока(мало взаимодействует с в-вом); нейтроны сильно взаимодействуют с ядрами водорода, следовательно можно определить положение атомов водорода; нельзя получить картинку электронной плотности, но зато можно определить положение атомных ядер; можно исследовать структуры, состоящие одновременно из легких и тяжелых атомов; получение сведений о расположении магнитных моментов в атомах; по разрешающей способности уступает рентренографии. Дифракционные методы: рентгенно-струкнурный анализ(один из дифракционных методов исследования структуры вещества. В основе данного метода лежит явление дифракции рентгеновских лучей на трехмерной кристаллической решётке.); рентрегено – фазовый анализ(Целью рентгенофазового анализа является идентификация вещества в смеси по набору его межплоскостных расстояний (d) и относительным интенсивностям (I) соответствующих линий на рентгенограмме. Для этого, согласно закону Брегга — Вульфа, необходимо определение углов отражения θ.); нейтронографический анализ(Дифракционным методом является также нейтронография, в основе которой лежит рассеяние нейтронов на ядрах атомов, в отличие от первых двух методов, где используется рассеяние на электронных оболочках.); электронографический(С помощью газовой электронографии определяют геометрию свободных молекул в газах, то есть молекул, не подверженных влиянию соседних молекул, как это имеет место в кристаллах.) Рентгеноспектральный анализ — инструментальный метод элементного анализа, основанный на изучении спектра рентгеновских лучей прошедших сквозь образец или испущенных им (рентгенофлуоресцентный анализ). В основном, применяется рентгенофлуоресцентный анализ. Он основан на том, что при возбуждении у атома удаляются электроны из внутренних оболочек. Электроны из внешних оболочек перескакивают на вакантные места, высвобождая избыточную энергию в виде кванта рентгеновского диапазона или передавая ее другому электрону из внешних оболочек . По энергиям и количеству испущенных квантов судят о количественном и качественном составе анализируемого вещества. В качестве источников возбуждения применяют рентгеновское излучение (первичное излучение). Для анализа спектра вторичного излучения применяют либо дифракцию рентгеновских лучей на кристалле (волновая дисперсия), либо используют детекторы, чувствительные к энергии поглощенного кванта (энергетическая дисперсия). Приборы для проведения рентгеноспектрального микроанализа бывают самостоятельными либо сопутствующими в виде приставок в других приборах. Рентгенофлуоресцентные спектрометры используют для определения элементного состава вещества.

Условие Вульфа — Брэгга определяет направление максимумов дифракции упруго рассеянного на кристалле рентгеновского излучения. Выведено в 1913 независимо У. Л. Брэггом и Г. В. Вульфом. Имеет вид: nЛ=2dsinФ, где d — межплоскостное расстояние, θ — дифракционный угол , n — порядок отражения, λ — длина волны. Условие Вульфа-Брэгга позволяет определить межплоскостные расстояния d в кристалле, так как λ обычно известна, а углы θ измеряются экспериментально. Условие Вульфа-Брэгга является исходным пунктом исследований в рентгеновском структурном анализе, рентгенографии материалов, рентгеновской топографии. Условие Вульфа-Брэгга остаётся справедливым при дифракции γ-излучения, электронов и нейтронов в кристаллах, при дифракции в слоистых и периодических структурах излучения радио- и оптического диапазонов, а также звука

24. Спектроскопические методы исследования внутренней структуры кристаллов. Сравнительная характеристика методов. 1) Электронный парамагнитный резонанс. Открыт в 1944 г. Завойским. Заключается в способности парамагнитных кристаллов поглощать высокочастотную энергию за счёт переходов между спиновыми уровнями электронов. ЭПР может наблюдаться только в минералах, содержащих атомы с неспаренными спинами электронов. Условие ЭПР: переход с нижнего подуровня на верхний возможен при облучении парамагнитного кристалла радиочастотным полем, если Е кванта последнего = интервалу между энергетическими подуровнями. Помещая вещество, содержащее неспаренные электроны, одновременно в магнитное и радиочастотное поля, а затем плавно изменяя параметры последних, можно добиться выполнения резонансных условий. ЭПР – явление, обусловленное квантовыми переходами, происходящими между энергетическими уровнями под влиянием радиочастотного поля резонансной частоты. С помощью ЭПР можно установить в минералах примеси парамагнитных ионов переходных элементов группы Fe, Pd, Pt TR. 2) Ядерный магнитный резонанс. Состоит в резонансном поглощении энергии радиочастотного поля при изменении магнитного момента ядра. По сути подобен ЭПР, но поскольку магнитные моменты электронов и ядер различаются примерно в 200 раз, то в таком соотношении находятся и частоты используемого радиоизлучения в этих двух методах. Это объясняет более тонкий эффект ЯМР по сравнению с ЭПР. Взаимодействие магнитного момента ядра с внешним магнитным полем приводит к расщеплению энергетических уровней на ядерные подуровни, переходы между которыми вызывают резонансное поглощение энергии, регистрируемое в виде одиночной линии. Исследования ЯМР позволяют обнаружить парамагнитные сведения о структурном положении атомов, их координации, симметрии и силе кристаллических полей, действующих на атом, установить структурное положение атомов водорода в кристаллах, ориентацию водородных связей, динамику их поведения в структурах. 3) Инфракрасная спектроскопия. Метод, основанный на анализе спектров поглощения или отражения, возникающих при взаимодействии инфракрасного излучения с молекулами и атомами кристаллического вещества. Падая на твёрдое тело, ИК-лучи частично отражаются, частично проходят через него. Измеряя зависимость коэф-в пропускания и отражения от длины волны, можно получить для вещества ИК-спектры либо отражения, либо пропускания, явл-ся характеристикой минерала и могущие служить для диагностики или изучения его строения. Позволяет диагностировать минералы, определять степень кристалличности вещества, выявлять наличие атомных группировок, определять форму вхождения воды в структуру минерала, изучать фазовые превращения веществ при нагревании, характер примесей и др. 4) Ядерный гамма-резонанс. Эффект Мессбауэра. 1958г. Открытие резонансного испускания и поглощения γ-квантов ядрами изотопов. В качестве резонансных систем используются ядра изотопов, атомы которых жёстко связаны между собой в кристаллической структуре. Переход ядра изотопа из возбуждённого состояния в основное сопровождается испусканием γ-кванта. При прохождении γ-кванта через вещество, содержащие аналогичные ядра, может происходить их резонансное поглощение, в результате чего ядра поглотителя переходят из основного состояния в возбуждённое. Величина эффекта зависит от числа резонирующих ядер, структурных характеристик кристалла и температуры измерения. С помощью методов ЯГР можно определять степень окисления и КЧ атомов Fe в минералах, дефектность кристаллических структур, изучать изоморфизм в минералах, их магнитную структуру и др. 5) Рамановская спектроскопия. Спектроскопия комбинационного рассеяния). Активными колебаниями для рамановской спектроскопии являются те, которые запрещены для ИКС. Разработка такого метода стала возможной после создания мощных монохроматических источников света типа лазеров. Раман установил, что на спектрограмме кроме линий релеевского рассеяния света появляются ещё 2 линии (справа и слева), несущие инф-ю о строении отдельных молекул и группировок, входящих в крист-е структуры вещ-в и жидкостей. 6) Оптическая спектроскопия. Изучает оптически активные методы окраски и плеохроизм минералов. Спектроскопические характеристики обусловлены особенностями состава и строения кристаллов на атомно-электронном уровне. Основной задачей метода является установление природы и объяснение кристаллохимических моделей оптически активных центров, селективно поглощающих излучение оптического диапазона электромагнитного спектра. Большинство оптически активных центров (разновалентные ионы d- и f- элементов, создающие в структурах минералов различные координационные комплексы) в структурах минералов поглощает электромагнитное излучение видимого диапазона, что в той или иной степени обуславливает окраску минералов. В этом случае они рассматриваются в качестве центров окраски. В этой связи оптическая спектроскопия является основным методом исследования природы свойств минералов - окраска и плеохроизм. Позволяет устанавливать валентное состояние и положение таких центров, оценивать для ионов переходных металлов характер взаимодействия типа Ме-лиганд и Ме-Ме и др.7) Рентгеноспектральные методы анализа. Рентгеновский микроанализатор. РМА основаны на использовании линейчатого характеристического спектра для определения химического состава изучаемых объектов. Линии на рентгеноспектрограмме обусловлены элементами, входящими в состав образца, играющего роль анода рентгеновской трубки. Рентгеноспектральный метод предложен в 1951г. Кастеном, Боровским и Блохиным. При анализе используется очень узкий пучок катодных лучей. Этот анализ позволяет установить кач. И колич. Содержание элементов на микроучастке тонкой отполированной пластинки горной породы или минерала (шлифа) и аншлифа (непрозрачный шлиф), исследовать распределение этого элемента вдоль заданного направления, а с помощью растровых микроанализаторов получить сведения о строении поверхности изучаемого объёма. Резонансные радиочастотные методы основаны на квантовых переходах между энергетическими уровнями парамагнитных атомов и ионов, входящих в состав веществ, при воздействии на них магнитного поля резонансной частоты.

23)

***

Изоструктурность. Изоструктурные кристаллы характеризуются: одинаковой пространственной группой, одинаковыми строго фиксированными позициями атомов с одинаковыми координатами, одинаковыми координационными числами. По теории плотнейших упаковок характеризуются: одинаковой пространственной группой, типом упаковки, пустотами.( Cu, Au, Ag, Pt – изоструктурные металлы) Кристаллич-е структуры, в кот-х одни и те же позиции заняты противоположными ионами, можно назвать антиизоструктурными (CaF2 и Li2O – антиизостр-е в-ва). Изотипия. Изотипные кристаллы характеризуются: одинаковыми координационными числами и координац-ми полиэдрами. Все изоструктурные вещества будут изотипными, т.е. изоструктурность можно рассматривать как частный случай изотипии. Но не все изотипные в-ва будут изоструктурными. Структуры одного класса характеризуются одинаковой пространственной группой.